Устройство и способ формирования изображений распределения электрического импеданса с высоким разрешением - заявка 2016135618 на патент на изобретение в РФ

1. Способ формирования изображений распределения электрического импеданса, включающий:
использование матрицы точек измерения, задаваемых системой электродов в первой позиции, причем система электродов задает относительное смещение точек измерения; и
использование отличающейся матрицы точек измерения, задаваемых той же самой системой электродов по меньшей мере в отличающейся, второй позиции.
2. Способ по п. 1, в котором систему электродов задают мозаичной единичной ячейкой электродов.
3. Способ по п. 2, в котором единичную ячейку задают первым базисным вектором и вторым базисным вектором и четырьмя позициями электродов (0, 0), (1, 0), (0, 1), (1, 1) в координатном пространстве, задаваемом первым базисным вектором и вторым базисным вектором, а матрицу точек измерения задают мозаичными позициями электродов.
4. Способ по п. 3, в котором первый базисный вектор и второй базисный вектор имеют одинаковую величину, но различные направления.
5. Способ по любому из предыдущих пунктов, в котором отличающиеся матрицы точек измерения задают одной и той же системой электродов при различных позиционных смещениях.
6. Способ по п. 5, в котором различные позиционные смещения задают путем поворота.
7. Способ по п. 5, в котором различные позиционные смещения задают путем различных параллельных переносов.
8. Способ по п. 7, в котором различные позиционные смещения задают путем различных линейных параллельных переносов, причем каждый различный линейный параллельный перенос задают частью первого базисного вектора и частью второго базисного вектора, причем первый базисный вектор и второй базисный вектор задают единичную ячейку электродов, которую размещают в виде мозаики для формирования системы электродов.
9. Способ по п. 8, в котором N2 различных позиционных смещений задают путем последовательного деления первого базисного вектора на N первых подчастей и последовательного деления второго базисного вектора на N вторых подчастей и определения линейного параллельного переноса путем линейной комбинации одной или более первых подчастей и одной или более вторых подчастей.
10. Способ по п. 9, в котором первые подчасти и вторые подчасти имеют равную величину.
11. Способ по любому из предыдущих пунктов, в котором система электродов является подмножеством матрицы электродов, и позицию системы электродов изменяют путем изменения подмножества матрицы электродов.
12. Способ по п. 11, в котором система электродов имеет фиксированное расположение точек измерения, причем каждая точка измерения имеет фиксированную позицию относительно других точек измерения, и матрицу точек измерения изменяют путем изменения позиции системы электродов в пределах матрицы электродов без изменения физической позиции матрицы электродов.
13. Способ по любому из пп. 1-10, в котором существует взаимнооднозначное соответствие между матрицей электродов и матрицей точек измерения.
14. Способ по любому из пп. 1-10 или 13, в котором систему электродов задают электродами матрицы электродов, и позиционирование системы электродов представляет собой физическое позиционирование матрицы электродов.
15. Способ по п. 14, в котором матрица электродов представляет собой фиксированное расположение электродов, которые имеют фиксированное взаимное положение относительно друг друга.
16. Способ по любому из предыдущих пунктов, в котором использование матрицы точек измерения включает:
подачу входного электрического сигнала на пару точек измерения; и
прием выходного электрического сигнала по меньшей мере от некоторых других точек измерения.
17. Способ по п. 16, в котором использование матрицы точек измерения включает повторное выполнение:
подачи входного электрического сигнала на пару точек измерения;
приема выходного электрического сигнала от подмножества других точек измерения; и
изменения пары входных точек измерения и/или изменения подмножества выходных точек измерения.
18. Способ по любому из предыдущих пунктов, также включающий использование измерений электрического импеданса, выполняемых с использованием множества различных матриц точек измерения, задаваемых многочисленными различными позициями системы электродов, для создания изображения распределения электрического импеданса.
19. Способ по п. 18, в котором создаваемое изображение распределения электрического импеданса имеет более высокое разрешение, чем разрешающая способность системы электродов.
20. Устройство, содержащее средство для выполнения способа по любому из пп. 1-19.
21. Устройство, содержащее:
по меньшей мере один процессор; и
по меньшей мере одно запоминающее устройство, содержащее код компьютерной программы,
причем по меньшей мере одно запоминающее устройство и код компьютерной программы сконфигурированы так, чтобы с помощью по меньшей мере одного процессора заставлять устройство выполнять способ по любому из пп. 1-19.
22. Компьютерная программа, которая, когда выполняется на компьютере, выполняет способ по любому из пп. 1-19.
Наверх