Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией

 

Ж 1 27064

Клаcc 42h, 20;н.СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В, М. Архипов, Б, А. Желудов и Б. А. Киселев

СПЕКТРОМЕТР-ИНТЕРФЕРОМЕТР С СЕЛ ЕКТИВНОИ

АМПЛИТУДНОИ МОДУЛЯЦИЕИ

Заявлено 10 августа 1959 г. за № 636035/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 6 за 1960 г.

Известен спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный IIp схеме интерферометра с одной плоской диффракционной решеткой и симметричным профилем штриха. Сканирование спектра в этом приборе осуществляется поворотом концевых зеркал в противоположных направлениях. Селективная модуляция производится, например, поступательным движением одного из этих зеркал в направлении, перпендикулярном плоскости зеркала. Такое осуществление сканирования и модуляции затруднено сложностью согласования поворотов зеркал, Б описываемом приборе указанный недостаток устранен тем, что что сканирование спектра производится двумя зеркалами, которые жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг обшей оси вращения. Это полностью исключает ошибки в углах поворота каждого из зеркал. Для модуляции используют третье зеркало, которое расположено перпендикулярно или парал„дельно плоскости диффракционной решетки.

На фиг. 1 изображена схема спектрометра-интерферометра, в котором модуляционное зеркало расположено параллельно диффракционной решетке; на фиг. 2 — то же, перпендикулярно диффракционной решетке.

В обеих схемах пучок параллельных лучей падает на диффракционную решетку 1 перпендикулярно. При этом интерферируют между сооой пучки правых и левых порядков. Автоколлимационные зеркала

2 и 8, с помощью которых сканируют спектр, жестко закреплены на общем основании и поворачиваются вокруг общей оси вращения 4, что полностью исключает ошибки в углах поворота каждого из зеркал.

Зеркало 5 служит для осуществления модуляции и установлено параллельно (фиг. 1) или перпендикулярно (фиг. 2) плоскости диффракционной решетки 1.

Предмет изобретения

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией, выполненный по схеме интерферометра с одной диффракционной решеткой с симметричным профилем штрихов, отличающийся тем, что, с целью облегчения сканирования спектра, автоколлимационные зеркала крепятся на общем основании и на общей оси вращения; при этом для модуляции используется дополнительное зеркало, расположенное параллельно или перпендикулярно плоскости диффракционной решетки.

4иг f

Фиг. Р

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор Н. С. Кутафина (p. 170

Информационно-издательский отдел. Подп. к печ. 10.Ш-60 г.

Объем 0,17 п. л Зак. 2316 Тираж 650 Цена 25 коп.

Типография Комитета но делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР .Москва, Петровка, 14.

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области спектрального приборостроения

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано в физике, химии, биологии и медицине, а также в экологии и промышленности

Изобретение относится к спектральному приборостроению и предназначено для получения спектров излучения с модуляцией экспозиций по определенному закону

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к области технической физики

Изобретение относится к спектральному анализу химического состава веществ, а именно к средствам формирования оптического спектра, и может быть использовано в устройствах атомно-эмиссионного, атомно-абсорбционного анализа, а также в других спектрофотометрических устройствах

Изобретение относится к автоматике и может быть использовано для автоматизированной регистрации спектров поглощения и люминесценции

Изобретение относится к оптической спектрометрии (спектроскопии) и может быть использовано для создания линейных по оптической частоте спектрометров

Изобретение относится к технике ИК-спектроскопии, а именно к устройствам для измерения характеристик собственного излучателя в инфракрасной области

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может найти применение в оптических системах, действующих с источником монохроматического излучения, например в качестве коллиматора, работающего с полупроводниковым лазером, а также в качестве объектива для устройств оптической записи и считывания информации

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к объективам для оптической записи и воспроизведения информации, и найдет применение в бытовой видеоаппаратуре и оптических дисковых запоминающих устройствах
Наверх