Устройство для исследования смачивания поверхности припоем

 

,Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение в радиотехнической , электронной , машиностроительной и других отраслях промьшшенности. Целью изобретения является увеличение числа исследуемых параметров . Устройство содержит основание с токоподводами, соединенными внешними концами с приборами контроля электрической цепи. На основании выполнена площадка для размещения испытуемого припоя. Токоподводы на основании расположены попарно на линиях, проходящих через центр площадки, причем расстояние между внутренними концами каждой пары токоотводов различно. 3 ил. N9 СЛ СЛ 00 со ;о

=:л, «фм ф РЕСПУБЛИН

---р

„„SU„„1255899

А1 (511 4 G Ol N 13/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И 01НРЫТИЙ (21) 3864571/24-25 (22} 05.03.85 (46) 07.09.86. Бюл. Р 33 (72) В.В.Зенин, Ф.Н.Рыжков, А.В.Чернышов и А.И.Колычев (53) 543.542(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11- 457013, кл. G 01 N 13/00, 1968 °

Авторское свидетельство СССР

В 481377, кл. В 23 К 1/00, !973.

Авторское свидетельство СССР

В 561637, кл. В 23.К 3/00, 1974. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ

СПЛАЧИВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПРИПОЕИ (57),Изобретение относится к конт рольно-измерительной технике и может найти применение в радиотехнической, электронной; машиностроительной и других отраслях промьппленности. Целью изобретения является увеличение числа исследуемых параметров. Устройство содержит основание с токоподводами, соединенными внешними концами с приборами контроля электрической цепи. На основании выполнена площадка для размещения испытуемого припоя. Токоподводы на основании расположены попарно на линиях, проходящих через центр площадки, причем расстояние между внутренними концами каждой пары токоотводов различно. 3 ил.

1255899

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для определения параметров смачивания и растекания жидких металлов на поверхности диэлектрических подложек.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечения увеличения числа определяемых параметров.

На фиг.! представлена схема предлагаемого устройства, вид сверху; на фиг.2 — сечение А-А на фиг.l; па фиг.З вЂ” устройство после нагрева до температуры плавления припоя.

Устройство для исследованйя смачи вания поверхности припоем содержит основание 1 с токоподводами 2, сое диненными внешними концами с приборами контроля электрической цепи 3.

Токоподводы 2 представляют собой контактные дорожки толщиной 0,001 и шириной 0,02 мм соответственно, которые наносят на основание напылением, гальваническим или другим известным способом. В центре основания имеется площадка 4 для размещения исследуемого припоя 5. Площадка 4 представляет собой квадрат размером

4 4 мм. Для определения площади растекания используется навеска припоя объемом 64,0 мм, по форме близкая к кубу.

Токоподводы 2 на основании 1 расположены попарно на одной линии с центром площадки 4 с изменяющимися расстояниями между внутренними концами, которые симметричны относительно того же центра. Расстояния

1 между внутреними концами пар токоподводов изменяются (увеличиваются) по определенному закону, например, линейному или логарифмическому. Например, расстояние между концами пар токоподводов увеличивается по линейному закону через 1 мм., а расстояние E между ближайшими токопод1 водами составляет 6 мм.

Для исследования смачивания припоем основания иэ диэлектрика материал токоподводов должен иметь температ гру плавления не менее, чем на 50-100"С выше температуры плавления припоя.

При исследовании смачивания припоем 5 основания 1 из металла токоподводы 2 наносят на основание через диэлектрическую пленку 6, в этом случае токоподводы 2 выполняются из того же материала, что и основание l ..

Устройство работает следующим образом.

На площадке 4 основания 1 размещают кубик припоя 5, совмещая ребра нижней грани куба с границами площадки, при этом оси симметрии нижней грани куба проходят через центр пло-!

0 щадки 4. Внешние концы токоподводов 2 основания 1 соединяют через коммутирующее устройство с приборами контроля электрической цепи, нагример, включающими измеритель электрических сигналов Т-45-02, микроЭВМ

"Электроника 60" с у"тройством для . вывода информации на буквопечатающее устройство типа Консул или дисплей.

20 Основание 1 нагревают до температуры расплавления припоя 5, используя для этого высокоточный регулятор температуры, например, типа .ВРТ-2.

При растекании капли 7 припоя по ос25 нованию 1 происходит замыкание токоподводов 2, которое фиксируется измерителем. Измеритель переключается поочередно на пары токоподводов в последовательности, соответствую30 щей увеличению расстояния между внутренними концами токоподводов, и контролирует также падение напряжения между токоподводами. Переключение измерителя, фиксация времени появления контакта между токоподводами производится от микроЭВМ нЭлектроника 60".

Данные по фактической температуре основания и ее изменению сии о маются с помощью быстродействующего измерителя температуры, например

ТТЦ 1-01, соединенного с основанием 1 при помощи термопары ТХП и подключенного также к микроЭВМ "Элек— троника 60".

Таким образом, микроЭВМ "Электроника 60" получают данные о времени замыкания соответствующих пар токоподводов, по которым определяют пло"" щадь и скорость растекания припоев.

Данные с микроЭВМ "Электроника 60" можно подавать на графопостроитель, например типа ЭМ-7022, и получать при этом информацию о площади и ско55 рости растекания припоев в виде графиков временной зависимости. По данным с микроЭВМ "Электроника 60" по падению напряжения между соответству1255899 фиг. J

Составитель А. Кощеев

Редактор А.Шандор Техред М.Коданич Корректор В.Бутяга

Заказ 4814/42 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная,4 ющими парами токоподводон в зависи-. мости от площади и скорости растекания можно определять изменение.электрической проводимости припоев при смачивании исследуемой поверхности.

Зависймость изменения проводимости припоев при смачивании может быть также получена в виде графиков с помощью графопостроителя. о

Формула изобретения

Устройство для исследования смачивания поверхности припоем, содержащее основание с токоиодводами, соединенными внешними концами с приборами контроля электрической цепи, на котором выполнена площадка для размещения испытуемого припоя, о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что,. с целью увеличения числа исследуемых параметров, токоподводы на основании расположены попарно на линиях, проходящих через центр площадки„ причем расстояние между внутренними концами каждой пары токопроводов различно.

Устройство для исследования смачивания поверхности припоем Устройство для исследования смачивания поверхности припоем Устройство для исследования смачивания поверхности припоем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к газовой динамике и физической химии и может быть использовано для определения коэффициентов прилипания молекул водорода к чистой и пассивированной поверхностям металлов в условиях взаимодействия с газообразным водородом

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения истинной и эффективной подвижности (ЭП) и связанных с нею эффективного заряда (33), сечения рассеяния электронов проводимости пpи fecью при миграции ее в металлическом расплаве в постоянном электрическом поле

Изобретение относится к области определения свойств жидкости и, в частности, может быть использовано для определения поверхностного натяжения невязких расплавов, преимущественно тугоплавких материалов

Изобретение относится к гидродинамике , в частности к процессам моделирования течений идеальной жидкости со свободными границами

Изобретение относится к технике измерений , в частности к экспериментальнорасчетным исследованиям коэффициента диффузии частиц дисперсной фазы, взвешенных в дисперсионной среде, и может быть использовано в различных областях науки и техники при исследовании механики движения многофазных потоков, например коэффициентов диффузии частиц пыли, взвешенных в производственном помещении

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей
Изобретение относится к области физики поверхностей

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей
Наверх