Способ определения положения плоскости наводки зеркального фотоаппарата

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТИ НАВОДКИ ЗЕРКАЛЬНОГО ФОТОАППАРАТА , заключающийся в том. что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображения ориентированного на бесконечность объектива, наблюдают изображение тест-объекта, производят наводку на резкое изображение его посредством оптического сопряжения -плоскости наводки фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора, отличающийся тем, что, с целью повьгшения точности, изображения тестобъекта в виде световых полос, образованных при просвечивании микрорастра , наблюдают через коллиматор, при этом микрорастр, расположенный в плоскости наводки фотоаппарата, просвечивают в направле.нии, обратном ходу лучей коллиматора.

„„SU„„ I 191872

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 G 03 В 43/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

« " »

» Ü» S k 1 l

Ч: (С, ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ПЛОСКОСТИ НАВОДКИ ЗЕРКАЛЬНОГО ФОТОАППАРАТА, заключающийся в том, (21) 3537512/24-10 (22) 01.11.82 (23) 21.03.80 (46) 15.11 85. Бюл. h - 42 (72) Ю.С. Парняков, В.Т. Гордейчик и Н.П. Исаев (53) 601.7.028(088.8) (56) 1. Ельников Н.T. и др. Сборка и юстировка оптико-механических приборов. М.: Машиностроение, 1974,. с. 246-247.

2. Ефремов А.А. и др. Сборка опти. ческих приборов. М.: Высшая школа, 19789 с. 270-271. что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображения ориентированного на бесконечность объектива, наблюдают изображение тест-объекта, производят наводку на резкое изображение его посредством оптического сопряжения плоскости наводки фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора, о т л и ч а— ю шийся тем, что, с целью повышения точности, изображения тестобъекта в виде световых полос, образованных при просвечивании микрорастра, наблюдают через коллиматор, при этом микрорастр, расположенный в плоскости наводки фотоаппарата, просвечивают в направлении, обратном ходу лучей коллиматора.

1191872

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике для испытания зеркальных фотоаппаратов, в частности для определения расстояния от фокальной плоскости,установленно- 5 но иа бесконечность объектива фотоаппарата до плоскости наводки, центральная часть поверхности которой снабжена микрорастром.

Известен способ определения положения плоскости наводки зеркального фотоаппарата с помощью контрольного устройства (длиннофокусного колиматора), плоскость сетки (мира) которого в начальном положении отсчетной шкалы совмещена с фокальной плоскостью его объектива.

В известном способе проэводят оптическое сопряжение плоскости наводки с плоскостью установки сетки (миры) контрольного устройства путем изменения расстояния между плоскостью сетки и фокальной плоскостью объектива контрольного устройства с последующим отсчетом по шкале коллиматора расстояния между плоскостью наводки и фокальной плоскостью объектива фотоаппарата. При оптическом сопряжении плоскостей наблюдают резкое изображение -сетки через лупу, 30 расположенную эа мостовой пластиной (1 J.

Недостатком известного способа является низкая точность определения положения плоскости наводки, которая З5 обусловлена большой глубиной резкости изображаемого пространства лупы увеличения 8-10" и, следовательно, низкой чувствительностью продольного наведения на резкость, изображения 4б сетки (миры).

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ определения положения плос- 45 кости наводки зеркального аппарата, заключающийся в том, что совмещают плоскость наводки коллиматора с плос" костью изображения ориентированного на бесконечность объектива фотоап- 50 парата, в плоскости наводки которого располагают поверхность наводки, наблюдают изображения тест-объекта (миры ), установленного в плоскости наводки коллиматора, производят на- 55 водку на резкое изображение миры посредством оптического сопряжения плоскости наводки объектива фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора 2 3.

Однако данный способ имеет принципиальные ограничения повышения точ" ности из-за уменьшения глубины резкости оптической системы наблюдения изображения тест-объекта, особенно в случае контроля зеркальных фотоаппаратов, в центральной части поверхности наводки которых расположен микрорастр, представляющий собой систему микропирамид.

Это вызвано тем, что наклонные поверхности микропирамид микрорастра действуют как оптические клинья при прохождении лучей, участвующих в построении иэображения сетки (миры ), и вносят в оптическое изображение значительные искажения (нерезкость, размытость, хроматизм и т.п.,1. Эти искажения при больших увеличениях, требующихся для обеспечения малой глубины резкости, достигают значительной величины и изображение становится настолько расплывчатым и окрашенным, что невозможно наведение на его резкость и проведение измерений при использовании оптических систем наблюдения, обеспечивающих глубину резкости менее 10 мкм, для повышения точности измерений, Целью изобретения является повышение точности определения положения плоскости наводки зеркального фотоаппарата, в центральной части поверхности которой расположен микрорастр.

