Патенты автора КАВЕШНИКОВ ЕВГЕНИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретение относится к неразрушающему контролю качества полупроводниковых приборов (ПП) и интегральных микросхем (ИМС) и может-быть использовано для отбраковки ПП и ИМС со скрытыми дефектами
Изобретение относится к неразрушающим ультразвуковым методам контроля дефектов изделий
Изобретение относится к автоматике и может быть использовано для диагностики полупроводниковых приборов
Изобретение относится к акустическому контролю и может быть использовано для диагностики нагружаемых .до разрушения изделий
Изобретение относится к испытательной технике
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в системах диагностики