Способ электромагнитной дефектометрии

 

СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОМЕТРИИ , заключающийся в том, что контролируемую поверхность намагничивают с помощью магниточувствительного преобразователя, установленного по нормали к контролируемой поверхности с фиксированным зазором, выделяют составляющие магнитного поля, обусловленные дефектом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, одновременно выделяют составляющие магнитного поля с по-. мощью второго магниточувствительного преобразователя, установленного на той же нормали с другим фиксированным зазоррм, используют тангенциальные составляющие магнитного поля, а глубину 1i дефекта определяют ло соотношению выделенных составляющих из зависимости. H,. Г VK .z:, где Н и Н - определенные тангенциальныесоставляющие магнитного поля рассеяния , обусловленные (Л дефектом и измеренные 41ри зазорах и Z.iCOOJBe-TCTBeHHQ-t К - коэффициент пропорциональности .

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„.SU„„102481 9 А

h(59 G 01 N 2 87 ЗВИИ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ЫТЕ рТт а., н:

73ЫНЙ-::,,„„. „.

Я1Я; к@1," м-,".

H АВТОРСИОМЪГ СВИДЕТЕЛЬСТВУ з ния точности, одновременно выделяют составляющие магнитного поля с по-: мощью второго магниточувствительного преобразователя, установленного на той же нормали с другим фиксированным зазоррм, используют тангенциальные составляющие магнитного поля, а глубину Ь дефекта определяют .по соотношению выделенных соСтавляющих из зависимости.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ.(21) 2857918/25-28 (22).25. 12.79 (46) 23.06.83. Бюл. и 23 (.72) В.Ф. Мужицкий, Ю.M. Брон, М.Н. Лепешкин, В.С. Лапшин

;и В.С. Власов (53) 620.179.141 (088.8) (56) 1. "Дефектоскопия", 1969, У 4, с 113=115 B.

2 Гам me, 1966, N 5, с. 59 (прототип). (54)(57) СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕ ФЕКТОМЕТРИИ, заключающийся в том,... что контролируемую поверхность намагничивают с помощью магниточувствитель. ного преобразователя, установленного по нормали к контролируемой поверхности с фиксированным зазором, выделяют составляющие магнитного поля, обусловленные дефектом, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повыше" где Н„ и Н - определенные тангенJ циальные составляющие магнитного поля рас- ф сеяния, обусловленные дефектом и измерен- Q) ные при зазорах и

7 соответственно; . С

К - коэффициент . и ропорцио-. нальности.

819 2 . где Н и Н - определенные наприЛ 2 3 мер, тангенциальные составляющие магнитного поля рассеяния, обусловленные дефектом и измеряемые при зазорах $q и 2 соот» ветственно;

К коэффициент пропорциональности.

Способ осуществляется следующим образом.

Два магниточувствительных преоб- разователя (например, датчики Холла, магнитореэисторы, феррозонды) располагают по нормали к контролируемой поверхности один над. другим с фиксированными зазорами 24 и 2 ». Прикладывают к изделию магнитное поле, измеряют с помощью преобразователей тангенциальные составляющие магнитного поля рассения, обусловленные дефектами РМ,1 и М ), и по соотношению этих составляющих, полученному из зависимости

l 024

Н,2, -H@Z+

Н1Л2. И1Z 2.

Таким образом:; функция изменения .Н .в зависимости от глубины дефекта .К К

50 меняется от —. до — при изменении

2 2 глубины от О до ae .

Измерение тангенциальных составляющих поля рассеяния дефекта при, двух различных фиксированных зазорах

Zq и 2 в точках, расположенных на

5 нормали к поверхности позволяет повы. сить точность измерения глубины дефекта и осуществить автоматическую разбраковку дефектов по глубине.

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может использоваться для определения качества ферромагнитных изделий в черной металлургии и машиностроении. 5

Известен способ определения глубины дефектов в ферромагнитных изделиях, заключающийся в том, что изделие намагничивают и определяют тангенциальную составляющую поля- рассеяния дефекта P l)

Однако такой способ не позволяет произвести отстройку от мешающих факторов - наклепа,изменение зазора и т.д..

Наиболее близким по технической .сущности к изобретению является спо соб электромагнитной дефектометрии, заключающийся в том, что контролируемую поверхность намагничивают с помощью магниточувствительного пре образователя, установленного по нор20 мали к контролируемой поверхности с фиксированным зазором, выделяют составляющие магнитного поля, обусловленные дефектом, например нормаль25 ные, определяют ее максимальные зна" чения и по расстоянию между ними судят о глубине дефекта 2 J .

Недостатком известного способа является влияние мешающих факторов таких, как локальный наклеп, магнитная неоднородность структуры, изме".. нение зазора между преобразователем и контролируемой поверхностью, что снижает точность дефектометрии.

Цель изобретения - повышение 35 точности °

Указанная цель достигается тем, что согласно способу электромагнитной дефектометрии, заключающемуся в том, что контролируемую поверхность 40 намагничивают с помощью магниточувствительного преобразователя, установ-. ленного,по нормали к контролируемой поверхности с фикисрованным;зазором, выделяют составляющие магнитного 45 поля, обусловленные дефектом, одновременно выделяют составляющие маг" нитного поля с помощью второго магниточувствительного преобразователя, установленного на той же нормали с другим фиксированным зазором, используют тангенциальные составляющие магнитного поля, а глубину h дефекта опредвляют по соотношению выделенных составляющих.из зависимости 5 определяют глубину дефекта.

Указанная зависимость учитывает величину зазоров, при которых производится измерение как в первой сте" пени, так и в квадрате.

Поскольку .известно, что дефект типа наклепа можно представить в виде двух нитей линейного диполя,,поле которого изменяется обратно пропорционально квадрату расстояния .от поверхности изделия до точки измерения, т.е. Н >, где Н-тангенциальная составляющая поля рассеяния, то в случае, когда глубина дефекта % стремится к бесконечности, Н-, т,е.

Н - обратно пропорциойальна изменению зазора в первой степени,