Патенты автора Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU)
Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использован при создании аналитических приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Технический результат- повышение разрешающей способности за счет использования областей общей диаграммы стабильности с повышенной эффективностью сортировки заряженных частиц по удельным зарядам. Высокая чувствительность достигается тем, что при разрешениях несколько сот тысяч удалось найти условия, при которых число избранных ионов, удерживаемых в объеме анализатора, достигает 40%. Анализируемые заряженные частицы вводят в анализатор масс-спектрометра, сортируют по удельным зарядам путем воздействия на них импульсным высокочастотным с постоянной составляющей электрическим полем, заставляя ионы с избранным удельным зарядом совершать движение по "базовым траекториям", а ионы с отличным от избранного значения удельным зарядом выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в объеме анализатора ионы с избранным значением удельного заряда направляют в измерительное устройство. Рабочую точку ионов с избранным удельным зарядом на общей диаграмме стабильности путем подбора параметров электрического поля размещают на прямой, перпендикулярной оси общей диаграммы стабильности, проходящей через точку пересечения этой оси с границей зоны стабильности, соответствующей значению параметра стабильности β0=-1, при этом по другой координатной оси рабочую точку располагают в одной из стабильных областей общей диаграммы стабильности. 5 ил.
Изобретение относится к области масс-спектрометрии
АНАЛИЗАТОР ПРОЛЕТНОГО КВАДРУПОЛЬНОГО МАСС-СПЕКТРОМЕТРА (ТИПА ФИЛЬТР МАСС, "МОНОПОЛЬ" И "ТРИПОЛЬ") // 2447539
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при создании приборов с высокой разрешающей способностью и чувствительностью
Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке приборов данного вида с высокой чувствительностью и разрешающей способностью
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании масс-спектрометров типа «ионная ловушка» с высокими разрешением и чувствительностью
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании масс-спектрометров типа «ионная ловушка» с высокими разрешением и чувствительностью
