Стокс-модулятор

 

СТОКС-МОДУЛЯТОР, содержащий последовательно расположенные активный элемент, выполненный в виде двух электрооптических кристаллов с азимутами наведенных осей, развернутыми относительно друг друга на 45o, и линейный анализатор, отличающийся тем, что, с целью повышения граничной частоты и упрощения изменения фазы модуляции, в качестве активного элемента модулятора использована стопа из двух пластин Z-среза, вырезанных из одного электрооптического кристалла, размещенная между двумя общими для обеих пластин прозрачными электродами, причем азимут наведенной от первой пластины стопы перпендикулярен плоскости главного пропускания линейного анализатора.

Изобретение относится к электрооптическим модуляционным устройствам светового потока, предназначенным для преобразования поляризационных параметров Стокса в различных системах измерения, передачи и обработки оптической информации, при поляризационной селекции для повышения помехоустойчивости и т. п. Цель изобретения повышение граничной частоты и упрощение изменения фазы модуляции. На чертеже изображена оптическая схема предлагаемого стокс-модулятора. Стокс-модулятор состоит из диафрагмы 1, коллиматора 2, двух прозрачных металлических электродов 3, 4, напыленных на стеклянные подложки, между которыми зажаты монокристаллы DKDP 5, 6 Z-среза, линейного анализатора 7 и интерференционного фильтра 8, установленных перед светоприемником излучения (ФЭУ) 9. Для стабилизации рабочих параметров и заданного режима работы стокс-модулятора с ФЭУ помещен в термостатирующее устройство 10. Выход ФЭУ подсоединен к блокам обработки информации и блоку регистрации (не показаны). Исследуемое излучение проходит через диафрагму 1, коллиматор 2, два монокристалла 5, Z-среза, зажатые между двумя прозрачными электродами 3,4, напыленными на стеклянные подложки, линейный анализатор 7, интерференционный фильтр 8 и падает на ФЭУ 9. Если к электродам 3, 4 приложено переменное напряжение U Uocoswt, где Uо амплитуда, w частота модуляции на выходе ФЭУ установленного после стокс-модулятора, на двух монокристаллах 5,6 будет присутствовать постоянная и переменная составляющие, содержащие полную информацию о факторе Стокса исследуемого излучения. Стокс-модулятор представляет собой самостоятельное функциональное устройство, которое может быть использовано в системах точечной и распределенной поляриметрии и эллипсометрии для решения различных научных и прикладных задач.

Формула изобретения

СТОКС-МОДУЛЯТОР, содержащий последовательно расположенные активный элемент, выполненный в виде двух электрооптических кристаллов с азимутами наведенных осей, развернутыми относительно друг друга на 45o, и линейный анализатор, отличающийся тем, что, с целью повышения граничной частоты и упрощения изменения фазы модуляции, в качестве активного элемента модулятора использована стопа из двух пластин Z-среза, вырезанных из одного электрооптического кристалла, размещенная между двумя общими для обеих пластин прозрачными электродами, причем азимут, наведенной от первой пластины стопы перпендикулярен плоскости главного пропускания линейного анализатора.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к автоматическим оптоэлектронным приборам, предназначенным для настройки быстродействующих поляриметрических устройств, измеряющих параметры Стокса

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх