Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопов - заявка 2016146335 на патент на изобретение в РФ

Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопов (далее - образец), заключающийся в том, что на выбранном участке предварительно выполняют отверстие диаметра, меньшего по сравнению с размером искусственного дефекта, в это отверстие вводят химическое вещество, воздействующее на материал образца, и вытравливают полость, имитирующую искусственный подповерхностный дефект, отличающийся тем, что, с целью обеспечения точности размеров и конфигурации воспроизводимого искусственного подповерхностного дефекта, изготавливают форму заданной конфигурации и размеров из тугоплавкого материала, вносят первый слой расплавленного материала образца, определяют размер толщины первого слоя (H1), на поверхность первого слоя устанавливают модель искусственного дефекта известной конфигурации и размера (d), затем вносят второй слой расплавленного материала образца, и определяют размер толщины второго слоя (H2), образец извлекают из формы, и рассчитывают размер от свободной поверхности второго слоя образца h2 до искусственного дефекта по формуле h2=H2-d, а размер h1 от свободной поверхности первого слоя образца до искусственного дефекта рассчитывают по формуле h1=H1.
Наверх