Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕ(НИХ

РЕСПУБЛИК

У(5Р Н 014 2 66 (21 ) 2873174./ 1:8.-21: (25 ) 34?7311718-21 ..(22) 17.01.80 (23) 22.04.82 (46) 15.08.83. Бюл. В 30 (72) С.Н.Зайцев-и Ю.П. Рогов (53) 621 382(088.8)" (56:) 1. Авторское свидетельство СССР

М 296180, кл. Н 01L 21/66. 14.07.69.

2. Авторское свидетельство СССР

В .557436 кл ° Н 01L 21/66. 04.03.75 ° .(54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СОРТИРОВКИ

ТРАНЗИСТОРОВ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАNETPAM,. преимущественно.с гибкими выводами, содержащее вибробункер с питателем, механизм подачи и ориен тации.с гнездами для транзисторов и механизм для подключения транзисторов к измерительному блоку с эле ментами для разделения выводов, вы полненными в виде подвижного и неподвижного ножей, элементами для прижима выводов к контактной колодке, ..SU„„1 A о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повыщения производительности, оно снабжено дополнительным механизмом для подключения-транзисторов к измерительному .блоку, механизм подачи и ориентации транзисторов выполнен в виде каретки, установленной с возможностью вертикально-поступательного перемещения между основным и дополнительным механизмами для подключения. транзисторов, причем гнезда для транзисторов выполнены в каретке на уровне неподвижных ножей, механизмов для подключения транзисторов, стенки гнезд для транзисторов, расположенные напротив неподвижных ножей, выполНены s виде подпружинен-.i ных эащелок, а один из элементов для прижима выводов к контактной колодке механизма для подключения транзисторов к измерительноьв блоку закреплен. на подвижном ноже, а другой установлен под подвижным но- и жом.

1035682

Изобретение относится к произ водству полупроводниковых приборов и может. быть использовано в электрон ной промьпаленностн для контроля электрических параметров транзисторов.

Известно устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам, содержащее мехайизм подачи, выполненный в виде поворотного реверсивного диска с двумя 10 диаметрально противоположно расположенными гнездами для транзисторов, выполненными в виде койтактных колодок, соединенных гибкими жгутами с измерительным блоком и механизмом для раскладки измеренных транзисторов в тару 11).

Недостатками известного устрой1 ства являются низкая надежность измерения параметров транзисторов, обусловленная измерением электрической емкости и иидуктивности гибких жгутов, при измерении параметров во время поворота диска, низкая производительность, так как в нем не обеспечивается автоматическая загрузка транзисторов с гибкими выводами.

Наиболее близким к. предложенному является устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам, содержащее вибробункер с питателем, механизм подачи и ориентации с гнездами для транзисторов, выполненный в виде транспортирующего диска, и механизм для подключения 35 транзисторов к измерительному блоку с элементами для разделения выводов, выполненными в виде подвижного и неподвижного ножей и элементами для прижима выводов к контактной 4( колодке (2).

Недостатком данного устройства является низкая производительность вследствие несовмещения во времени подготовительных операций загрузки, подачи и ориентации транзисторов с основной операцией контроля транзисторов.

Цель изобретения — повышение производительности. ,р 0

Указанная цель достигается тем,. что устройство для сортировки транзисторов.по электрическим параметрам, преимущественно с гибкими выводамн, содержащее вибробункер с питателем, механизм подачи и ориентации с гнездами для транзисторов и механизм для подключения транзисторов к измерительному блоку с элементами для разделения выводов, выполненными в 60 виде подвижного и неподвижного ножей, элементами для прижима выводов к контактной колодке, снабжено дополнительным механизмом для подключения туунзисторов к измерительному - 5 блоку, механизм под чи и ориентации транзисторов выполнен в виде каретки, установленной с возможностью возвратно-поступательного перемещения между основным и дополнительным механизмами для подключения транзисторов, причем гнезда для транзисторов выполнены в каретке на уровне неподвижных ножей механизма для подключения транзисторов, стенки гнезд для транзисторов, расположенные напротив неподвижных ножей, выполнены в виде подпружиненных защелок, а один из элементов для прижима выводов к контактной колодке механизма для подключения транзисторов к измерительному блоку закреплен на подвижном ноже, а другой установлен под подвижным ножом.

