Ультразвуковой теневой способ контроля дефектов изделий

 

Изобретение относится к неразрушающим ультразвуковым методам контроля дефектов изделий. Цель изобретения - повышение точности определения расстояния до дефектов, плоскость которых неперпендикулярна оси прозвучивания. В изделии возбуждают ультразвуковые колебания, принимают прошедшие изделие колебания, измеряют величины интенсивности прошедших колебаний при двух различных расстояниях между излучающим и приемным преобразователями, определяют первоначальное расстояние до дефекта, а затем в процессе сканирования изделия определяют изменение интенсивности ультразвуковых колебаний и по расчетной формуле вычисляют изменение расстояния до дефекта , с учетом которого определяют истинное расстояние до дефекта. 1 ил.

СОГОЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)э G 01 N 29/08

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ х— (61) 1436061 (21) 4644208/28 (22) 30.01.89 (46) 07.01.91. Бюл. М 1 (72) Е.А.Кавешников, С,Н.Ермаков, И.Н.Сумец и В.А.Ещевко (53) 620.179.16(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

hh 1436061, кл. G 01 N 29/04, 1987. (54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ТЕНЕВОЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразрушающим ультразвуковым методам контроля дефектов изделий. Цель изобретения— повышение точности определения расстояИзобретение относится к акустическим методам неразрушающего контроля и является усовершенствованием изобретения по авт.св. 1Ф 1436061.

Целью изобретения является повышение точности определения расстояния до дефектов, плоскость которых неперпендикулярна оси прозвучивания.

На чертеже показана схема контроля дефектов в изделии в соответствии с предлагаемым способом.

На схеме показаны излучающий преобразователь 1 и установленный с ним соосно приемный преобразователь 2, между которыми размещено контролируемое изделие 3 с дефектом 4, плоскость которого неперпендикулярна оси прозвучивания. Блок 5 регистрации подключен к приемному преобразователю 2.

Способ осуществляют следующим образом.

В изделие 3 в процессе сканирования вводят ультразвуковые колебания (УЗК) с

„„5LJ „„1619166 А2 ния до дефектов, плоскость которых неперпендикулярна оси прозвучивания. В иэделии возбуждают ультразвуковые колебания, принимают прошедшие изделие колебания, измеряют величины интенсивности прошедших колебаний при двух различных расстояниях между излучающим и приемным преобразователями, определяют первоначальное расстояние до дефекта, а затем в процессе сканирования изделия определяют изменение интенсивности ультразвуковых колебаний и по расчетной формуле вычисляют изменение расстояния до дефекта, с учетом которого определяют истинное расстояние до дефекта. 1 ил. помощью излучающего преобразователя 1, находящегося первоначально нэ расстоянии R< от приемного преобразователя 2, и принимают последним 2 УЗК, прошедшие через изделие 3, измеряют их интенсивность 1О с помощью блока 5 регистрации.

При обнаружении дефекта 4 по уменьшению интенсивности, фиксируют значение

Ii последней и перемещают приемный преобразователь 2 вдоль нап равления распространения УЗК так, чтобы расстояние между преобразователями 1 и 2 становилось равным Вр. Измеряют интенсивность 1 УЗ К, прошедших через изделие 3. на таком расстоянии и определяют первоначальное расстояние х между преобразователем 1 и дефектом 4 иэ выражения

1619166

После этого приемный преобразователь 2 возвращают на исходную позицию на расстояние R> от излучающего преобразователя 1. Затем после определения первоначального расстояния х до дефекта в 5 процессе продольного сканирования изделия 3 измеряют изменение Ь! интенсивности ультразвуковых колебаний при смещении иэделия 3 относительно излучающего 1 и приемного 2 преобразователей 10 на некоторое расстояние и рассчитывают изменение Ь х расстояния до дефекта по формуле где R< — первоначальное расстояние между излучающим и приемным преобразователями; 1p — интенсивность принятых ко- 20 лебаний, прошедших через изделие без дефекта; Iz — интенсивность принятых колебаний при первоначальном расстоянии х до дефекта, Истинное расстояние1до дефекта с уче- 25 том рассчитанного изменения Лх определяется по формуле

1=x+Ax

Если в процессе сканирования изделия

3 определить расстояние 1 до дефекта, то можно определить пространственное положение этого дефекта и его размеры в контролируемом изделии 3.

Формула изобретения

Ультразвуковой теневой способ контроля дефектов иэделий по авт.св. N 1436061, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения расстояния дефектов, плоскость которых неперпендикулярна оси прозвучивания, после определения первоначального расстояния х до дефекта в процессе продольного сканирования изделий дополнительно определяют изменение Ь! интенсивности ультразвуковых колебаний и изменение Лх расстояния до дефекта, вызванные относительным продольным перемещением иэделия и преобразователей в результате его сканирования, расстояние i до дефекта определяют по формуле

1=x+h,х, а изменениеьх расстояния по формуле где R1 — первоначальное расстояние между излучающим и приемным преобразователями; Ip- интенсивность принятых колебаний, прошедших через иэделие без дефекта; lz— интенсивность принятых колебаний при первоначальном расстоянии х до дефекта.

161 Q166

Составитель С,Волков

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор С.Шекмар

Редактор И.Горная

Заказ 43 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

0m гвчералюра

УЗ-кулебаииу

8леюие ЛЬжещя )03080 ПВЛЕУ О РНОСИо олУглию ление дЬижения излив огпевьнопреоброзЯа