Указанная цель достигается тем, что по способу определения положения плоскости наводки зеркального фотоаппарата, заключающемуся в том, что совмещают плоскость наводки коллиматора с плоскостью изображения ориентированного на бесконечность объектива, наблюдают изображение тест-объекта, производят наводку на резкое иэображение его посредством оптического сопряжения плоскости наводки фотоаппарата с плоскостью наводки коллиматора, изображения тестобъекта в виде световых полос, образованных при просвечивании микрорастра, наблюдают через коллиматор, при этом микрорастр, расположенный в плоскости наводки фотоаппарата, просвечивают в направлении, обратном ходу лучей коллиматора, 1191872

На фиг. 1 показана схема устройства для реализации способа; на фиг. 2 — узел на фиг. 1 ° Устройство, реализующее предлагаемый способ, включает источник 1 5 света, установленный-за линзой Френеля 2 в канале визирования испытуемого зеркального фотоаппарата 3.

Лииза Френеля 2 имеет микрорастр 4 в центре матовой поверхности а, обра- 10 щенной к зеркалу 5 фотоаппарата 3 и являющейся поверхностью наводки, которая в отъюстированном фотоаппарате 3 должна совпадать с фокальной плоскостью фотообъектива 6, ус- 15 тановленного на бесконечность. Beличину несовпадения поверхности а наводки с фокальной плоскостью определяют с помощью оптического контрольного устройства (коллиматора ), 20 состоящего из длиннофокусного объектива 7, положение которого вдоль оптической оси может быть отсчитано по шкале 8, и сетки 9, установленной в плоскости наводки коллиматора, 25 наблюдаемой с помощью окуляра 10 или с помощью оптической системы микроскопа (не показан ).

При просвечивании микрорастра 4 от источника 1 света в направлении зер- щ кала 5 после прохождения света через микрорастр 4 появляются яркие световые полосы (не показано ), образование которых происходит следующим образом. Микрорастр 4 зеркального фотоаппарата 3 представляет собой систему микропирамидок 11, расположенных в центре матовой поверхности а, являющейся поверхностью наводки фотоаппарата, при этом вершины б пересечения наклонных поверхностей в микропирамидок ll находятся в пл скости, совмещенной с матовой поверхностью а.

Поскольку каждая микропирамидка 11 5 имеет округления радиусом г в вершинах г, то каждый участок двугранного угла отдельной микропирамидки ll, ограниченный с одной стороны на дуге АВ радиусом округления, а с другой — плоской поверхностью д, действует как цилиндрическая микролинзочка, задняя главная плоскость Н которой согласно законам геометрической оптики совпадает с вершиной ъ округления. При освещении со стороны плоскости д световые лучи при прохождении цилиндрических микролинзочек микрорастра 4 фокусируются в их фокусах и образуют яркие световые

I полосы на расстоянии S< = f = г! и-1 от вершин . округлений (h = 1,5 — показатель преломления материала растра 4,и на расстоянии Д от вершин

При значениях r не превышающих 1,52 мкм (с погрешностью а с 1,2 мкм, пренебрежимо малой для точности юстировки и контроля зеркальных фотоаппаратов ), можно считать, что плоскость, в которой образуются яркие световые полосы, совпадает с поверхностью а плоскости наводки зеркального фотоаппарата 3, а наведение на резкость изображения полос можно использовать для наведения на поверхность а плоскости наводки.

При определении положения плоскости наводки зеркального фотоаппарата просвечивают источником 1 света микрорастр 4 в направлении зеркала 5 фотоаппарата 3, проецируют объективами 6 и 7 световые полосы (не показано), образуемые микрорастром 4 при при просвечивании, в плоскость наводки (плоскость установки сетки 9 ) коллиматора, которая в начальном положении отсчетной шкалы 8 совпадает с фокальной плоскостью объектива 6, затем производят оптическое сопряжение поверхности а плоскости наводки фотоаппарата 3 с плоскостью наводки контрольного устройства (коллиматора ) путем изменения расстояния между плоскостью наводки коллиматора и фокальной плоскостью объектива 7 коллиматора с целью наведения на резкость изображения ярких сВетовых полос, образованных при просвечивании микрорастра в направлении, обратном ходу лучей коллиматора, наблюдаемых со стороны коллиматора в плоскости наводки последнего. После этого по шкале 8 контрольного устройства производят регистрацию величины расстояния между поверхностью а плоскости наводки фотоаппарата и фокальной плоскостью объектива 6 фотоаппарата 3.

Таким образом, при использовании в качестве изображения тест-объекта ярких световых полос, в образовании которых не участвуют лучи, прошедшие через плоские наклонные поверхности микропирамидок растра и вносящие наибольшие искажения при проецировании увеличенного оптического изобра1191872

Составитель С. Шигалович

Редактор И. Рыбченко Техред С.Мигунова Корректор Е.Рошко

Заказ 7155/44 Тираж 447 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4 кения полос в плоскости наводки контрольного устройства коллиматора, обеспечивается возможность создания оптической системы контрольного устройства, глубина резкости и увеличение изображения световых полос которого не менее чем на порядок более высоки, чем в приборах, использующих известный метод.