Имитатор толщины покрытия

 

ИМИТАТОР ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ, выполненный в виде тела переменной толщины из неметаллического электропроводящего материала со шкалой, отличающийся тем, что, с целью упрощения его изготовления, он выполнен с плавно изменяющимся радиусом кривизны поверхности, а шкала нанесена на поверхность имитатора в направлении изменения радиуса кривизны. OQ sj о О)

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

ВИ И:

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1037060 3сю lhз 01 .В 06

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (2i} 3323862/25-28 (22) 29.07.81

:(46) 23.08.83. r . Ю 31 (72) Л.С,Бабаджанов,. Ю.Н.Николаишвили, В.А.Калошин и А.С.Рудаков (53) 620.179.142,5.6(088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

11 539214, кл. G 01 S 7/06, 1975.

2, Авторское свидетельство СССР

h 186145, кл. 4 01 В 7/06,. 1965 (прототип). (54) (57) ИМИТАТОР ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ, выполненный в виде тела переменной толщины из неметаллического электропроводящего материала со шкалой, отличающийся тем, что, с целью упрощения его изготовления, он выполнен с плавно изменяющимся радиусом кривизны поверхности, а шкала нанесена на поверхность имитатора в направлении изменения радиуса кривизны.

1037060 2 дят информацию с помощью мер толщины покрытия о значениях толщины по крытий; сохраняя при этом остальные величины постоянным. 8 этом случае получают шкалу, отградуированную в зависимости от толщины покрытия в единицах длины.

15

25

35

45

Показание толщиномеров покрытий является функцией ряда величин, к которым, в зависимости от принципа действия, относятся толщина покрытия, кривизна поверхности (выпуклая и вогнутая), шероховатость поверхности, 55 толцина основания, электропроводность магHvlTHBR проницаемость и т.д, Длл градуировки толщиномера в негA RBo"

Изобретение относится к контрольно-измерительнй технике и может быть использовано при настройке и проверке электромагнитных толщиномеров.

Известны меры толщины покрытий, представляющие собой металлическое основание с нанесенными клинообразными покрытиями или равномерными покрытиями заданной толщины (1 ).

Однако такие меры сложны в изготовлении, дороги и недолговечны из-за быстрого износа покрытий °

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является имитатор толщины покрытия, представляющий собой тело переменной тол щины из металлического или ферро магнитного материала, установленное на диэлектрической оправке с возможностью перемещения относительно последней и со шкалой, размещенной на оправке P7. ).

Цель изобретения - упрощение изготовления имитатора.

Указанная цель достигается тем, что имитатор толщины покрытия, eb>полненный в виде тела переменной толщины из неметаллического электропроводян1его материала со шкалой, выполнен с плавно изменяющимся радиусом кривизны поверхности, а шкала нанесена на поверхность имитатора в направлении изменения радиуса кривизны, На чертеже показан имитатор толщины покрытия с поверхностью, кривизна которой изменяется по спирали Архимеда в диапазоне 0-100 ° о

Начало Uêàëû соответствует участку тела с наименьшей кривизной (радиус кривизны поверхности наибольший), а конец шкалы — участку с, наибольшей кривизной.

Для имитации толщины покрытия использован эффект влияния кривизны поверхности на показания электромагнитных толщиномеров.

Аналогично можно получить зависимость показаний толщиномера от кривизны поверхности при постоянной толщине покрытия либо вообще без покрытия. При этом для каждого типа толщиномера, определенному максималь»ному радиусу кривизны к соответп ах ствует нулевое показание толщиномера, а минимальному радиусу кривизны R йт п максимальное показание толщиномера.

Следовательно, R соответствует

tYl ClX нулевой толщине покрытия, т.е. показанию толщиномера по мере без покрытия, а Кщ,„соответствует толщине покрытия h +<. Таким образом, тело с перемеййой кривизной с R

< . (1т11il

R; < и можно использовать в качестве ймитатора набора однозначных мер толщины покрытий, состоящего из нескольких мер с толщиной покрытий в диапазоне 0 h. < h

» - mClX

Примером реализвции имитатора толщины покрытия может служить кулачок с плавно меняющийся радиусом кривизны поверхности в виде спирали

Архимеда в диапазоне 0-180 . Для изготовления кулачка выбирают немагнитный электропроводящий материал.

Определяют наибольший В и наименьший R . радиусы кривизны йоверхности, пбп для которых показания толщиномера соответствуют нулю и максимальным показаниям. По полученным значениям и R рассчитывают размеры п и кулачка, построив спираль Архимеда о в диапазоне 0" 180 по известным методикам. Настраивают толщиномер по образцовым мерам толщины покрытия и определяют толщину покрытия Ь, соФах ответствующую максимальному показанию толщиномера, т.е. считают, что соответствует Ь „. На боковой

in части кулачка наносят два штриха, соответствующих радиусам кривизны

В„1 „и R, и обозначают их как 0 т10 1 и П„ „соответственно, Промежуточные точкй шкалы (штрихи)наносят в соответствии с показаниями толщиномера по образцовым мерам толщины покрытия.

Составитель А.Делова

Редактор И,Николайчук Техред Т.Фанта Корректор M.Äåì÷êê

Заказ 5989/41 Тираж 602 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4j5 филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Имитатор прост в изготовлении, . долговечен, так как обладает более высокой износостойкостью Ilo срав"

1037060 нению с покрытиями известных мер толщины, не требует сложной аттестацйи.

Имитатор толщины покрытия Имитатор толщины покрытия Имитатор толщины покрытия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх