Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения расширение измеряемых параметров и измерение их абсолютных величин за счет измерения кроме параметра шероховатости - высоты неровности, еще и следующих параметров - среднего квадратического отклонения, длины корреляции , среднего угола наклона боковых сторон неровностей, среднего шага неровностей , а также за счет исключения при измерении эталонных образцов. На контролируемую шероховатую поверхность направляют световой поток с длиной волны известной интенсивности и регистрируют интенсивность отраженного светового потока. По отношению интенсивности падающего и отраженного светового потока определяют коэффициент отражения р. Световой поток направляют нормально к контролируемой поверхности и в этом положении измеряют коэффициенты отражения р вдоль и р поперек борозд шероховатости (при повороте образца на 90° вокруг оси, перпендикулярной к контролируемой поверхности). Затем при расположении борозд шероховатости в плоскости поляризации света по шкале измеряют угол Q (угол Ьрюстера), при котором коэффициент отражения минимален. По измеренным величинам р , р , 0 рассчитывают параметры шероховатости 6, l,et , Т из следующих соотношений: (Л ( P./PaJO Cbseg-CosX 1 /JL с в ву Т( 1) -, 2(l-/2Cos0g -Coseg) ,,-/

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„„SUÄ, 1272198

А1 (50 4 О В 0

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ интенсивности падающего и отраженного светового потока определяют коэффициент отражения р. Световой поток направляют нормально к контролируемой поверхности и в этом положении измеряют коэффициенты отражения / вдоль

Вх и Р поперек борозд шероховатости

ВУ (при повороте образца на 90 вокруг оси, перпендикулярной к контролируемой поверхности) ° Затем при расположении борозд шероховатости в плоскости поляризации света по шкале измеряют угол QII (угол Брюстера), при котором коэффициент отражения минимален.

По измеренным величинам p, p, 9

Вх В рассчитывают параметры шероховатости (1 обоз, cos e )

ega = f 25/ 3; Т - 2 Г2 где 6 — среднее квадратическое . отклонение, 1 — длина корреляции, ot— средний угол наклона боковых сторон неровностей, Т вЂ” средний шаг неровностей, - длина волны монохроматического света, /» „ — коэффициент зеркального отражения вдоль борозд шероховатости, — коэффициент зеркального отражения поперек борозд шероховатости, 1 ил.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3888833/25-28 (22) 29.04.85 (46) 23.11.86. Бюл. Н 43 (7i) Северо-Западный заочный политехнический институт (72) Ю.P.Âèòåíáeðã, А.Д.Терехов и И.А.Торчинский (53) 531.715.2 (088.8) (56) Кучин А.А., Обрадович К.А. Оптические приборы для измерений шероховатости поверхности. — Л.: Машиностроение, 1981, с. 150-175.

Авторское свидетельство СССР

В 102321, кл. G 01 В 11/30, 1956. (54) РЕФЛЕКТОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРА ШЕРОХОВАТОСТИ АНИЗОТРОПНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ

ТЕЛ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения— расширение измеряемых параметров и измерение их абсолютных величин эа счет измерения кроме параметра шероховатости — высоты неровности, еще и следующих параметров — среднего квадратического отклонения, длины корреляции, среднего угола наклона боковых сторон неровностей, среднего шага неровностей, а также за счет исключения при измерении эталонных образцов. На контролируемую шероховатую поверхность направляют световой поток с длиной волны известной интенсивности и регистрируют интенсивность отраженного светового потока. По отношению

1,сс, Т из следующих соотношений:

1272108

5 - (1- Qcos6 +cos.e ) (1+Qcos8 +cos f) ) Ь

tg =ивЂ, 6

1 э

Т=2 /21, где оs%s) 8 .- 6 ) p -р

9Y ex

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения параметров шероховатости обработанных поверхностен металлических тел, преимущественно с малой высотой неровностей, например, менее 0,5 мкм.

Цель изобретения — расширение измеряемых параметров и измерение их абсолютных величин, за счет измерения кроме параметра шероховатости - высоты неровности,, еще и следующих параметров — среднего квадратического отклонения, длины корреляции, среднего угла наклона боковых сторон нерон" ностей, среднего шага неровностей, а также за счет исключения при измерении эталонных образцов.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый рефлектометрический способ.

Устройство содержит источник 1 монохроматического света, поляризатор

2, приемник 3 зеркально отраженного света, регистрирующую аппаратуру 4, угловую шкалу 5.

Рефлектометрический способ измерения шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел осуществляют следующим образом, 30

На контролируемую шероховатую понерхность б из источника 1 монохроматического света через поляризатор

2, поляризующий свет в вертикальной плоскости, направляют световой ноток 3g с длиной волны известной интенсивности и регистрируют интенсивность отраженного светового потока, попавшего н приемник 3. По отношению интенсивности падающего и отраженного свето- 40 ного потока определяют с помощью регистрирующей аппаратуры коэффициент отражения (г, Вначале оператор направляет снетоной поток нормально к контролируемой поверхности 6 и в этом 45 положении измеряют коэффициенты отражения Р „ вдоль и Я „ поперек борозд шероховатости (при повороте образца

7 на 90 вокруг оси 8, перпендикулярной к контролируемой поверхности 6). Зб

Затем при расположении борозд шероховатости в плоскости поляризации света по шкале 5 измеряют угол 9 (угол

Брюстера), при котором коэффициент отражения минимален. По измеренным у з г у н,л р параметры шероховатости 8, Х,d. из следующих соотношений: (г +р l(i ° гс se.с г е, б

2(! г2(ой& +Cos e ) среднее квадратическое отклонение шероховатости; длина корреляции; средний угол наклона боконых сторон неровностей; средний шаг неровностей; длина волны монохроматического света; коэффициент зеркального отражения вдоль борозд шероховатости коэффициент зеркального отражения поперек борозд шероховатости.

Формула изобретения

Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел, заключающийся в том, что направляют на поверхность монохроматический поляризованный световой поток с определенной длиной нолны известной интенсивности, регистрируют интенсивность зеркально отраженного от поверхности светового потока и по отношению интенсивностей определяют измеряемый параметр, отличающийся тем, что, с целью расширения измеряемых параметров и измерения их абсолютных величин, направляют световой поток нормально к поверхности, измеряют коэффициенты отражения светового потока вдоль и поперек борозд шероховатости поверхности, измеряют угол падения,при котором коэффициент отражения минимален,,и рассчитывают параметры шероховатости из соотношений (P + )(1+&2Cse +Соз 6 6 2

2(14acоse +Cîs e ) 4 t 21 /

1272108

Т= 2 (21, где овт

Составитель Л.Лобзова

Техред Л.Сердюкова Корректор Г.Решетник

Редактор Н.Тупица

Заказ 6327/37 Тираж 670 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 среднее квадратическое откло- нение; длина корреляции; средний угол наклона боковых сторон неровностей; средний шаг неровностей; длина волны монохроматического света; коэффициент зеркального отражения вдоль борозд шероховатости коэффициент зеркального отражения поперек борозд шероховатости.

Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в .частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в заданном диапазоне высот микронеровнос тей

Изобретение относится к измерительной технике и .может быть использовано для бесконтактного измерения параметров шероховатости сверхгладких анизотропных поверхностей , в частности поверхностей, обработанных алмазным точением

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного оптического контроля шероховатости поверхности изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля труднодоступных внутренних полостей-, в частности для контроля каналов и трубопроводов атомных реакторов, имеющих центральный стержень

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля

Изобретение относится к контрольноизмерительной те.хнике и используется для контроля качества обработки повер.хности

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к фотоэлектрическим устройствам для контроля отклонений от прямолинейности поверхности объекта,и является усовершенствованием известного устройства по авт.св

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх