Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МАГНИТНЬК ГОЛОВОК , содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральной магнитной головки, генератор испытательного сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми головками , и блок управления, выход которого подключен к входу генератора , о тличающееся т.ем, что, с целью повышения достоверности контроля качества интегральных магнитных головок, в него дополнительно введены второй генератор испытательного сигнала и вторая токопроводящая шина , причем вход второго генератора испытательного сигнала подключен к выходу устройства управления, а выход - к второй токопроводящей шине, которая размещена на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первой токопроводящей шине, над или под ней.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (1% (11)

gag G 11 В 546

ОПИСАНИЕ NSOBPETEHNR

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3648912/24-10 (22) 03. 10. 83 (46) 07.10.84. Бюл, М 37 (72) В.А. Зайцев, В.В. Белоус, Л.И. Вулло и А.А. Синьковский (53) 534.852.2(088.8) (56) 1. Ефимов Е.Т. Магнитные головки. N., "Энергия", 1976, с. 72.

2. Авторское свидетельство СССР

Ф 1012338, кл. С 11 В 5/46.

3. Патент США N - 3710235, кл. 324/342, 1973 (прототип). (54)(57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МАГНИТНЫХ ГОЛОВОК, содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральной магнитной головки, генератор испытательного сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми го" ловками, и блок управления, выход которого подключен к входу генератора, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что. с целью повышения. достоверности контроля качества. интегральных магнитных головок, в него дополнительно введены второй генератор испытательного сигнала и вторая токопроводящая шина, причем вход второго генератора испытательного сигнала подключен к выходу устройства управления, а вы1 ход — к второй токопроводящей шине, которая размещена на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первой токопроводящей шине, над или под ней.

1117691

Изобретение относится к области приборостроения, в частности к устройствам для контроля качества интег- ральных магнитных головок (ИМГ), и может быть использовано на разных стадиях изготовления ИМГ.

Известно и широко распространено устройство контроля ИМГ, содержащее контрольный магнитный диск, тракты записи и воспроизведения, тест сигна- 10 ла, элементы позиционирования ИМГ и механизм вращения диска $1 ).

Недостатки устройства — большие аппаратурные затраты и невозможность контроля качества ИМГ на ранних ста- 15 днях изготовления (до резки подложки на элементы и установки их в держатель) .

Известно также устройство контроля магнитных головок (МГ), содержащее 20 не менее двух обмоток в процессе изготовления, состоящее из генератора испытательного гармонического сигнала, подключенного к одной обмотке

МГ, и измерителя нелинейных-иска- 25 жений, подключенного к другой обмотке Ml (2 ).

Недостатками данного устройства являются, во-первых, невозможность контроля МГ, содержащих только одну Зр обмотку. и, во-вторых, недостаточная чувствительность к дефектам в области зазора МГ.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для контроля качества интегральных магнитных головок, содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральных магнитных головок, генератор испытательно- 40

ro сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, и блок управления, выход которого подключен 45 к входу генератора.

Известное устройство работает следующим образом.

Ток, создаваемый генератором испытательного сигнала: g. токопроводящей шине, индуциру т эаектродвижущую си1 лу в обмотке контролируемой МГ, воздействующую на анализатор сигнала.

Анализатор сигнала преобразует инфор-5 мацию о качестве ИМГ, ймеющуюся во входном сигнале, в удобную для оператора форму (3 ).

Недостатком известного устройства является низкая достоверность контроля.

Цель изобретения — повышение достоверности контроля качества ИМГ.

Указанная цель достигается тем, что в устройство для контроля качества интегральных магнитных головок, содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральной магнитной головки, генератор испытательного сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, и блок управления, выход которого подключен к входу генератора, дополнительно введены второй генератор испытательного сигнала и вторая токопроводящая шина, причем вход второго генератора испытательного сигнала подключен к выходу устройства управления, а выход — к второй токопроводящей шине, которая разме-. щена на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первой токопроводящей шине, над или под ней.

Введение второго генератора и второй токопроводящей шины позволяет создать в области зазора ИМГ вращающееся (перемещающееся) магнитное поле, интерференционный ноль (минимум) которого совершает возвратнопоступательные движения в плоскости полюсных наконечников поперек зазора ИИГ.

Повышение достоверности контроля по сравнению с известным устройством достигается за счет того, что пространственно-временная структура поля, создаваемого предлагаемым устройством, подобна структуре поля, воздействующего на зазор МГ пфи считывании информации, записанной на магнитный диск, а проверка по рабочему сигналу всегда является предпочтительной, в частности, для контроля эффективной ширины рабочего зазора МГ. Уровень выходного сигнала контролируемой ИМГ определяется соотношением токов генератора и., эффективной шириной рабочего зазора.

Повьппение достоверности контроля по сравнению с устройством 2 g достигается за счет повышения чувствительности к параметрам зазора, магнитное сопротивление которого сравнительно невелико и слабо влияет на измеряемый

1117691 уровень коэффициента нелинейных искажений устройства (2 j даже при наличии короткого замыкания зазора.

На фиг. 1 приведена функциональная схема устройства; на фиг. 2 — конструкция ИМГ с расположенными на ней токопроводящими,шинами; на фиг. 3— временные диаграммы напряженности магнитных полей.

Функциональная схема устройства 10 (фиг. 1) содержит устройство 1 управления, подключенное к входу первого генератора 2 испытательного сигнала, к выходу которого подключена токопроводящая шина 3. Устройство управле- 15 ния подключено также к входу второго генератора 4 испытательного сигнала, к выходу которого подключена токопроводящая шина 5. К выходу ИМГ 6 подключена схема 7 анализа наведенного в 20

ИМГ сигнала.

ИМГ (фиг. 2) включает подложку 1, проводник 2 и подковообразный ферроматериал 3, который образует передний

4 и задний 5 зазоры. Параллельно плос-25 кости полюсных наконечников размещена токопроводящая шина 6, а с обратной стороны (параллельной) — токопроводящая шина 7.

Устройство работает следующим об- у0 разом.

Управляемые устройством 1 управления и генераторы 2 и 4 испытательного сигнала создают в токопроводящих шинах 3 и 5 противоположно направленные импульсы тока трапецеидальной формы, сдвинутые друг относительно друга во времени таким образом, чтобы создаваемые им напряженности магнитного поля (фиг. 3 а, b ) создавали суммарную напряженкость магнитного поля в области зазора HMI 6, изменяющуюся по пилообразному закону (фиг. 3 в ). Схема 7 анализа, в простейшем случае осциллограф, показывает сигнал, наводимый в ИМГ, по .кОторо. му, например, методом сравнения с эталоном можно судить о качестве контролируемой ИМГ.

Техническая эффективность изобретения по сравнению с известным устройством заключается в повышении достоверности контроля параметров зазора ИМГ, что объясняется большей чувствительностью предлагаемого устройства к параметрам зазора за счет сканирования поля в плоскости зазора.

Зкономическая эффективность от повышения достоверности контроля ИМГ заключается в уменьшении потерь от своевременно выявленного брака.

1117691

Составитель А. Ерошкевич

Редактор В. Иванова Техред О.Неце

Корректор И. Муска

Филиал IIIIII "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 7263/36 Тираж 574 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитной записи на различных видах носителей и ее воспроизведению, хранению больших массивов данных, особенно в переносных и бортовых компьютерах, изготовлению кредитных карточек повышенной надежности

Изобретение относится к цифровым видеомагнитофонам и, в частности, к устройству и способу для записи и воспроизведения высокоприоритетной цифровой видеоинформации содержащейся в улучшенном телевизионном сигнале /ATV/, в зонах дорожки, которые воспроизводятся в высокоскоростных режимах воспроизведения

Изобретение относится к способу и устройству для воспроизведения звукового и/или видеосигнала, записанного на магнитной полосе

Изобретение относится к электронной технике и предназначено для производства магнитных носителей информации

Изобретение относится к перемагничиванию магнитного слоя с плоскостной намагниченностью

Изобретение относится к усовершенствованному многоразрядному магнитному запоминающему устройству с произвольной выборкой и способам функционирования и производства такого устройства

Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано при регистрации результатов обработки информации от многих объектов обработки
Наверх