Объектив микроскопа

 

Изобретение может йлть-использовано для исследования особо тон кях ьд1кроскопических структур, тре бунядего высокой разрешающей способности и большой светосилы. Первый компонент фронтальной части объек тива положительный мениск 1, обращен вогнутостью к предмету. Для увеличения числовой апертуры и рабочего расстояния второй кокгпонент выполнен в виде отрицатель ного двухсклеенного мениска 2 из положительной двояковыпуклой линзы 3 и отрицательной двояковогнутой линзы 4. Радиусы кри визны наружных поверхностей и толщина второго компонента выбраны из определенных соотношений. Последующая часть объектива, выполненная и з положительных двухсклеенных двояковыпуклых линз 5 и 6, проецирует изображение объекта на плоскость, удаленную на определенное расстояние от опорной плоскости объектива, компенсируя остаточные аберрации фронтальной части. 1 ил. СП С П/юаася efyefum V / ЛОСНО(УП1, изобрфкений Ю 00 4 О) -fl

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„.SUÄÄ 1213460

А (д) 4 6 02 В 21/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHQIVlY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

0АОСЯООйб изображ.нию

УМФЙММЖ пурпе у/, ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

h0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTWI (21) 3761513/24-10 (22) 26.07.84 (46) 23.02.86. Бюл. 11 7 (72) Т.А.Иванова (53) 53$.824.213 (088.8) (56) Скворцов Г.Е. и др. Микроскопы, Л.» Машиностроение, 1969, с. 128.

Панов В.А., Андреев Л.Н. Оптика микроскопов. - Л.: Машиностроение,, 1976, с. 106. (54) ОБЬЕКТИВ МИКРОСКОПА (57) Изобретение может быть -использовано дпя исследования особо тонких микроскопических структур, требующего высокой разрешающей способности и большой светосилы. Первый компонент фронтальной части объектива положительный мениск 1, обращен вогнутостью к предмету.

Для увеличения числовой апертуры и рабочего расстояния второй компонент выполнен в виде отрицательного двухсклеенного мениска 2 из положительной двояковыпуклой линзы

3 и отрицательной двояковогнутой линзы 4. Радиусы кривизны наружных поверхностей и толщина второго компонента выбраны из определенных соотношений. Последующая часть объектива, выполненная из положительных двухсклеенных двоякавыпуклых линз 5 и 6, проецирует изображение объекта на плоскость, удаленную на определенное расстояние от опорной плоскости объектива, компенсируя остаточные аберрации фронтальной части. 1 ил.

1213460

Составитель В.Андреев

Редактор Н.Данкулич Техред Ж.Кастелевич Корректор А.Тяско

Заказ 780j57 Тираж 502 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам. изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ЛЛП "Патент", г.ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к оптике микроскопов и может быть использовано для исследования особо тонких микроскопических структур, требующих высокой разрешающей способности и большой светосилы.

К числу таких структур относятся биологические объекты, наблюдаемые в свете люминесценции йри окраши-! вании их специальными красителями.

Цель изобретения - увеличение числовой апертуры и рабочего расстояния.

На чертеже изображена оптическая схема объектива микроскопа. 15

Объектив состоит иэ фронтальной части и последующей части. Фронтальная часть выполнена из положительной менискообразной линзы 1, обращенной вогнутостью к объекту, и отрицатель- 20 ного двухсклеенного мениска 2, выполненного из положительной двояковыпуклой линзы 3 и отрицательной двояковогнутой линзы 4.

Последующая часть содержит поло- 25 жительные двухсклеенные линзы 5 и 6.

Объектив работает следующим образом.

Фронтальные элементы 1 и 2 образуют увеличенное мнимое иэображение 30 объекта с- уменьшенной кривизной изображения и небольшими значениями сферической аберрации, сферохроматизма и хроматических аберраций.

При этом благодаря выполнению

35 второго элемента фронтальной части в виде отрицательного мениска, обращенного вогнутостью к изображению, с указанным соотношением радиусов кривизны наружных поверхностей и толщины достигается не только оптимальная корреция аберраций дпя осевой точки предмета, но и уменьшение кривизны изображения и исправление астигматиэма всего объектива

45 при увеличении рабочего расстояния объектива.

Последующая часть объектива, выполненная иэ двухсклеенных комнонентов 5 и 6, проецирует изображение объекта в увеличенном масштабе в плоскость изображения, удапенную на стандартизированное расстояние от опорной плоскости объектива (объектив с тубусом 160 мм), и ком» пенсирует при этом остаточные аберрации фронтальной части.

3f

Объектив имеет увеличение 10 числовую апертуру 0,4, фокусное расстояние )6,73 мм, рабочее расстояние 8,2 мм, линейное поле зрения 20 мм. Объектив имеет апохроматический тип коррекции, волновая аберрация для основной длины волны

Г не превышает О, 13, хроматическая разность волновых аберраций в диапазоне бт линии F до линии С не превышает 0,032. Относительная освещенность в центре дифракцион ного пятна (число Штреля) дпя ос» новной длины волны Е составляет

Е = 0,984, для всего спектрального диапазона от g до С составляет

Е = 0,934.

Формула из о бр етения

Объектив микроскопа, содержащий четыре компонента, первый из которых - положительный мениск, обращенный вогнутостью к предмету, третий и четвертый - положительные двухсклеенные двояковыпуклые линзы, отличающийся тем, что, с целью увеличения числовой апертуры и рабочего расстояния, второй ком понент выпопнен в виде отрицатель» ного двухсклеенного мениска, обращенного вогнутостью к изображению, радиусы г„ и 1 кривизны наружных поверхностей и толщина д которого выбраны из соотношений (1,15 - 1,45)1

d = (0,55 - 0,75)г„ .

Объектив микроскопа Объектив микроскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроскопии, к планапохроматическим объективам микроскопа и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов

Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в измерительных микроскопах отраженного света для исследования и измерения особо мелких топографических структур изделий микроэлектроники

Изобретение относится к области микроскопии, точнее к микрообъективам - системам с дифракционно ограниченным качеством изображения, служащим для исследования особо тонких микроскопических структур в естественном свете и свете люминесценции

Изобретение относится к области микроскопии - к планапохроматическим объективам микроскопа и может быть использовано для комплектации лабораторных и исследовательских моделей биологических, поляризационных, люминесцентных и других микроскопов
Наверх