Испытание ламп (G01R31/44)

G   Физика(403185)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01R     Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)
G01R31/44                     Испытание ламп (разрядных ламп G01R31/24; конструктивно связанных со схемами источников тока для обнаружения повреждения ламп H05B37/03)(3)

Способ испытаний светотехнических систем транспортных средств на восприимчивость к электромагнитному полю // 2732801
Изобретение относится к методам испытаний светотехнических систем транспортных средств на устойчивость к воздействию электромагнитного поля. Транспортное средство располагают в защищенной от внешних факторов камере и ориентируют относительно расположенной в камере полеобразующей системы.

Способ и устройство для управления и/или регулирования по меньшей мере одного рабочего параметра аккумулятора электроэнергии, влияющего на уровень старения аккумулятора электроэнергии // 2710437
Изобретение относится к накопителям электроэнергии. В способе управления и/или регулирования рабочего параметра аккумулятора электроэнергии, влияющего на уровень старения аккумулятора автомобиля, определяют фактический и целевой уровень старения аккумулятора.

Способ определения радиометрических характеристик и оценки фотобиологического воздействия источников излучения и комплекс для его осуществления // 2683880
Изобретение относится к области метрологии источников излучения и касается устройства измерения показателей энергетической экспозиции источника излучения и радиометрических характеристик излучения. Устройство включает в себя расположенные по оси, проходящей через фотометрический центр испытуемого источника излучения, с возможностью изменения расстояния друг относительно друга блок испытуемого источника излучения и измерительный блок, связанный с блоком анализа и вывода результатов измерения.

Способ определения температурного распределения по поверхности светодиода // 2594655
Изобретение относится к области оптоэлектронной техники и касается способа определения температурного распределения по поверхности светодиода. Способ включает в себя нанесение на поверхность светодиода пленки покровного материала, определение с помощью ИК тепловизионного микроскопа калибровочной зависимости излучаемого находящимся в нерабочем режиме светодиодом сигнала от температуры при внешнем нагреве, регистрацию с помощью ИК тепловизионного микроскопа излучаемого поверхностью светодиода в рабочем режиме сигнала и программную обработку полученных данных.

Устройство для автоматического контроля и смены перегоревшей нити накала лампы // 1368824
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .

 // 201935
 
.
Наверх