Патенты принадлежащие Федеральное государственное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГУ ТИСНУМ) (RU)
Изобретение относится к технике контроля материалов и изделий и может быть использовано для измерения параметров рельефа поверхности и механических характеристик материалов с субмикронным и нанометровым пространственным разрешением.
Изобретение относится к области соединения разнородных материалов, в частности к способу соединения монокристаллов алмаза с металлами, и может быть использован для создания различного рода однокристального обрабатывающего инструмента, медицинского инструмента, для создания на поверхности полупроводниковых и иных алмазов электрических контактов с металлом.
УСТРОЙСТВО ВЫСОКОГО ДАВЛЕНИЯ И ТЕМПЕРАТУРЫ // 2343969
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ АЛМАЗОСОДЕРЖАЩЕГО МАТЕРИАЛА // 2335556
Изобретение относится к технике получения высокотвердых, износостойких материалов, в частности к получению алмазосодержащих материалов, содержащих высокодисперсные алмазы. .
Изобретение относится к способам изготовления холодных катодов, широко применяющихся в электровакуумной технике, например в источниках света. .
УСТРОЙСТВО ВЫСОКОГО ДАВЛЕНИЯ И ТЕМПЕРАТУРЫ // 2321450
Изобретение относится к технике высокого давления и высокой температуры, а именно к технологии производства сверхтвердых материалов (алмаза, лонсдейлита, кубического и вюртцитного нитрида бора, фуллеренов).
УСТРОЙСТВО ВЫСОКОГО ДАВЛЕНИЯ И ТЕМПЕРАТУРЫ // 2321449
Изобретение относится к устройствам для создания высокого давления и температуры и может быть использовано для синтеза сверхтвердых материалов, таких как алмаз и кубический нитрид бора, а также для термобарической обработки различных материалов.
СПОСОБ ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ АЛМАЗА // 2320404
Изобретение относится к области выращивания монокристаллов алмаза и может быть использовано для получения монокристаллов, предназначенных для изготовления наковален алмазных камер высокого давления. .
ЗОНДОВОЕ УСТРОЙСТВО // 2313776
Изобретение относится к технике контроля материалов и изделий и может быть использовано при наноиндентировании, или в сканирующем зондовом микроскопе, для измерения электрических свойств поверхности материала с нанометровым разрешением.
