Способ определения деформаций поверхности объекта

 

СПОСОБ (Ш еда1ЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ЙОВШ ШСХГт €1ВЬЕК-. ТА, закшочааоапсВсв в тои« что pefntsifia руют авух жсоога опазпо объекта, фиксц; )юоемш раженне, onpefiemaor TOeeiii9CV яатфИ реншсжных aonoc, по KoniioMSr oapea i пяют цеформенаш о f п я ч а ю щ 8 А с я тем, что, с вш№ло оомиюещш ности, BocTaHOBJHAKoe сируют на p&3iffi 4 &{x раосяррннныи голограммы объекта, нзмгеряюг область локалвэв ивтс грфвре ВЕан:оён |х ./полос.ч . : - - . : :: - - ОЭ 09 00 Ш со

ОЭ ОР

:ОПИСАНИЕ::: ИЗОБРЕТЕ1

К: ABTOPCHO54V СВИДДтЕПЬСтВМ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ COCP

-: ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬГПФ (:2-1) 3402293/2Д -28 .. (22) 26.02.82, (46) 07. О8.83. Бюп. Я,29 (72) В. Г. Бахтин, А. Б.. Куприн н. П. И; Полухин (71): Московский орцена Октябрьской

Революции и орцена ..--:Труцового Крас. ного Знамени институт стааи и сплавов (53) 531.781.2 (ОЗ8.8) . (56) 1.0РОса лсta,ч:22 (,10), 1975, 807 -819.

2.4ррР е4 Огсз, v.4 (9), 4 9 П ., 254З» 2648 (прототип). (54) (67) СНОСОВ Qgpgpggj g

ДЕФОРМАИИИ ЙОВБРЖНОСТВ ОВЪНН.» руют цвухэ«сиоаййбеойную Ропое=,рамму объекта, финсщщют,, нэоЖ раженне, оарейепнка «ОМ;,ф щу нйтеффь -..ренцнонных аоаос, по «отцуойу ееуепа» ияют цефориаяив, о т л: и ч à io а.в 4 с а тем, что, с пенью ааюищещщ щи .: МФ4 Мй:— сируют as рващзных раасйчыапи«ет голограммы:, объе«та,: и ма еравт область . локалнаацнн ннФщфефееанойных, полос..

1 1

Изобретение относится к измерениям цеформапий поверхностей деталей с помощью голографической интерферометрии.

Известен способ опрепепеппп 4ефор маций поверхности объекта, заключаю щийся в той, что регистрируют цВух экспозиционнуй голограмму объекта, восстанавливают голограмму, получают . интерферограмйу, по которой определяют перемещения точек поверхности объек та и расстояние от голограммы цо ли» нии полной покапизации интерференцион ных полос по которым опрецепяют це ормации 113.

Нецостатком этого способа являет ся то, что в нем необхоцнмо эксптери ментапьно определять линии полной локализации, что связано с большой погрешностью. Кроме того, требуется предварительная информация о иоле перемещений точек поверхности обьек та.

Наиболее близким к изобретению но технической сушности является способ опрецепения цеформапии поверхности об екта, заключающийся в том, что ре гистрирукт цвухэкспозиционную гологр му объекта, однократно фиксируют вос становленное изображение, определяют контраст интерференциониых по пос при различной ширине вхоцной щьпи регистрнруюшей системы, по кото» рому определяют цеформации (2 ) .

Нецостатком этого способа является необхоцимость. прецезионных измерений ширины вхоцной шепи, что усложняет прове цение эксперимента. Кроме того, возможность опрецепения цеформацнй лишь при наличии цостаточио большого числа интерференционных полос не меньшего числа исспецуемых точек на по верхности объекта.; что не позволяет получить высокую точность измерений.

Uem* изобретения - повышение точ ности определения цеформаций.

Поставленная цепь достигается тем, что согласно способу опрецепения це формаш и поверхности обьекта, заключающемуся в том, что регистрируют цвухэкспозиционную голограмму обьек та, фиксируют восстановленное иэобра» жение, определяют контраст интерферен» щ онных полос, по которому определяют деформации, восстановленное изображение фиксируют на различных расстояниях от голограммы обьекта,и измеряют область

nozanneamar интерференционных полос.

На фиг. 1 изображена оптическая схема регистрации цвухэкспоэиционной

033859 2 гопограммы1 на фиг. 2 - схема. фиксации восстановленного изображения.

Схема регистрации цвухэкспозиционHol голограммы содержит светоцепитеа 1, первый микрообъектяв 2, обьект 3, пер вую линзу 4, первое зеркало 5,. второе зеркало 6, второй микрообъектйв 7, вторую линзу 8 и фотопластинку 9. Схема фиксации восстановленного иэображещ ния соцержит голограмму 10, регистрирующую систему 11, и восстанавпивакъщий лазерный пучок 12.

Способ ocymeersnnetcn спецующим образом.

С применением оптической схемы (фиг, 1) регистрируют цвухэкснозиционную голограмму объекта. Затем изобра жение с голограммы 10 восстанавливают посредством ее освещения лазерным йуч @, ком 12 (фиг. 2) . Это восстановленное иэображение фиксируют, например, по оптичеокой схеме (фиг. 2) с помощью регистрирующей системы. 11 на различных рас стояниях от голограммы 10 объекта. Из25 меряют область локализации интерферен щюнных полос и отмечая положения от ам голограммы 10 цо регистрирующей сиотемы 11, при которых контраст полос равен нулю по всему восстановленному изображению (цопожение Х, фиг. 2) и контраст полос отличен от нуля по всему восстановленному иэображению (псьпожение g, фиг. 2), определяют деформа цию по формуле

4 1

K=A

О 2

f ge Ъ - длина волны излучения лазера

Lo- расстояние ot первой пинэы 4 цо фотопластинки 9;

Эо - диаметр первой линзы 4 с размер восстанавливающего лазерного пучка;

- расстояние от голограммы

1 цо регистрирующей системы, на котором контраст полос равен нулю по всему восстановпенному изображению:

0 - расстояние от голограммы цо регистрирующей системы, на котором контраст полос отличен от нуля по всему восстановленному изображению.

Затем перемещают восстанавливающий пучок по голограмме на расстояние, превышающее размер пучка ц (фиг. 2), и определяют цеформацию в спецующей точке в

3 1033859

- Прецаагаемый способ позволяет знь-, лает исключить . - особоточиые измерении, ; читеиьио повысить точность опрецеления которые требуют лрецизионнык устройств, . цеферыанВй. Применение способа позво- цла своей реализаиии.

Составитель Б. Евстратов

Рецактор Н. Бобкова Техрец О.Неце

Корректор А.Повх, . Заказ S608/43 Тираж 602 Поцписиое

ВНИИПИ Госуиарственного комитета СССР по цепам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж38, Раушская наб. ц. 4/6

Филиал ППП Патент, r. Ужгороц, ул..Проектнаи, 4

Способ определения деформаций поверхности объекта Способ определения деформаций поверхности объекта Способ определения деформаций поверхности объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх