Устройство для измерения динамических характеристик цмд- материалов

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ЦМД-МАТЕРИАЛОВ , содержащее поляризационный микроскоп с осветителем, оптически связанные с образцом ЦМД-материала с нанесенным на него магнитным управляющим элементом, а также магнитную систему, соединенную с генератором токов управления и источником постоянного тока, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и точности измерений, магнитный управляющий элемент выполнен в виде набора колец различного диаметра и шириной, соизмеримой с диаметром доменов.в (Л С со 00

СОО3 СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

09) (11)

3(5)) 01 33 12

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

r10 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPGHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3539368/18-21 (22) 12.01.83 (46) 07.05.84 Бюл. 9 17 .(72) Е.И.Ильяшенко, В.Г.Элеменкин, A.A.Ñèäîðîâ и С.Н.Матвеев (53) 621.317.44(088.8) (561 1. Юрченко С.E. Исследование стационарного движения ЦМД по окружности.- "Микроэлектроника", 1979, т..8, tl 5, с. 432.

2. Возво1 F.Ñ., Thiele А.А, Domain vali dynamics measured using cylindrical domain. Z.Appl, Phys. 1970, v. 41, 9 3, р. 1169. (54)(57) УСТРОИСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ЦМД-МАТЕРИАЛОВ, содержащее поляризационный микроскоп с осветителем, оптически связанные с образцом ЦМД-материала с нанесенным на него магнитным управляющим элементом, а также магнитную систему, соединенную с генератором токов управления и источником постоянного тока, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности и точности измерений, магнитный управляющий элемент выполнен в виде набора колец различного диаметра и шириной, соизмеримой с диаметром доменов.

1091098

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения динамических характеристик ЦМД-материалов при их исследовании, а также при контроле технологического процесса производства этих материалов.

Известно устройство для измерения динамических характеристик ЦМД-материалов, содержащее поляриэационный микроскоп с осветителем, в поле зрения которого находится исследуемый образец ЦМД-материала с нанесенными на него токовыми аппликациями для создания управляющего вращающегося магнитного поля, генератор токов уп- 15 равления, соединенный с выводами токовых аппликаций и создающий два синусоидальных тока, сдвинутых по фазе íà 90 )13

Недостатком данного устройства является то, что при измерениях обязательным является изменение токов управления или/и частоты поля управления, что приводит к усложнению конструкции генератора, усложнению процесса измерений и низкой произво.дительности измерений. Значительные токи управления вызывают перегрев проводников и ЦМД-материала; увеличить толщину нанесенных проводников до необходимой величины технологически затруднительно.

Кроме того, измерение радиуса окружности, по которой движется ЦМД (5-15 MKM) в материалах с низким

Удельным фарадеевским вращением, име. ет низкую точность вследствие низкого оптического контраста изображения ЦМД.

Наиболее близким к предлагаемому является устройство, содержащее поля 40 ризационный микроскоп с осветителем, в поле зрения которого помещен образец ЦМД-материала с нанесенным на него магнитным управляющим элементом в виде пермаллоевого диска, магнит- 45 ную систему для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, соединенную с генератором токов. Управления и источником постоянного тока (2J . 50

Однако известное устройство обладает низкой точностью «измерений изза сильной зависимости размеров ЦМД от поля управления вследствие массивности диска, низкой производительностью измерений, так как при измерении предельной (пиковой) скорости цилиндрического магнитного домена необходимо многократно одновременно изменять частоту и амплитуду вра- 60 щающегося магнитного поля.

Цель изобретения — повышение производительности и точности измерений.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве, содержащем поляризационный микроскоп и осветитель, оптически связанные с образцом ЦЙДматериала с нанесенным на него магнитным управляющим элементом, а,также магнитную систему, соединенную с генератором токов управления и источником постоянного тока, магнитный управляющий элемент выполнен в виде набора колец различного диаметра и шириной, соизмеримой с диаметром доменов.

Применение набора колец различного диаметра позволяет, не изменяя каких-либо управляющих переменных (амплитуды токов управления, частоты генератора), сразу определять динамические свойства ЦМД-материала, что приводит к упрощению процедуры измерений и увеличению производительности измерений. Замена диска кольцом (имеющим ширину; примерно равную диаметру ЦМД), позволяет практически исключить изменение диаметра домена при изменении величины вращающегося поля управления за счет того, что глубина и форма магнитостатической ловушки у такой геометрии управляющего покрытия имеет значительно меньшую зависимость от величины поля. управления, чем у диска.

На фиг. 1 изображена блок-схема устройства для измерения динамических характеристик образцов ЦМД-материалов; на фиг. 2 — участок образца

ЦМД-материала с нанесенными на него магнитными управляющими элементами.

Устройство (фиг. 1) содержит осветитель 1, поляриэационный микроскоп

2, магнитную систему 3 для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы б и

ЦМД-материал 7. Осветитель 1 оптически связан с поляриэационным микроскопом 2, в поле зрения которого находится образец ЦМД-материала 7 с нанесенными на него магнитными управляющими элементами б в виде набора колец различного диаметра из магнитомягкого материала. Магнитная система

3 соединена с генератором 4 токов управления и источником 5 постоянного тока. !

Магнитные управляющие элементы б в виде набора колец из магнитомягкого материала, например пермаллоя, наносятся на образец ЦМД-материала 7.

Под кольцами генерируются цилиндрические магнитные домены (ЦЙД) 8. Величины диаметров колец, их количество, ширина колец и расстояния между ними зависят от типа исследуемого ЦМД-маТериала и требуемой точности измерений. Диаметры колец могут быть от де1091098 п= "макс

ВНИИПИ Заказ 3076/42 Тираж 711 Подписное

Филиал ППП "Патент", r Ужгород, ул.Проектная, 4 сятков до тысяч микрон, ширина составляет 0,3 — 2,0 диаметра домена. устройство работает следующим образом.

С помощью магнитной системы 3 и источника 5 постоянного тока создается магнитное поле смещения величины, достаточной для образования ЦМД на участках образца ЦМД-материала под магнитными управляющими элементами. От генератора 4 токов управле- 10 ния в магнитную систему 3 подают два тока одной и той же частоты, сдвинутые по фазе на 90о Этими токами в магнитной системе создается вращающееся магнитное поле, которое генери-!5 рует вращающиеся магнитостатические ловушки под каЖдым кольцом магнитных управляющих элементов б в ЦМД-материале 7. ЦМД 8, попавший в магнитостатическую ловушку, движется со ско 2п ростью, равной скорости движения маг. нитостатической ловушки: Частота генератора 4 токов управления фиксирована, йоэтому ЦМД в магнитостатических ловушках, созданных кольцами раз-25 ного диаметра, движутся с разными скоростями, зависящими от диаметров колец. Как следует иэ физических .принципов движения ЦМД, при скорости движения меньшей или равной пре-, дельно (пиковой) для данного ЦМД-ма- З0 териала домен движется по круговой траектории, отставая по фазе от центра магнитостатической ловушки на некоторый угол, увеличивающийся с увеличением диаметра кольца. Если скорость магнитостатической ловушки превышает предельную скорость ЦМД для данного материала, то ЦМД либо выска. кивает из ловушки и коллапсируется, либо имеет скачкообразное (прерывис- 40 тое) движение. Поляризованный свет от осветителя 1 попадает через опак-. иллюминатор поляризующего микроскопа 2 на образец ЦМД-материала 7, отражается от магнитных управляющих элементов 6, снова проходит ЦМД-материал 7 и попадает в поляризационный микроскоп 2, с помощью которого наблюдают траектории движения ЦМД.

За счет наблюдения на "двойном" эффекте Фарадея оптический контраст изображения ЦМД увеличивается почти в два раза. Для удобства наблюдения возможно применение телевизионного поляризационного микроскопа, Фиксируя номер кольца с максимальным диаметром, под которым еще наблюдается непрерывное движение ЦМД„ определяют предельную скорость ЦИД для данного материала по формуле где Q — круговая частота вращающегося магнитного поля;

8ма„ - максимальный радиус кольца, при котором еще наблюдается непрерывное движение ЦИД.

Подвижность ЦМД определяют по измеренной предельной скорости ЦМД и перепаду поля в магнитостатической ловушке на диаметре ЦМД, при котором

ЦМД "выскакивает" из ловушки ° Перепад поля определяют расчетным путем, исходя из формы магнитостатической ловушки, величины вращающегося магнитного поля и диаметра ЦМД.

Применение устройства позволяет повысить производительность измерений эа счет упрощения процедуры измерений, увеличить точность измерений за счет исключения зависимости диаметра ЦМД от величины вращающегося магнитного поля.

Устройство для измерения динамических характеристик цмд- материалов Устройство для измерения динамических характеристик цмд- материалов Устройство для измерения динамических характеристик цмд- материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к испытательной технике контроля и может быть использовано при испытаниях и эксплуатации энергетических установок, при контроле рабочих режимов турбин, двигателей и компрессоров

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для допускового контроля магнитных свойств постоянных магнитов, ферритовых сердечников и других изделий из магнитных материалов, в том числе магнитомягких

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники в машиностроении и черной металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в технологических процессах добычи и переработки железных руд на горнообогатительных комбинатах
Наверх