Для измерения шероховатости или неровностей поверхностей (G01B11/30)
G01B Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров (измерение размеров человеческого тела, см. соответствующие подклассы, например A41H1, A43D1/02, A61B5/103; измерительные приспособления в сочетании с тростями для прогулок A45B3/08; сортировка по размеру B07; способы и устройства для измерений, специально предназначенные для металлопрокатных станов B21B38; установочные или чертежные инструменты, не предназначенные специально для измерения, B23B49,B23Q15-B23Q17, B43L; оборудование для измерения или калибровки, специально приспособленные для гранения или
(22131) G01B11/30 Для измерения шероховатости или неровностей поверхностей(522)
Изобретение относится к ядерному машиностроению и может быть использовано при производстве твэлов из рефабрицированного высокофонового топлива. В устройстве осветитель кольцевого типа выполнен на основе многоточечного светодиодного источника, оснащенного рассеивающим устройством в виде воронки и обеспечивающим рассеянный поток света на поверхность твэла под углом, равным или меньше 45°.
Изобретение относится к устройствам для исследования и анализа образцов с помощью оптических средств, в частности к контрольно-измерительным устройствам для обнаружения дефектов изделий и измерения их размеров.
Изобретение может быть использовано для контроля формы асферических оптических поверхностей (АОП). Голографическое устройство содержит лазерный источник света, расширитель светового пучка, светоделитель, измерительный и опорный каналы и канал регистрации и обработки изображения.
Изобретение относится к системам измерения топографии поверхности. Техническим результатом является создание системы, в которой быстро и легко происходит замена прикрепленного слоя эластомера к оптическому элементу.
Изобретение относится к способам неразрушающего контроля степени износа дорожных покрытий. Технический результат заключается в упрощении контроля степени износа материала холодного применения, а также повышении эффективности выявления поверхностных дефектов дорожного покрытия.
Изобретение относится к методам неразрушающего контроля в областях машиностроения, производства бытовой техники и техники военного назначения, строительства, металлургии. Заявленный способ состоит в формировании карты глубины для поверхности металла с отражающими свойствами посредством IP-видеокамеры видимого спектра и лазерной подсветки с целью выявления дефектов неплоскостности.
Настоящее изобретение относится к способу, устройству и линии технического контроля для определения трехмерной геометрии кольцевой поверхности контейнера. Заявленный способ определения трехмерной геометрии фактической кольцевой поверхности контейнера включает формирование двух изображений кольцевой поверхности контейнера посредством двух оптических систем (24, 24') в соответствии с двумя периферийными наблюдательными полями, имеющими первый и второй наблюдательные углы возвышения (1, 2), отличные один от другого.
Предложенные способ и устройство относятся к области техники для измерения нано- и микрошероховатости, регулярного рельефа (текстуры) поверхности, адгезии покрытий, триботехнических характеристик и механических свойств материала функциональных поверхностей.
Изобретение относится к технологии контроля рельефа изогнутых поверхностей материалов, в частности изогнутых поверхностей остеклений, приспособленных для транспортных средств, в частности, для автомобильной промышленности.
Группа изобретений относится к области дефектоскопии кабелей во время их производства. Техническим результатом является обеспечение возможности непрерывного мониторинга качества.
Изобретение может быть использовано для контроля формы крупногабаритных вогнутых асферических оптических поверхностей с большой крутизной и градиентом асферичности, как монолитных, так и составных асферических зеркал и линз.
Изобретение относится к области изготовления крупногабаритных и светосильных оптических элементов и компонентов, преимущественно для телескопических систем различного назначения, а именно к метрологическому обеспечению процессов формообразования крупногабаритных асферических оптических поверхностей с большой крутизной и градиентом асферичности вогнутых зеркал телескопов и может быть использовано на всех стадиях их производства и аттестации.
Изобретение относится к области обработки цифровых данных, в частности к способу и когнитивной системе видеоанализа для детекции повреждений на транспортных средствах, а именно к области автоматизации подсчета на элементах кузова транспортных средств количества вмятин, вызванных внешними воздействиями, и их физических параметров.
Изобретение относится к способу определения присутствия заусенца на внутренней кромке поверхности венчика сосуда. Способ включает: освещение поверхности (16) венчика сосуда сверху при помощи радиального светового пучка в угле 360° и наблюдение его согласно периферийному полю наблюдения; формирование в первой зоне изображения первой основной окружности и по меньшей мере одной вторичной дуги окружности, концентричной с указанной первой основной окружностью и радиально смещенной относительно нее; поиск в указанной первой зоне изображения указанной первой основной окружности и возможной первой вторичной дуги окружности.
Изобретение относится к области измерения топографии поверхности. Устройство для измерений топографии поверхности содержит оптический элемент, имеющий внутреннюю часть, включающую в себя жесткий, оптический прозрачный материал.
Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхности полупроводниковых и металлических изделий, в которых взаимодействие зондирующего излучения с поверхностью опосредовано поверхностной электромагнитной волной (ПЭВ), возбуждаемой падающим излучением и направляемой поверхностью.
Изобретение относится к области измерительной техники и касается лазерного способа определения технического состояния боеприпасов и их элементов. Способ включает в себя направление луча лазера к поверхности исследуемой области с частотой строчного сканирования, определяемой минимально обнаруживаемыми дефектами, и фиксирование отраженного сигнала приемным устройством.
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для определения состояния взрывчатого вещества. Способ определения технического состояния взрывчатого вещества на срезе разрывного заряда или шашки детонатора, размещенного в головной части снаряда (мины) под взрывателем, заключается в том, что воздействуют на контролируемое в головной части взрывчатое вещество направленным лазерным потоком, принимают отраженный сигнал от поверхности вещества, фиксируют временной интервал между передним фронтом зондирующего и отраженного импульсов, каждого луча лазерного потока, определяют расстояние до исследуемой поверхности, определяют по совокупности сравнительного анализа расстояний размеры скола вещества и полученные результаты сравнивают с максимально допустимыми размерами.
Изобретение относится к устройству и способу контроля шин на линии по производству шин, в частности, посредством получения изображений внутренней поверхности шины и их дальнейшей обработки, например, для определения возможного наличия обнаруживаемых дефектов на поверхности шины.
Изобретение относится к измерительной технике, а конкретнее к оптической профилометрии, и может быть использовано для измерения поверхностного микрорельефа, полученного любым способом в произвольной разнородной структуре, обладающей различными оптическими характеристиками.
Группа изобретений относится к области оценки дорожных условий в окружениях подземной добычи. Система оценки дорожных условий в окружении подземной добычи включает в себя электронный процессор, который принимает данные датчиков из акселерометра и данные местоположения горной машины, работающей в окружении добычи.
Изобретение относится к области измерительного оборудования и касается контактного датчика положения, который может быть использован, например, во фрезерных станках и обрабатывающих центрах с числовым программным управлением.
Способ может использоваться для контроля микронеровностей поверхностей, полученных в результате воздействия машиностроительных технологических операций. В способе исследуемую поверхность очищают, наносят на нее жидкость в виде капли фиксированного объема, регистрируют момент окончания растекания капли жидкости по исследуемой поверхности, определяют периметр и площадь растекшейся капли, затем на эту каплю наносят каплю той же жидкости объемом, равным объему первой капли, регистрируют момент окончания растекания капли, образованной после слияния двух капель, определяют периметр и площадь двух растекшихся капель после их слияния; определяют фрактальную размерность D исследуемой шероховатой поверхности: D=2⋅loga(Gдлина 1/Gдлина 2), здесь а=(Gплощадь 1/Gплощадь 2), где Gдлина 1 - периметр первой растекшейся капли; Gдлина 2 - периметр капли, образованной в результате слияния двух капель одной и той же жидкости; Gплощадь 1 - площадь первой растекшейся капли; Gплощадь 2 - площадь капли, образованной в результате слияния двух капель одной и той же жидкости.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при оценке функционального состояния лиственных растений, определяемого их влагообеспеченностью, в реальном времени с целью осуществления регулируемого полива, оптимального для растительных объектов, независимо от типа почв как в полевых условиях, так и в теплицах.
Изобретение относится к производству высококачественных оптических приборов, в частности к контролю качества обрабатываемых поверхностей оптических материалов как аморфных, так и монокристаллических. Предложен способ оперативного неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов без использования сложного измерительного оборудования, состоящий в том, что оценку качества приповерхностного слоя контролируемой поверхности осуществляют измерением угловой зависимости коэффициента отражения плоскополяризованного монохроматического луча от поверхности исследуемого образца вблизи угла Брюстера для данного материала и сопоставлением измеренной зависимости коэффициента отражения с зависимостью для контрольного образца (эталона) или с расчетной зависимостью для идеальной поверхности по положению минимума коэффициента отражения и соответствующего угла.
Изобретение относится к средствам контроля микронеровностей поверхностей, полученных в результате воздействия машиностроительных технологических операций на шероховатую поверхность, например, поверхность пера лопатки ГТД на заключительных стадиях обработки.
Группа изобретений относится к области получения поверхности шины и их последующей обработки. Способ, предназначенный для реализации устройства для контроля шин на производственной линии, включает следующие этапы: попеременное освещение участка поверхности шины посредством первого и второго световых излучений, падающих под скользящим углом, и получение соответственно первого и второго двумерных цифровых изображений указанного освещенного участка поверхности.
Оптическое измерительное устройство, содержащее первый лазерный модуль, формирующий первую световую линию на поверхности объекта контроля, видеокамеру и систему обработки, отличающееся тем, что в него введены второй и третий лазерные модули, формирующие на поверхности объекта контроля две параллельные световые линии, отстоящие друг от друга на заданном расстоянии и перпендикулярные первой световой линии, причём первый лазерный модуль установлен так, что плоскость его светового потока перпендикулярна поверхности объекта контроля, видеокамера установлена так, что её оптическая ось составляет с нормалью к поверхности объекта контроля заданный угол, а проекция оптической оси на поверхность объекта контроля параллельна световым линиям второго и третьего лазерных модулей и расположена посередине между ними.
Изобретение относится к сельскому хозяйству, в частности к способам изучения водной эрозии, и может быть использовано в почвоведении, мелиорации и гидрологии. Техническим результатом является повышение точности определения и оцифровки профиля дневной поверхности почвы элементарной площадки в полевых условиях.
Изобретение относится к области оптико-электронных измерительных приборов и предназначено для получения информации о двумерном распределении высот микрорельефа поверхностей, которые применяются в оптическом приборостроении, микроэлектронике и материаловедении.
Устройство для обнаружения поверхностных дефектов цилиндрических объектов относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в производстве ядерного топлива, в частности для обнаружения дефектов внешнего вида на боковой поверхности топливных таблеток.
Изобретение относится к способам исследования образцов материалов при помощи их цифровых трехмерных моделей. Для оценки структурных изменений в образце материала в результате воздействия на образец сканируют по меньшей мере один образец материала до и после воздействия и получают соответственно первое изображение и второе изображение каждого образца.
Изобретение относится к средствам контроля микронеровностей поверхностей, полученных в результате воздействия машиностроительных технологических операций на шероховатую гидрофобную поверхность, например парафин, воск, огнеупоры и т.п.
Изобретение относится к области радиотехники. Технический результат - повышение точности компьютерного моделирования целостности сигнала и электромагнитной совместимости проектируемых СВЧ устройств в расширенном диапазоне рабочих частот до 100 ГГц и более.
Группа изобретений относится к области для измерения шероховатости поверхности в труднодоступных областях. Устройство измерения шероховатости поверхности содержит основное и вспомогательные излучающие волокна, собирающие волокна, оптический корпус, главное и вспомогательные отражающие зеркала и внешнюю цепь.
Группа изобретений относится к способу и устройству проверки инспекционной системы для обнаружения поверхностных дефектов продукта. Способ проверки инспекционной системы (1) и система для реализации способа для обнаружения поверхностных дефектов (2, 3) продукта (5), преимущественно плоского стального продукта, в котором с помощью одной камеры (6), преимущественно цифровой камеры, делают один снимок (10) одной поверхности (4) одного продукта (5), один снимок (10) в оцифрованном изображении передают на устройство (7) обработки изображений, одно оцифрованное изображение (11, 12) поверхностного дефекта (2, 3) интегрируют в оцифрованный снимок (10), с помощью устройства (7) обработки изображений и с помощью оцифрованного снимка (10), включая оцифрованное изображение (11, 12) поверхностного дефекта (2, 3), обнаруживают недостаток и определяют, распознает ли устройство (7) обработки изображений оцифрованное изображение (11, 12) поверхностного дефекта (2, 3) как недостаток на проверяемой поверхности (4).
Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к устройствам для оптического бесконтактного измерения профиля поверхности, и может быть использовано для измерения параметров неровности, шероховатости поверхности, например дорожного покрытия, поверхности металлов и изделий сложной формы.
Изобретение относится к области сварки, в том числе, при строительстве трубопроводов и при изготовлении крупногабаритных объектов. Заявленный мобильный сканер для определения качества поверхности сварного шва содержит модуль перемещения, который включает платформу с размещенным на ней считывающим блоком, датчиком пройденного пути, блоком беспроводной передачи и приема информации.
Изобретение относится к области океанографических измерений. Способ дистанционного определения дисперсии уклонов морской поверхности заключается в том, что импульсным лазером вертикально зондируют морскую поверхность, регистрируют отраженные импульсы и по ним рассчитывают дисперсию уклонов морской поверхности.
