Магнитный дефектоскоп

 

1. МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП, содержащий корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий блок, отличамцийс я тем, что, с целью повьшения достоверности контроля,.магнит выполнен кольцевьм и установлен в корпусе с возможностью вращения вокруг своей оси, магниточувствительный элемент закреплен на торце магнита и выполнен по градиентомеров, ориентированных осями максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси магнита . 2. Дефектоскоп по п.1, от л ичающийся тем, что рабочий торец кольцевого магнита выполнен в форме сферического пояса. t (Л с g с о 4

СОЮЗ СОНЕТСНИХ

РЕСПУБЛИК

3<ДЦ С 01 Н 27/87

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И QTHPblTHA

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3270049/25-28 (22) 06.04 ° 81 (46) 15. 05.83. Бюл. 9 18 (72) Н.Н.Зацепин, A.Ï.Ãóñåâ и Г.A.Михальцевич (71) Институт прикладной физики

AH He P cK CCP (53) 620.179.14(088.8) (56) 1.Авторское свидетельство СССР 9 441122554433, кл. G 01 и 27/87, 1971.

2. Журовский А.Г. и др. Йеразрушающий контроль анизбтропии магнитных свойств динамных сталей. — "Заводская лаборатория", 1978, М 8, с.992 (прототип) . (54) (57) 1. МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП, содержащий корпус, магнит, магнитоЭ,.SU„„1018004 A чувствительный элемент и регистрирующий блок, о т л и ч а ю щ и й— а я тем, что, с целью повицения достоверности контроля, магнит выполнен кольцевьм и установлен в корпусе с возможностью вращения вокруг своей оси, магниточувствительный элемент закреплен на торце магнита и выполнен по схеме градиентомеров, ориентированных осями максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси магнита.

2. Дефектоскоп по п.1, о т л ич а ю шийся тем, что рабочий торец кольцевого магнита выполнен в форме сферического пояса.

1018004

Изобретение относится к неразрушающим методам испытаний материалов и изделий магнитным методом и может быть использовано для контроля качества ферромагнитных изделий в машиностроительной и металлургической 1 .промышленности.

Известно устройство, содержащее корпу=, установленный неподвижно в корпу=e магнит, магниточувствительный элемент, установленный в цилиндрической полости кольцевого магнита, и рег:нстрирующий прибор(1(.

Однако зто устройство имеет невысокую чувствительность и достоверность контроля, обусловленную влиянием колебания зазора на конечный результат контроля.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является магнитный дефектоскоп, содержащий кор пус,.магнит, цилиндрический электро- 2О магнит, магниточувствительный эле мент и регистрирующую аппаратуру.

Электромагнит броневого типа установлен неподвижно, а в зазоре между электромагнитом и изделием установ- 25 лен с возможностью вращения немагнитный диск. На диске установлена прямоугольная измерительная катушка, ось максимальной чувствительности которой совпадает с направлением магнитно- gQ

ro потока (. 2 J.

Недостатком данного устройства является низкая достоверность контроля к дефектам контролируемой поверхности из-за чувствительности датчика к изменению зазора между датчиком и изделиям. Кроме того, оно чувствительно к внешним магнитным полям изза конструктивного исполнения датчика.

Целью изЬбретения является повыше-40 ние достоверности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что в магнитном дефектоскопе, содержащем корпус, магнит, магниточувствительный элемент и регистрирующий 45 блок, магнит выполнен кольцевым и установлен в корпусе с возможностью вращения вокруг оси, магниточувствительный элемент закреплен на торце магнита и выполнен по схеме градиеи- () томеров, ориентированных осями максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси магнита.

Кроме того, рабочий торец кольцевого магнита выполнен в форме сферического пояса.

На фиг.1 изображен дефектоскоп для контроля плоской поверхности; на фиг.2 — то же, вид сбоку; на фиг.2 — распределение магнитного по- 60 ля дефекта в зазоре между магнитом и изделием; на фиг.4 — положение датчика над шаровой поверхностью.

Магнитный дефектоскоп содержит корпус 1 датчика, кольцевой магнит 2, магниточувствительные элементы 3 и 4, выполненные по схеме градиентомеров, вал 5, регистрирующи блок б.

Кольцевой магнит 2 установлен на валу 5 с возможностью вращения относительно оси 7, а магниточувствительные элементы 3 и 4 установлены на рабочей поверхности 8 кольцевого магнита 2 и сориентированы осями 9 максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси 7 кольцевого магнита 2, расположенного над изделием 10 плоской или шарбвой формы, имеющим дефект 11 с полем

12 рассеяния, Магнитный дефектоскоп для контроля плоских изделий работает следующим образом.

Датчик дефектоскопа (фиг.1) устанавливают на контролируемую поверхность изделия 10,. приводят во вращение магнит 2 вокруг его оси 7 и перемещают датчик по поверхности контролируемого изделия 10. При этом магнит 2, намагниченный вдоль оси 7, намагничивает изделие в зоне располо- . жения магниточувствительных элементов 3 и 4 нормально контролируемой поверхности. Если при перемещении по изделию 10 датчика дефектоскопа

B намагничиваемую зону попадает дефект 11.(фиг.2), то он образует маг1нитное поле 12 рассеяния, Так как магниточувствительные элементы 3 и 4 сориентированы осями 9 (фиг.1) максимальной чувствительности по касательной к окружности с центром на оси 7 кольцевого магнита 2, то при прохождении их над дефектом 11 на элементы 3 и 4 действует тангенциальная составляющая магнитного поля 12 рассеяния, в результате чего на выходе элементов 3 и 4 появляется ЭДС, которая регистрируется блоком б. Кроме того, благодаря такой ориентации магниточувствительных элементов 3 и 4 произьодится отсройка от влияния зазора между датчиком и изделием. Изменение зазора сопровождается изменени-" ем магнитного поля в зазоре. Однако все изменения происходят в рамках той симметрии, которую имеет магнитное поле кольцевого магнита, а силовые линии этого поля перпендикулярны направлению оси 7 максимальной чувствительности магниточувствительных элементов 3 и 4.

Соединение элементов 3 и 4 ло схеме градиентомера способствует повышению отношения сигнала от дефекта помеха, т.е. повышению селективности устройства к дефектам.

Магнитный дефектоскоп для контроля шаровой поверхности (фиг.3) работает следующим образом.

Датчик дефектоскопа устанавливают на шаровую поверхность 10, приводят во вращение магнит 2 вокруг его оси 7, чем осуществляется сканирова1018ОО4

Фиг4

Составитель A.Áðîäîâ

Техред С.мигунова . КорректорМ.Шароши

Редактор N.Ïåòðîâà

Заказ 3529/42 Тираж 873 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г.. Ужгород, ул. Проектная, 4 ние элементами 3 и 4 поверхности шара. Одновременно вращают шар вокруг его центра. При этом в зоне расположения элементов 3 и 4 шар намагничи-. вается перпендикулярно поверхности.

Дефект 11, оказавшийся в намагничиваемой зоне, образует магнитное поле рассеяния, которое вызывает появление ЭДС на выходе элементов 3 и 4, регистрируемую блоком б.

Изобретение обладает повышенной достоверностью контроля, достигаемой за счет снижения влияния помех, возникающих за счет колебаний, зазора между датчиком и иэделием и селектив5 ности при обнаружении дефектов.

Кроме, того, дефектоскоп позволяет обнаруживать дефекты под немагнитным электропроводным покрытием толщиной более 2 мм.