Патенты принадлежащие Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт измерительных приборов" (ОАО "НИИИП") (RU)

Изобретение относится к области радиолокации, в частности к обзору зоны радиолокационной станции с фазированной антенной решеткой с двумерным электронным сканированием узким («карандашным») лучом.

Изобретение относится к области радиолокации и может быть использовано для фильтрации параметров траектории маневрирующих радиолокационных объектов. .

Изобретение относится к области радиолокации, а также автоматики и может быть использовано для фильтрации параметров траектории (координат) сопровождаемых радиолокационных объектов или для фильтрации каких-либо параметров других случайных процессов.

Изобретение относится к пассивным способам защиты РЛС от самонаводящегося оружия, в частности от противорадиолокационных ракет (ПРР). .

Изобретение относится к области радиолокации и может быть использовано при обнаружении траекторий объектов в обзорных радиолокационных станциях (РЛС) с фазированной антенной решеткой. .

Изобретение относится к области радиотехники сверхвысоких частот и может быть использовано, например, для направленного ответвления части мощности в трактах радиолокационных, телевизионных и связных устройств.

Изобретение относится к области радиотехники сверхвысоких частот и может быть использовано для переключения каналов в трактах радиолокационных, телевизионных и связных устройств. .
Наверх