Способ определения чистоты поверхности (шероховатости)

 

№ 111923

Класс 42Ь, 12оз

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А. И. Квачева и Н. Д. Дручак

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ (ШЕРОХОВАТОСТИ)

Заявлено 7 января 1957 г. за № 564101 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Существующие способы оценки чистоты поверхностей, в том числе и основанные на интерференции света, являются косвенными. Они дают усредненные значения высот микронеровностей поверхности (средняя высота неровностей, средняя квадратичная высота и др.). суповые приборы не обеспечивают точного воспроизведения профиля поверхности, а показывают лишь огибающую микронеровностей, соответствующую радиусу затупления иглы.

В отличие от существующих, предлагаемый способ дает возможность получать непосредственно на экране или фотопластинке теневое изображение поверхности любого класса чистоты путем направления потока электронных лучей на экран или фотопластинку касательно к поверхности детали, что является HQBbIM техническим достижением, расширяющим возможности исследовательских работ в области микрогео» метрии поверхностей.

На фиг. 1 представлена схема получения теневого электронно-микроскопического изображения реального профиля поверхности образца; на фиг. 2 — изображение реального профиля части образца; на фиг. 3 и

4 — электронограммы профиля поверхности шара после полировки и доводки; на фиг. 5, б и 7 — электронограммы профиля участка поверхности шарика после длительной эксплуатации.

В предлагаемом способе исследования микрогеометрии поверхности образца любой конфигурации разработана схема применения прибора с отраженным пучком электронов при включении только одной (второй) электромагнитной линзы.

Схема применения прибора состоит из источника электронов 1, первой электромагнитной линзы 2, второй электромагнитной линзы Г, образца 4, пучка электронов 5, экрана или фотопластинки б. На фиг. 2 представлено теневое электронно-микроскопическое изображение реальной поверхности части образца 1, теневое электронно-микроскопическое изображение диафрагмы 2 и экран электронографа 8. № 111923

По этой схеме поток электронов омывает край поверхности образца и на экране электронографа получается теневой рисунок профиля поверхности с черезвычайно большой точностью, так как поток электронов свободно проникает в мельчайшие углубления и обрисовывает истинный профиль поверхности, чего не достигалось никаким другим методом в случае исследования поверхностей с чистотой от 10 класса и выше по

ГОСТУ 2789-51.

Кроме точного определения величины неровностей новый способ дает возможность определить характер расположения неровностей в зависимости от метода обработки.

Предмет изобретения

Способ определения чистоты поверхности (шероховатости), о тл и -, чающийся тем, что, с целью повышения точности определения параметров, характеризующих чистоту поверхности (шероховатость), направляют поток электронных лучей на экран или фотопластинку касательно к поверхности детали и по полученному теневому изображению действительного профиля микронеровностей поверхности "удят о чистоте поверхности (шероховатости).

Фиг. 2