На фиг. 1 показана кинематическая схема устройства на фиг. 2 — каретка и ножи механизма для подключения

1 I транзисторов к измерительному блоку на фиг. 3 — схема устройства, вид сверху.

Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам преимущественно с гибкими выводами, содержит вибробункер 1 с питателем 2, механизм подачи и ориентации транзисторов, выполненный в виде каретки 3 с гнездами 4 и 5, механизмы б и 7 для подключения транзисторов к измерительному блоку с контактными колодками 8 и 9. Один из механизмов б для подключения транзисторов к измерительному блоку содержит элементы для разделения выводов, неподвижный горизонтальный нож 10, подвижный вертикальный нож 11 и элемен ты для прижима выводов к контактной колодке 8, в виде прижимов 12 и 13, а второй (механизм 7 )- горизонтальный нож 14, вертикальный нож 15 и прижимы 16 и 17.

Каретка 3 установлена с возможностью возвратно-поступательного перемещения между механизмами б и 7 для подключения транзисторов к измерительному блоку, гнезда 4 и 5 для транзисторов в каретке 3 на уровне неподвижных горизонтальных ножей 10 и 14 механизмов 6 и 7 для подключения транзисторов к измерительному блоку. Гнезда 4 и 5 выполнены в виде угловых вырезов в каретке, глубина которых меньше диаметра корпуса транзистора, стенки гнезд для транзисторов, расположенные напротив неподвижных ножей 10 и 14, выполнены в виде эащелок 18 и 19, подпружиненых пружинами 20 и 21.

К защелкам 18.и 19 крепятся упоры 22 и 23 соответственнд, фиксирующие угловое положение ключа транзистора.

Над кареткой 3 установлены неподвижные направляющие 24 и 25, выполнен1035682.ные из эластичного материала с боль«аим коэффициентом трения. и защелкам 18 и 19 прикреплены ролики 26 и 27 соответственно. Оба ролика взаимодействуют с копиром 28, размещенным у питателя 2, кроме того ролик 26 взаимодействует с толкателем 29, а ролик 27 - с толкателем .

30, сообщая вертикальные перемещения защелкам 18 и 19 и закрепленным на них упорам 22 и 23. Неподвижные ножи 10 и 14 примыкают к контактным колодкам d и 9 соответственно и установлены в плоскости движения

TDBHBHcTopoB при транспортировании их от питателя 2 к этим колодкам.

Для прохождения подвижных вертикальных ножей 11 и 15 при разделении выводов через горизонтальные 10 и 14. в последних выполнены окна 31 и 32 соответственно. На верхней поверхности каждой иэ контактных колодок

8 и 9 размещены контакты 33 и 34, а на нижней поверхности — по одному контакту (на чертеже не показаны ), предназначенные для подключения к ним выводов транзистора. Эти контакты подсоединены к измерительному блоку. Один из элементов для прижима выводов к контактной колодке механизма б для подключения .транзисторов — прижим 12 закреплен на подвижном вертикальном ноже 11, который размещен над контактной колодкой 8 и закреплен на рычаге 35, второй элемент - прижим 13 установлен под подвижным ножом 11 и закреплен на рычаге 36.

Механизм 7 для подключения транзисторов к измерительному блоку содержит прижим 16, закрепленный на подвижном ноже 15, который закреплен на рычаге 37, а прижим 17 на рычаге 38. Рычаги 35-38 закреп-. лены шарнирно и подпружинены. Рычаги 35 и 37 взаимодействуют с профилем 39 кулачка 40, а рычаги 36 и 38.с профилем 41. Кулачок 40, а также кулачок 42, взаимодействующий с рычагом 43, закреплены на валу 44.Под контактными колодками 8 и 9 размещены соответственно воронки 45 и 46, секции 47 и 48 механизма раскладки, ящики для рассортированных транзисторов.

Устройство работает следующим образом.

Из вибробункера 1 транзисторы поступают в.питатель 2 и rrepeMe««iaются по нему в неориентированном угловом положении. Гнезда 4 и 5 поступательно движущейся каретки 3 поочередно подводятся к питателю 2.

Движение к каретке 3 передается рычагом 43 от кулачка 42 вала 44, вращение которого осуществляется приводом устройства (на чертеже не показан ). При нахождении каретки 3 в крайнем левом положении в ее гнездо 4 загружается транзистор. При этом упор 22, закрепленный на защелке 18, отведен от крайнего верхнего положения эа счет взаимодействия ролика 26 с копиром 28 и не препятствует загрузке в гнездо 4 транзистора независимо от углового положения его корпуса с ключом. В начале движения каретки 3 вправо ролик 26 сходит с копира 28 и упор 22 под. действием пружины 20 приходит в крайнее верхнее положение, необходимое для фиксации углового положения транзистора. При дальнейшем движении

15 каретки 3 вправо транзистор, соприкасаясь верхней частью корпуса с направляющей 24, повертывается в гнезде 4 за счет силы трения этой направляющей до касания ключом упора 22. При ориентированном положении транзистора обеспечиваются наи- . большие зазоры между его выводами в горизонтальном и вертикальном направлениях. Затем этот транзистор

25 йеремещается через зону установки ««еподвижного ножа 10 механизма б для подключения транзисторов к измерительному блоку, в результате чего от всей совокупности выводов изолируется нижний вывод.. В конце хода транзистор вводится в контактную колодку 8, охватывая ее двумя выводами сверху и одним выводом снизу. Одновременно защелка 18 своей правой торцовой частью выгружает из контактной колодки 8 в воронку 45 предыдущий транзистор, измерения которого закончились до подхода каретки и он освободился от механического удержания эа счет отвода от этой колодки 8

40 подвижного ножа 11 с прижимом 12 и прижима 13. По воронке 45 транзистор перемещается к секции 47 механизма раскладки, который в зависимости от результатов измерений нап45 равляет его в соответствующий ящик.

Во время выстоя каретки 3 в крайнем правом положении кулачок 40 сообщает рычагам 35 и 36 движение, направленное к контактной колодке 8.

При движении рычага 35 подвижный нож 11 производит разделение верхних выводов транзистора, в результате чего все три вывода транзистора оказываются изолированными один от другого. При этом прижим 12 произ55 водит по,атие верхних выводов тран зистора к контактам 33 и 34 контактной колодки 8. При движении рычага

36 прижим 13 производит поджатие нижнего вывода транзистора к контакту, установленному на нижней плоскости этой контактной колодки. После поджатия выводов к контактам начинается измерение электрических параметров транзистора, находящегося

65 в гнезде 4. Одновременно при движе1035682 нии рычага 35 толкатель 29, действуя на ролик 26, перемешает вниз

Защелку.18. При обратном движении. каретки,3 транзистор, находившийся в гнезде 4, остается в контактной колодке 8 и не захватывается гнездом, так ki33(зашелка 18 в нижнем положении свободно проходит под этим транзистором, не касаясь его корпуса и выводов. Прижимы 12 и 13 обеспечивают механическое удержание,транзистора., оставшегося в контактной ico- лодке 8. При дальнейшем движении каретки влево ролик 26 сходит с толкателя 29, в результате.чего зашелка 18 под действием пружины 20 возвращается в крайнее верхнее положение. В конце хода каретки влево ролик 26.находит на копир 28, в результате чего эашелка 18 устанавливается по высоте в положение, прй котором прикрепленный к ней упор 22 не препятствует свободной загрузке в

5 гнездо 4 очередного транзистора при любом угловом положении его . корпуса с ключом. Одновременно транзистор, загруженный в гнездо 5 каретки, перемешается кареткой 3 к.механизму 7 для подключения тран10 эисторов, производится операция разделения.выводов транзистора и его подключення к измерительному блоку в той же последовательности как и. для транзистора, загруженного в гнездо 4 каретки 3.

Предложенное устройство позволяет повысить производительность сортировки транзисторов °

; 1035682:

Сестанитель В.— Дрель

Редактор К. Волоиук . Техред.A.Sàáèíåö Корректор;А. Ференц

Эаказ 5845/54 Тирам 703 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, й-35, Рауюская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород; ул. Проектная, 4

Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам Устройство для сортировки транзисторов по электрическим параметрам 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроэлектронике и может использоваться для определения распределения компенсирующей примеси по глубине полупроводника

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх