Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей

 

ае (и) щр 01 а 11 30

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОЧНРЫТЭЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ,. Н АВТОРСНОМЪ «ВИД«««ПЬС«ВМ.1

pg 1Ð 14 O 17

Ф «

«в«

° °

МФ

Puz. f (61) 9 3421 9 (21) 3410987/25-28 .(22)25.03.82 (46)07.07.83. Бал. Р 25 (72)А. Н. Кузнецов (53)531.715. 27(088.8) (56)1. Авторское свидетельство СССР

В 934219, кл. G 01 В 11/30, 1980 (прототип). (54) (57) УСТРОЯСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ, КАЧЕСТВА ОБРАБОТКИ ОТВЕРСТИЯ ДЕТА .ЛЕЯ по авт. св. В 934219, о т л и ч ав щ е е с я тем, что, с иелью повышения производительности оно снабжено светофильтрами различной опти ческой плотности, а кольцевая диа фрагма имеет ряд отверстий в виде сектора круга, в которых установле-. ны эти светофильтры.

1О27514

Изобретение отно ится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, при контроле качества обработки отверстий деталей..

По основному авт. св. Р 934219 известно устройство для контроля качества обработки отверстий деталей, содержащее последовательно расположенные на одной оси источник света, коллиматор,.кольцевую диафрагму, укрепленную на оси привода и связанную с датчиком положения, зеркало, представляющее собой конус с зеркальной наружной поверхностью, съемную диафрагму, фотоприемник и 15 узел для перемещения детали вдоль этой оси. Зеркало жестко связано с фотоприемником, а кольцевая диафрагма имеет отверстие в аиде сектора круга, центром которого является ось привода (1 j.

Недостатком известного устройства . является низкая производительность контроля, обусловленная необходимостью медленного перемещения исследуемой детали (при быстром же пере-. мещении детали дефект может пересечь зону луча, с которой он имеет равные сечения, а потому за время оборота луча его размеры измерены не будут), из-за этого снижается время контроля качества обработки .отверстий деталей, т.е. производительность контроля.

Цель изобретения - повышение производительности устройства для контроля качества обработки отверстий деталей. г ° укаэанная цель достигается тем, .что устройство для контроля качества .обработки отверстий деталей снабжено 40 светофильтрами различной оптической плотности, а кольцевая диафрагма имеет ряд отверстий в виде сектора круга, в которых установлены эти светофильтры. 45

На Фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для контроля качества обработки отверстий деталей", на фиг. 2 « кольцевая диафрагма, свободно укрепленная на оси при-: 50 вода, на фиг. 3 — характер формы вы- ходных сигналов(зависимость амплиту-, ды A сигнала от времени t) .

Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей содержит 55 основание 1, на котором установлен источник 2 света, например лазер, .коллиматор 3, кольцевую диафрагму 4, имеющую ряд отверстий 5, выполненных в виде сектора круга, в которых уста-60 новлены светофильтры 6 различной оптической плотности, и свободно закрепленную на оси 7 привода 8, датчик 9 положения кольцевой диафрагмы

4, узел для перемещения детали вдоль 65 оси, включающий направляющие 10, каретку 11, на которой установлена контролируемая деталь 12 и привод 3 поступательного (вдоль оси)перемещения каретки 11, съемную кольцевую диафрагму 14 и корпус 15, на кото-. ром установлен.-наконечник 16 с зеркалом 17 в виде конуса и жестко соединенный с ним фотоприемник 18.

Устройство. работает следующим образом.

Параллельный пучок света, излучаемый источником 2 света, расширяется коллиматором 3 до необходимого диаметра и, пройдя через кольцевую диафрагму 4, направляется на зеркало

17 в виде конуса. Кольцевая диафрагма 4 свободно укреплена на оси 7 привода 8, осуществляющего ее вращение. Отраженный зеркалом 17 световой поток направляется под некоторым углом на контролируемую внутреннюю цилиндрическую поверхность детали 12 и, отражаясь от этой поверхности, поступает на фотоприемник 18. Вращением диафрагмы 4 осуществляется сканирование зондирующего излучения по внутренней поверхности отверстия.

При поступательном движении каретки

11 с контролируемой деталью 12 в одном направлении съемная диафрагма

14 отсутствует и записывается диаграмма шероховатостей, которая не должна выходить за определенные границы, соответствующие данной шероховатости, а движение каретки 11 в обратном направлении осуществляется при установленной на наконечник 16 съемной кольцевой диафрагме 14, рассчитанной так, чтобы через нее мог пройти только луч, отраженный от поверхности иэделия, размер которого укладывается в заданный допуск, и записывается. диаграмма, которая должна проходить на определенном расстоянии и эквидистантно диаграмме шероховатости в случае, если размер находится .в заданном допуске, и расстояние -увеличивается или эквидистантность нарушается, если размер отверстия выходит эа пределы допуска либо на поверхности отверстия присутствует неоднородность. Датчик 9 положения кольцевой диафрагмы 4, укрепленной на оси 7 привода 8, регистрирует положение диафрагмы 4 на ее траектории в зависимости от времени. Так как кольцевая диафрагма 4 имеет ряд отверстий 5 в виде секторов круга, центром которого служит ocb 7 привода 8 (фиг. 2 ), луч,.прошедший через нее, разбивается на несколько зондирующих лучей, имеющих в сечении также форму сектора. установленные в отверстиях 5 диафрагмы 4 светофильтры 6 различной оптической плотности задают зондирующим лучам раэ4

1027514 Уиг. 1

Составитель Л. Лобзова

Техред M. Гер гель Корректор A., Повх -.

Редактор Л. Филь

Тираж 602 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 4720/43

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул., Проектная, 4 личную интенсивность..Когда при поступательном движении каретки 11 с . контролируемой деталью 12 один нз зондирующих лучей попадает на деФект, Форма н амплитуда сигнала, цоступающего с фотоприемника 18 зависит от соотношения между размерами дефекта и параметрами зондирующего луча, его пересекающего. Если раз, меры дефекта больше либо меньше размеров луча, то на.выходе фотоприем ника 18 появляется трапецеидальный .импульс (фиг.,За). Когда размеры од-. ного из лучей и дефекта совпадают, выходной импульс имеет треугольную форму (фиг. Зб). При этом относительная амплитуда последовательно наблюдаемых сигналов определяется соотношением оптической плотности светофильтров б (фиг. Зв ), что позволяет, фиксировать, какой из зондирующих

5 лучей. пересекал дефект в момент со.впадения размеров сечения луча и дефекта.

Выполнение в кольцевой диафрагме ряда отверстий, в которых помещены

10.светофильтры различной оптической плотности, позволяет повысить производительность контроля, так как nps этом реализуется возможность повышения скорости перемещения исследуемой детали ..