Способ определения параметров слабоионизованной однородной плазмы

 

Способ определения параметров слабоионизированной однородной плазмы путем регистрации спектра собственного электромагнитного излучения плазмы и определения по полученному спектру параметров плазмы, отличающийся тем, что, с целью расширения пределов измерения и повышения точности определения параметров плазмы, в плазме образуют мелкомасштабные неоднородности путем ввода мелкодисперсных частиц, причем частицы вводят с температурой плавления, превышающей температуру ионов плазмы, и дозами, обеспечивающими концентрацию частиц, при которой мощность излучения частиц не превышает мощности собственного излучения плазмы.



 

Похожие патенты:

Микротрон // 1022645

Изобретение относится к плазменной технике, а более конкретно к устройствам для ускорения заряженных частиц, и может быть использовано, в первую очередь, для обработки высокоэнергетическими плазменными потоками металлических поверхностей с целью повышения таких их характеристик как чистота поверхности, микротвердость, износостойкость, коррозионная стойкость, жаростойкость, усталостная прочность и др

Изобретение относится к системам тепловой защиты из огнеупорного композитного материала, которые охлаждаются потоком жидкости, и более точно касается конструкции тепловой защиты для отражателя камеры удерживания плазмы в установке термоядерного синтеза, охлаждающего элемента, который использован в конструкции тепловой защиты, и способа изготовления такого охлаждающего элемента

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для получения электрической энергии путем преобразования тепловой энергии плазмы в электрическую

Изобретение относится к области технологии очистки и обезвреживания отходящих газов, газовых выбросов различных производств и процессов, а также плазмохимического синтеза химически активных соединений с использованием электрических методов, в частности к устройству газоразрядных камер, в которых производят процесс детоксикации и очистки
Наверх