Дефектоскоп с автоматической разбраковкой

 

ДЕФЕКТОСКОП С АВТОМАТИЧЕСКОЙ РАЗБРАКОВКОЙ, содержаний вращающийся барабан и блок магнитных головок, установленньй на барабане, состоящий из двух магнитных головок, обмотки которых вюпючены дифференциально, . соединенные последовательно полосовой управляемый усилитель, подключенный к блоку магнитных головок, и индикатор , исполнительный механизм и компараторj подключенный к выходу управляемого полосового усилителя, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, он снабжен соединенными последовательно блоком интегрирования и вторым компаратором, включенными между выходом первого компаратора и входом исполнительного механизма, вход управления управляемого полосового усилителя подключен к выходу второго компаратора, а магнитные головки установлены на барабане таким образом , что плоскости их рабоч1« зазосл ров совпадают, линии зазоров параллельны , одна из головок смеще а ,. , в радиальном направлении к осп барабана и снабжена немагнитным слоем из диэлектрика, размеще1П ым над рабочим зазором. О5 ч1 се fptfs.f

СОЮЗ COBETCHHX

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51) С 01 И 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСН0МУ СВИДЕТИЧЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3609055/25-28 (22) 23.06.83 (46) 15.07.85. Бюл. ¹ 26 (72) В.В. Павлюченко, В.В. Специан и А.А. Доштер (71) Белорусский ордена Трудового

Красного Знамени политехнический институт (53) 620. t79.14(088.8) (56) 1. Авторское свидетельство CCCP №- 208313, кл. G 01 И 27/90, 1972.

2, РИ, "Дефектоскопия". Магнитографический дефектоскоп для контроля цилиндрических изделий, J979, № 3,— с. 103 (прототип), (54) (57) ДБФЕКТОСКОП С АВТОМАТИЧЕСКОЙ

РАЗБРАКОВКОЙ, содержащий вращающийся барабан и блок магнитных головок, установленный на барабане, состоящий из двух магнитных головок, обмотки которых включены дифференциально, соединенные последовательно полосовой

„,SU,, 1167490 А управляемый усилитель, подключенный к блоку магнитных головок, и индикатор, исполнительный механизм и компаратор; подключенный к выходу управляемого полосового усилителя, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, он снабжен соединенными последовательно блоком интегрирования и вторым компаратором, включенными между выходом первого компаратора и входом исполнительного механизма, вход управления управляемого полосового усилителя подключен к выходу второго компаратора, а магнитные головки

I» установлены на барабане таким образом, что плоскости их рабочих зазоров совпадают, линии зазоров параллельны, одна из головок смещена С и радиальном направлении к осн барабана и снабжена немагнитным слоем из диэлектрика, размещенным над рабочим зазором.

Феей

1 1167

Изобретение относится к средствам нераэрушающего контроля материалов и изделий и может быть использовано для разбраковки изделий из ферромагнитных материалов. 5

Известен дефектоскоп, содержащий намагничивающую катушку, соединенные последовательно измерительную катушку, лентопротяжной механизм с магнитным носителем, блок обработки сигналов 10 и бири ретистрации $i ).

Недостатком известного дефектоскопа является низкая надежность контроля дефектов иэ-за зависимости амплитуды сигнала от протяженности дефекта.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является дефектоскоп с автоматической разбраконкой, содержащий вращающийся барабан и блок магнитных головок, установленный на барабане, состоящий из двух магнитных головок, обмотки которых включены дифференциально, соединенные последовательно полосовой . 25 управляемый усилитель, подключенный к блоку магнитных головок, и индикатор, исполнительный механизм и компаратор, подключенный к выходу управляемого полосового усилителя (2 ), 30

Недостатком данного дефектоскопа является низкая помехоустойчивость работы, а следовательно, и недостаточная надежность контроля.

Цель изобретения — повышение на35 дежности контроля.

Поставленпая цель достигается тем, что дефектоскоп с автоматической разбраконкой, содержащий вращающийся барабан и блок магнитных головок, 10, установленный на барабане, состоящий из двух магнитных головок, обмот- ки которых включены дифференциально, соединенные последовательно полосовой управляемый усилитель, подключенный к блоку магнитных головок, и индикатор, исполнительный механизм и компаратор, подключенный к выходу управляемого полосового усилителя, снабжен соединенными последовательно50 блоком интегрирования и вторым компаратором, включенными между выходом первого компаратора и входом исполнительного механизма, вход управления управляемого полосового усилите- Б, ля подключен к выходу второго компаI ратора, а магнитные головки установлены на барабане таким образом, что

490 2 плоскости их рабочих зазоров совпада. ют, линии зазоров параллельны, одна из головок смещена в радиальном направлении к оси барабана и снабжена немагнитным слоем из диэлектрика, размещенным над рабочим зазором.

На фиг. 1 изображена блок-схема дефектоскопа с автоматической разбраковкой; на фиг. 2 " схема расположения магнитных головок.

Дефектоскоп содержит соединенные последовательно блок 1 магнитных головок, управляемый полосовой усилитель 2 и индикатор 3.

Кроме того, дефектоскоп содержит так же соединенные последовательно компаратор 4, блок 5 интегрирования, второй компаратор 6 и блок 7 разбраковки, выход которого предназначен для подключения к исполнителыюму механизму (не показан) . Выход второго компаратора б подключен к входу управления управляемого полосового усилителя 2.

Блок 1 магнитных головок содержит вращающийся вокруг своей оси барабан

8, две магнитные головки 9 и 10 с рабочими зазорами 11 и 12 соответственно, установленные на барабане

8 таким образом, что линии их рабочих зазоров 11 и 12 параллельны, плоскости рабочих зазоров i 1 и 12 совпадают, рабочий зазор 11 магнитной головки 9 установлен на образующей барабана 8, а рабочий зазор 12 магнитной головки 10 смещен в радиальном направлении.

Блок .1 магнитных головок содержит также немагнитный слой 13 из диэлектрика, установленный под рабочим зазором 12 магнитной головки 10.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Магнитная головка 9, нращаясь вокруг оси барабана 8, считывает информацию с магнитного носителя (не по+ казан), который предварительно находился в контакте с контролируемым изделием (не показано).

Так как магнитная головка 10 установлена на некотором расстоянии от поверхности магнитного носителя, то на нее сигнал не поступает, а так как магнитные головки 9 и 10 включены дифференциально, то такое расположение магнитных головок 9,и 10 компенсирует различные электромаг\ нитные помехи. С цельш исключения

Составитель В. Глазков

Техред С.йовжнй Корректор О. Тигор

Редактор Е. Конча

Тираж 897 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, 3-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 4426!41

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 11 экранирующего действия слой над второй магнитной головкой изготавливают из немагнитного диэлектрика.

Полученный сигнал поступает на вход . полосового управляемого усилителя 2, полоса пропускания которого, с целью увеличения помехоустойчивости, выбирается с учетом размеров отпечатков полей дефектов и скорости вращения барабана 8, усиленный сигнал поступает на вход индикатора 3, обеспечивающего визуальную регистрапию результатов контроля, и на вход первого комларатора 4. При уровне сигнала выпе порогового сигнал с выхода компара1

67490 4 тора 4 поступает на блок 5 интегрирования.

Параметры интегрирования выбираются таким образом, что появление

5 одиночных помех на выходе компаратора 4 не вызывает появления сигнала на выходе блока 5 интегрирования. В случае же появления регулярного сигнала от дефекта на выходе блока 5

10 интегрирования появляется сигнал, вызывающий срабатывание компаратора

6, который включает блок 7 разбраковки и одновременно отключает управляемый полосовой усилитель 2, что npet5 пятствует прохождению помех в блок 5 интегрирования.

Дефектоскоп с автоматической разбраковкой Дефектоскоп с автоматической разбраковкой Дефектоскоп с автоматической разбраковкой 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх