Патенты принадлежащие Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных системы" (ОАО "Российские космические системы") (RU)
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТОТЫ СИГНАЛОВ ПОСЫЛОК РАДИОБУЕВ В КОСМИЧЕСКОЙ СИСТЕМЕ ПОИСКА И СПАСАНИЯ // 2592050
Изобретение относится к области радиотехники и предназначено для использования в среднеорбитальном сегменте космической системы поиска и спасения терпящих бедствия судов, летательных аппаратов, отдельных людей или групп.
Изобретение относится к области космонавтики и представляет собой наземный автоматизированный комплекс управления космическими аппаратами (НАКУ КА) научного и социально-экономического назначения и измерений и способ его применения.
Изобретение относится к области радиоэлектронной техники, в частности к способу исправления дефектов и проведения ремонта узлов многослойных печатных плат (МПП), и может быть использовано при доработке разводки проводников МПП (разрыв и прокладка новых цепей).
Изобретение может использоваться при конструировании и изготовлении многослойных печатных плат, предназначенных для сверхплотной разводки поверхностно-монтируемых электронных компонентов, в том числе и с матричным расположением выводов с шагом менее 0,8 мм (в том числе и в корпусах типа BGA, CGA).
УСТРОЙСТВО ПЕРЕМЕЩЕНИЯ // 2533753
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано, например, в стендах для контроля и тестирования оптико-механической аппаратуры. Сущность: устройство содержит опору (1), подвижную платформу (4), направляющие элементы (), приводные механизмы (на фиг.1 показан только ) и прямоугольную раму (2), установленную между опорой (1) и подвижной платформой (4).
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕТАМАТЕРИАЛА (ВАРИАНТЫ) // 2522694
Группа изобретений относится к области микроэлектроники - технологии изготовления слоистых изделий - и может быть использована при создании электродинамических и/или антенных устройств, содержащих в своей структуре слоистый материал со специфическими электрическими свойствами и обеспечивающих искажение рабочего электромагнитного поля.
Изобретение относится к области технологии микроэлектроники и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов и/или устройств микросистемной техники на кремниевых подложках, содержащих в своей структуре пленки нитрида кремния различного функционального назначения.
