Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУ БЛИН сЮ 4 С 02 В 5/28
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Н АВТОРСКОМУ(СВИДЕТЕЛЬСТВУ второго пучка излучения на светофильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствую-, ющий половине максимума интенсивности прошедшего излучения, причем ширину полосы 3 g и длину волны максимума пропускания светофильтра A определяют по следующим соотношениям: C . 1
9макс < 9eaecz
"макс „г
9 макс < емакс 2 z
Ь 2(each< eî, )(г — — (! макс <к5т где h, и h — длины волн зондирующих пучков:
9ма и 9ма„ вЂ” углы падения пучмакс, макс ков на светофильтр, соответствующие максимальной интенсивности прошедшего излучения с длинами волн h и
9 ъ
9с > и 8 0 — углы падения пучков на светофильтр, соответствующие половине максимума интенсивности ,Ф ..М прошедшего «йзлучения с длинами волн и hz.
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР пО делАм изОБРетений и ОтнРытий (61) 1 024862 (21) 3741262/24-10 (22) 15. 05. 84 (46) 07.07.86. Бюл. N 25 (71) Одесский ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им. И.И. Мечникова (72) О.Н. Окунишников и Р.А. Петренко (53) 535;345.67(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР
Ф 102486-2, кл. G 02 В 5/28, 1982. (54) (57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРИНЫ
ПОЛОСЫ И ДЛИНЫ ВОЛНЫ МАКСИМУМА ПРОПУСКАНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО СВЕТОФИЛЬТРА по авт. св. Ф 1024862, о т— ,л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет исключения влияния показателя преломления разде лительного слоя светофильтра, допол" нительно просвечивают светофильтр вторым зондирующим пучком излучения с длиной волны, меньшей длины волны, соответствующей максимуму пропускания светофильтра, не равной длине волны основного зондирующего пучка излучения, и измеряют угол падения
ÄÄSUÄÄ 1242S90 А 2
1 1242890 2
Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к методам измерения характеристик светофильтров, и .является усовершенствованием известного способа по авт. св.
% 1024862.
Известен способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и регистрации интенсивности прошедшего излучения при изменении угла падейия излучения на фильтр.
Просвечивание осуществляют излучением с длиной Волны, меньшей длины, соответствующей. максимуму пропускания фильтра. При этом измеряется угол па.— дения пучка на фильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения.
Длину волны максимума пропускания и ширину полосы определяют по следующим соотношениям: March
Ъмас " 2п i) г асл (Вмакс еа,5) макс где „ „ — длина волны, соответствующая максимуму пропускания;
9 „ — длина волны просвечивающего пучка;
&ма„с — угол падения пучка на фильтр, соответствующий максимальной интенсивности прошедшего излучения; — показатель преломления разделительного слоя фильтра;
59 — ширина полосы пропускания фильтра;
9а — УГОЛ ПЯДения ПУчкЯ нЯ фильтр, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения (1j.
Недостатксм известного способа является низкая точность определения характеристик интерференционного светофильтра, ограниченная точностью, с которой предварительно определен эффективный показатель преломления разделительного слоя фильтра.
Цель изобретения - повышение точности измерения характеристик интерференционного.светофильтра за счет исключения влияния показателя преломления разделительного слоя светофильтра.
Поста.вленная цель достигается тем, что согласно- способу определения ширины полосы и длины волны максимума порпускания интерференционного светофильтра дополнительно просвечиВают светофильтр вторым зондирующим пучком излучения с длиной волны, мень1б шей длины волны, соответствующей максимуму пропускания светофильтра, не равной длине волны основного зонди . рующего пучка излучения, и измеряют угол падения второго пучка излучения на светофильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения, 2О причем ширину полосы 3g и длину волны максимума пропускания светофильтра Ъ м „ определяют по следующим соотношениям:
2 г макс, - 8макс, макс. ) а,макс о макс к г
Ве лал - os,1 а
Но52 макс где Ф, и л — длины волн зондирующих и бачк ов, 9„,а„t- H 8макс- углы падения пучков
35 на светофильтр, соответствующие максимальной интенсивности прошедшего излучения с длинами ВОлн Я и Я
9О .и 6 > — углы падения пучков
:a светофильтр, соответствующие половине максимума интенсивности прошедшего излучения с длинами волн
9, ИЯ
Описанная модификация способа измерения характеристик интерференци45 онных светофильтров позволяет исключить из соотношений, связывающих искомые характеристики фильтра, с измеряемыми углами, эффективный показатель преломления разделительного слоя фильтра rI и тем самым .значительно увеличить точность измерения„
Способ реализуется при использовании перестраиваемого источника квазипараллельного монохроматическо55 го излучения, например двухчастотБОГО ляэера длины волн излучения которого меньше длины волны соответствующей максимуму пропускания иссле1242890
Составитель П.Яковлев
Техред О.Сопко Корректор В. Бутяга
Редактор Н. Бобкова
Тираж . 501 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Заказ 3701/45
Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãoðoä, ул. Проектная,4 дуемого фильтра. При этом фильтр
Просвечивается излучением сначала с одной длиной волны и определяются углы, соответствующие максимуму прошедшего через фильтр излучения 5 и половине от максимальной интенсивности, а затем определяются аналогичные углы для второго зондирующего пуска и определяются характеристики фильтра по приведенным формулам.. 10
Экспериментальная проверка способа осуществляется на фильтре со сле,дующими паспортными данными: я„,д, =
3а
645 6 нм, О, 15. Фильтр макс 5 просвечивается излучением модифицирофанного Не-Ne лазера ЛГ-52-2, в котором путем внутрирезона торных пере. строек имеется возможность изменять длину волны излучения.. Используют двед линии генерации с длинами волн
7,, 632,8 и 9 . = 640,1 нм. Интенсив-, ность прошедшего излучения регистрируется фотодиодом. Углы наклона фильтра измеряются с помощью угломер. ного столика. Полученные результаты с точностью до 17 совпадают с паспортными данными фильтра. Таким образом, в отличие от.известного способа, точ" ность которого ограничивается точностью определения эффективного показа-. теля разделительного слоя фильтра И, предлагаемый способ позволяет обойти указанную трудность и значительно увеличить точность измерения характеристик фильтра. При этом, чем более узкополостным является светофильтр, тем точнее могут быть проведены измерения.
Предлагаемый способ является перспективным для применения при измерении характеристик узкополосных интерференционных фильтров не только в лабораторых, но и в заводских условиях,
