Патенты автора Сидоров Михаил Иванович (RU)

Изобретение относится к области электротехники, в частности к эпоксидным низковязким, агрессивостойким заливочным компаундам. Полимерный герметизирующий состав может быть использован для электроизолирования и упрочнения путем заливки, для герметизации и защиты от механических воздействий электронных устройств с плотно упакованными элементами, в частности внутритрубных инспекционных приборов. Изобретение относится к двухкомпонентному полимерному герметизирующему составу, содержащему эпоксидную диановую смолу, диглицидиловый эфир 1,4-бутандиола и фенилглицидиловый эфир, причем в качестве отвердителя аминного типа используется ароматический олигоамид типа ЭТАЛ и диэтиламинометилтриэтоксисилан. Снижение начальной вязкости герметизирующего состава по изобретению позволяет использовать его для электроизолирования и упрочнения путем заливки. Также состав обладает стойкостью к воздействию агрессивных сред, включая среды с повышенным содержанием сероводорода. 2 з.п. ф-лы, 7 табл., 2 пр.

Изобретение относится к технологии эксплуатации магистральных трубопроводов и может быть использовано в нефтяной и газовой промышленности. Устройство запасовочное состоит из сборного корпуса, содержащего ложемент и крышку. В полости стыка имеются крепежные отверстия. Внутренний диаметр сборного корпуса равен номинальному внутреннему диаметру инспектируемого трубопровода. На наружной поверхности сборного корпуса имеются опоры, предназначенные для установки проставочных платиков, компенсирующих разницу между диаметром устройства и внутренним диаметром камеры запуска. На задней части ложемента расположена глухая силовая перегородка с закрепленным на ней стаканом. На передней части ложемента и крышки установлены насадки для упора в переходный конус камеры запуска, не оборудованной запасовочными вантузами. Внутри ложемента и крышки имеются два полукольца, выступающие внутрь. Технический результат: проведение запасовки в камеру запуска, не оборудованную запасовочными вантузами, исключение застопоривания, перекосов и заклинивания многосекционных дефектоскопов. 2 ил.

 


Наверх