Способ контроля качества сегнетоэлектрических кристаллов

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

Г5 Г ) 4 G0,1 х 27 72!

) г. (j Я) q

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВтОРСНОМ СВИДЕтЕЛЬСтВ

Ьф ; L.

h Ч- Ео имп упьсо1

200

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 35953367)24-25 (22) 26.05.83 (46) 07.01.86. БГО;i, „ )о (71) Львовский ордена Ленина государственный университет им. Ивана Франко (72) Н. A. Романюк и М. A. Вацеба (53) 537.226.33(088.8) (56) Рудяк В. М. Эффект Баркагаузена.—

Успехи физических наук, 1970, т. 101, с. 429 — 459.

Романюк Н. A., Желудев И. С. Изучение медленных процессов электрической поляризации сегнетовой соли по наблюдениям за доменной структурой. Кристаллография, 1960, с. 5, с. 3, 403 — 408.

„„SU„„1203429

154) (57) СГ!ОСОБ (х()11Т(7ОЛЯ (хЛЧ(;СТВО

С(Г111=ТОЭЛ1 (хТР11ЧЕ .С(хИX (хР(4СТЛЛ, 1 O B . 3 а к гl к) и и к) и L и и с я k! I k () I k L1 o æ c I l l l I i IL и сС, IC.L i. 31OII), КРИСТ!)ЛЛX Э зсhT(7IIЧ!. CkLOI О ПОЛЯ, ПРи во,и!!него IL cl О пеР IIL)Lkkk()113Lkiklklk, L)t.? ì LcLLC7LL7kLLLL7k тех!, ITo, c целью повышения точное)и контроля, ре, истрирх к) г длительност)

И ИИТ!. НСИВНОСТЬ k)!)CТВ . ПИО! !) Э1СКТРОМ;1ГНИТ1!01 О 113,! Чсkk И Я. Возkl И iLL! iO!!LГ Г О 11Ð!1 П!. ()ЕПО—

Л ЯР И3Lk ЦИ И, II О КОТО() bi .,ГЯТ () hLIЧC СТВ!. кристаллов.

Способ контроля качества сегнетоэлектрических кристаллов Способ контроля качества сегнетоэлектрических кристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области магнитньгх измерений, например, для контроля качества магнитных 11 БИБЛИОТЕКА материалов

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к измерению одной из сопутствующих переменных в частности путем исследования магнитного параметра поля рассеяния и может быть использовано в диагностике технического состояния трубопроводов

Изобретение относится к технике исследования материалов, в частности к технике обнаружения металлических включений в диэлектрических материалах, и может найти применение в химикофармацевтическом производстве, пищевой, микробиологической и химической промышленностях

Изобретение относится к измерительной технике для неразрушающего контроля качества материалов и предназначено для локального измерения ферромагнитной фазы аустенитных сталей при литье, в заготовках и готовых изделиях, сварных швах, наплавках и др

Изобретение относится к физике, а именно к системам контроля

Изобретение относится к области физических методов измерения магнитных характеристик веществ, а точнее к тем из них, которые используются при повышенных и высоких температурах

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники в машиностроении и черной металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий
Наверх