Способ измерения апертурной характеристики электронно- лучевых приборов

 

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АПЕРТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫХ ПРИБОРОВ путем модуляции интенсивности движущегося электронного луча, отличающийся тем, что, с целью повьш1ения точности и упрощения процесса измерения , модуляцию осуществляют установкой в плоскость фокусировки электронного луча экрана с группами щелей , ширина которых периодически изменяется в направлений движения луча, а апертурную характеристику определяют по изменениям коэффициентов модуляции. (Л со сд Фи9.1

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (1И

5104 А

31 Р С 01 R 29/06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ " ®ОИк

Основы

M., ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3502579/18-21 (22) 15. 10 .82 (46) 30.05.84. Бюл. М - 20 (72) Н.Н. Карпов, Ю.M. Кузьмин, С.Н. Макеев, В.Г. Попов и В.Н. Шерехора (53) 621.317 (088.8) (56) 1. Кривошеев M. И. телевизионных измерений.

"Связь", с. 271-275.

2. Гдалин В.С. Измерение пара метров телевизионных передающих и приемных трубок. M. "Советское радио", 1978, с. 209-216 (прототип). (54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АПЕРТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕBbIX ПРИБОРОВ путем модуляции интенсивности движущегося электронного луча, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения, модуляцию осуществляют установкой в плоскость фокусировки электронного луча экрана с группами щелей, ширина которых периодически изменяется в направлении движения луча, а апертурную характеристику определяют по изменениям коэффициентов модуляции.

1095104

Изобретение относится к области электронно-лучевых приборов, а точнее к области измерения параметров, электронно-лучевых приборов,и может быть использовано при разработке и испытаниях электронно-лучевых приборов в условиях выборочного контроля партии приборов при действии дестабилизирующих факторов.

Современные способы измерения апертурной характеристики (АХ) основаны на измерении контраста мэлких деталей изображения, воспроизводимого на экране электронно-лучевых приборов (ЭЛП), с учетом влияния послесвечения люминофора и явления ореола.

Известен способ измерения контраста путем анализа движущейся яркостной волны с помощью микрофотометра с неподвижной щелью,относящийся к объективным методам измерения, оценивающим элементом которых служат электронно-оптические приборы, как правило фотоэлектронные умножители (1).

Известные объективные методы имеют ряд недостатков: невозможность проведения дистанционных измерений, длительный цикл проведения измерений, недостаточно высокая точ" ность измерений, обусловленная непрямым характером измерения АХ и принципиальной трудностью достижения требуемой высокой стабильности развертки ЭЛП по отношению к измерителю яркости, применение сложного комплекса измерительной аппаратуры.

Наиболее близким по технической сущности к предложенному- является способ измерения апертурной характеристики ЭЛП путем модуляции интенсивности движущегося электронного луча. Данный способ применяется в основном для просвечивающих трубок с использованием штриховой испытательной таблицы с группами штрихов различной ширины 52).

К недостаткам этого способа относится непригодность его для дистанционных измерений, сложность комплекса измерительной аппаратуры, необходимость проведения дополнительных измерений, обусловленная непрямым характером измерения АХ, большие зат« рати времени, недостаточно высокая точность измерений.

30 тронов 5, ЭЛТ включена в цепь резистора 6 нагрузки, сигнал с которого выводится через усилитель 7 на регистрирующее устройство 8.

З5 Способ измерения АХ состоит в следующем (см.фиг.1). Внутрь ЭЛП 1 в плоскости фокусировки электронного;

lay a устанавливается экран 2 с группами щелей различной. ширины, затем располагается фигурная диаграм; ма 3, соединенная с эквадагом 4, далее накодится коллектор электро- . нов 5. Потенциалы экрана, диафрагмы и коллектора выбираются из условия

45 подавления вторичной эмиссии электронов с экрана и коллектора. Электронный луч развертывается в однократном режиме поперек щелей. Сигнал с резистора б нагрузки, включенного с в цепь коллектора электронов 5, поступает на усилитель 7 с малым уровнем шумов и далее на регистрирующее устройство 8, в качестве которого удобно использовать осцил55 лограф.По осциллограммам определяются коэффициенты модуляции и строится апертурная характеристика.

Примерный вид осциллограммы и соответствующая ей АХ приведены на

1О

Цель изобретения — повышение точности и упрощение процесса измерения.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения апертурной характеристики электроннолучевых приборов путем модуляции интенсивности движущегося электрон" ного луча, модуляцию осуществляют установкой в плоскость фокусировки электронного луча экрана с группами щелей, ширина которых периодически изменяется в направлении движения луча, а апертурную характеристику определяют по изменениям коэффициентов модуляции.

На фиг. 1 изображена схема апертурной характеристики, на фиг,2,3 осциллограмма сигнала и соответствующая ей апертурная характеристика, на фиг.4 — эскиз экрана с щелями, примененный при исследованиях ЭЛП типа 13 ЛН2; на фиг. 5,6 - осциллограмма при развертке электронного луча по А-А и В-В.

Схема апертурной характеристики состоит из ЭЛП 1, содержащего экран

2 с группами щелей, фигурную диаграмму 3, аквадаг 4, коллектор элек1095104 фиг;2,3. Время снятия характеристики определяется периодом развертки одной строки.

Располагая группы щелей в различных местах, а также во взаимно перпендикулярных направлениях, можно получить АХ для любого интересующего участка растра, а также продольные и поперечные АХ и, кроме того, определять размеры электрон- 10 ного пятна и оценивать его астигматизм. Геометрические размеры экрана, ширина щелей в группах, количество групп, их взаимное расположение 15 на экране, скорость развертки электронного луча определяются типом и назначением ЭЛП, диаметром электрон " ного луча в плоскости фокусировки, а также характером поставленной задачи.

Способ измерения АХ применяется при исследованиях ЭЛП типа 13 ЛН2 на воздействие статических и импульсных дестабилизирующих факторов. 25

Экран с группами щелей изготавливается из листового никеля размером

100 х 100 х 0,1 мм электрохимическим способом с применением фотометографии, что обеспечивает высокую 3g точность изготовления. Эскиз экрана приведен на фиг.4. Группы щелей располагают двумя рядами, причем ширина щелей равняется расстоянию между ними и составляет 1,5, 1,2, 1,0, 0,9;

0,8, О,б; 0,7; 0 5 мм. Кроме того, на экране имеются щели шириной 4 мм для образования сигнала, соответствующего полному току электронного луча.

Типовые осциллограммы приведены на фиг.5,6. По осциллограмме определяют коэффициенты модуляции К как отношение переменной составляющей сигнала к полному току луча и строят график зависимости К от ширины щели, т.е. апертурную характеристику.

Предложенный способ измерения АХ позволяет проводить дистанционные измерения АХ, а значит измерения АХ при испытаниях ЭЛП в условиях выборочного контроля партии приборов на воздействие дестабилизирующих фак,торов, вредных для человека, существенно сократить время измерений (доли секунд) по сравнению с известными способами (десятки минут), что расширяет функциональные возмож-, ности способа, например появляется возможность .проводить измерения АХ в заданное очень короткое время (такая необходимость возникает при исследованиях на действие импульсных дестабилизирующих факторов) . Кроме того, способ позволяет упростить процесс измерений, сократить количество измерений, избежать негативного влияния целого ряда факторов, таких как нелинейность модуляционной характеристики, изменение апертуры луча из-за модуляции, послесвечение люминофора, явление ореола и т.д. Вследствие этого повышается достоверность и точность измерений в 2 раза.

1095104

О, 700 200 300 Ф00 500 N ëèî

@gal ф

Развертка ив д-A. Pvc.S юав iu г-в

Pvc. С щщцдц Заказ 3588/27 Тираж 711

Полисное г.Ужгород, ул.Проектная, 4