Изобретение относится к методам физических исследований и может быть использовано в электронной (ионной) оптике для экспериментального измерения, анализа и оптимизации характеристик разнообразных электронно(ионно)-оптических систем (ЭОС и ИОС), предназначенных для сбора, фокусировки, формирования, отклонения, транспортирования, а также энерго-и масс-анализа пучков заряженных частиц, в учебных целях для проведения лабораторных работ по курсу "Электронная и ионная оптика".