Соль производного пирролидин-3-ил-уксусной кислоты и ее кристаллы - заявка 2015138393 на патент на изобретение в РФ

1. Соль органической карбоновой кислоты и 2-[(3S,4R)-1-{[2-хлор-6-(трифторметил)фенил]метил}-3-{[1-(циклогекс-1-ен-1-илметил)пиперидин-4-ил]карбамоил}-4-метилпирролидин-3-ил]уксусной кислоты.
2. Соль по п. 1, отличающаяся тем, что органическая карбоновая кислота представляет собой L-миндальную кислоту.
3. Соль по п. 1, отличающаяся тем, что органическая карбоновая кислота представляет собой L-молочную кислоту.
4. Кристалл соли органической карбоновой кислоты и 2-[(3S,4R)-1-{[2-хлор-6-(трифторметил)фенил]метил}-3-{[1-(циклогекс-1-ен-1-илметил)пиперидин-4-ил]карбамоил}-4-метилпирролидин-3-ил]уксусной кислоты.
5. Кристалл по п. 4, отличающийся тем, что органическая карбоновая кислота представляет собой L-миндальную кислоту.
6. Кристалл по п. 4, отличающийся тем, что органическая карбоновая кислота представляет собой L-молочную кислоту.
7. Кристалл по п. 5, отличающийся тем, что он имеет дифракционный пик при угле дифракции (2θ±0,2°), равном 7,2°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
8. Кристалл по п. 7, отличающийся тем, что он имеет дополнительные дифракционные пики при углах дифракции (2θ±0,2), равных 14,4° и 15,7°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
9. Кристалл по п. 8, отличающийся тем, что он имеет дополнительные дифракционные пики при углах дифракции (2θ±0,2), равных 10,3° и 23,5°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
10. Кристалл по п. 9, отличающийся тем, что он имеет дополнительные дифракционные пики при углах дифракции (2θ±0,2°) равных 12,9°, 14,9°, 17,2°, 20,1° и 24,7°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
11. Кристалл по п. 5, отличающийся тем, что он имеет пики при химических сдвигах (м.д.), равных 14,1, 52,9, 75,2, 144,7 и 174,0, в твердотельном спектре ЯМР 13С.
12. Кристалл (А) по п. 6, отличающийся тем, что он имеет дифракционный пик при угле дифракции (2θ±0,2°), равном 6,9°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
13. Кристалл (А) по п. 12, отличающийся тем, что он имеет дополнительные дифракционные пики при углах дифракции (2θ±0,2), равных 15,7° и 17,1°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
14. Кристалл (В) по п. 6, отличающийся тем, что он имеет дифракционный пик при угле дифракции (2θ±0,2°), равном 6,8°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
15. Кристалл (В) по п. 14, отличающийся тем, что он имеет дополнительные дифракционные пики при углах дифракции (2θ±0,2), равных 13,7° и 16,8°, при анализе методом рентгеновской порошковой дифрактометрии.
Наверх