Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении и контроле диэлектрических характеристик материалов , в том числе и тонких пленок
Изобретение относится к области злектроизмерений и может быть использовано рри измерении комплексной магнитной проницаемости материалов в злектрои радиотехнике