Устройство для контроля углового положения дифракционных порядков дифракционного элемента состоит из координатного стола, оптически связанных рассеивающего экрана с пропускающим окном, контролируемого дифракционного элемента, расположенного между координатным столом и рассеивающим экраном, источника излучения, фокусирующего объектива, видеокамеры, блока обработки и управления.
Изобретение относится к визуальной оценке качества поверхностей плоских подложек для оптико-электронных компонентов и может быть использовано при техническом контроле состояния поверхности крупных партий деталей в электротехнической промышленности.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и направлено на повышение точности определения положений дефектов на асферических поверхностях как второго, так и более высокого порядка в процессе их формообразования.
Изобретение относится к области метрологии, в частности к системам для определения положения неровностей поверхности, их размеров и количества на расстоянии. Заявленный способ бесконтактного определения рельефа поверхности материалов включает получение информации об объекте с помощью считывающего устройства, обработку информации путем формирования универсальной матрицы поверхности, состоящей из информационных ячеек, содержащих информацию об эталонных и фактических координатах меток поверхности.
Изобретение относится к средствам контроля микронеровностей поверхностей, полученных в результате воздействия машиностроительных технологических операций на шероховатую поверхность. Исследуемую поверхность очищают плазмохимическим травлением в среде инертного газа при режимах, не допускающих распыление материала исследуемой поверхности, сразу после очистки на поверхность наносят жидкость в виде капли фиксированного объема.
Изобретение относится к области измерительной техники и может служить для бесконтактного автоматизированного контроля неровностей внутренней вертикальной цилиндрической поверхности, например ракетной шахты.
Изобретение относится к устройствам для внутритрубного контроля трубопроводов и может быть использовано для диагностики трубопроводов среднего диаметра, а также составления профиля трубопровода. Заявленное изобретение, раскрывающее профилемер, содержит корпус, чувствительные средства измерения и средства обработки, анализа и хранения данных.
Изобретение относится к области материаловедения и может использоваться для оценки микронеровностей на плоских поверхностях без применения специальных дорогостоящих измерительных средств. Предлагаемый способ включает типовое измерение коэффициента f трения качения для стальных шариков разного диаметра D по наклону изучаемой поверхности и расчет глубины h лунки смятия для них по формуле h=0,25·D·f2.
Изобретение относится к способам определения складок. Устройство определения складок включает в себя: световой проектор, который при перемещении относительно многослойного объекта, сформированного посредством укладки электродов и сепараторов, проецирует щелевой свет на крайний внешний из сепараторов, также свет проецируется на камеру, которая выполняет съемку формы щелевого света на сепараторе; и модуль управления, который вычисляет градиент сепаратора на основе отснятой формы щелевого света и определяет наличие складки на основе вычисленного градиента.
Изобретение относится к технике проведения измерений и определения отклонений от плоскостности плоских поверхностей различной площади и протяженности, в частности поверочных, монтажных и разметочных плит, элементов технологического оборудования и устройств, требующих обеспечения плоскостности или горизонтальности установки.
Способ бесконтактного измерения параметров шероховатости поверхности объектов относится к информационно-измерительной технике. При измерении шероховатости направляют на измеряемую поверхность пучок зондирующего излучения, формируют область освещенной излучением поверхности, измеряют характеристики отраженного излучения, изменяют размер освещающего пятна х на измеряемой поверхности в диапазоне от 0 до L, определяют функцию распределения среднеквадратического отклонения высоты шероховатости зависимости Rq(x) и ее производную Rq'x(x), при этом среднеарифметическое значение высоты шероховатости определяется по формуле:
R
a
=
1
L
∫
0
L
R
q
2
(
x
)
+
2
R
q
(
x
)
R
q
x
'
(
x
)
x
d
x
,
(
1
)
причем поверхность освещают поочередно на двух длинах волн, регистрируют в направлении зеркального отражения оптические изображения освещаемых областей поверхности объекта, а среднеквадратическое значение высоты неровностей Rq определяют по формуле:
R
q
=
λ
1
λ
2
π
cos
ψ
⋅
−
ln
k
12
+
ln
a
λ
1
2
−
λ
2
2
,
(
2
)
k12 - отношение видеосигналов для всех элементов; i и j изображений; uij - величины видеосигналов изображений, полученных на длинах волн λ1 и λ2; ψ - угол освещения пластины; N - число элементов в строке изображения поля зеркально отраженного излучения поверхности объекта; K - число строк в изображении поля зеркально отраженного излучения поверхности объекта.