Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований

 

Изобретение относится к способу получения и подготовки образца для микроскопических исследований, может быть использовано в различных отраслях промышленности и позволяет обеспечить идентичность деформаций образца и нагруженной детали. Деталь 1 нагружают до заданной величины нагрузки. На исследуемую область поверхности детали 1 наносят клеевой слой и струбциной 2 к ней прижимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью . Материал накладки выбирают тверже материала детали. После снятия струбцины получают образец, дефорйац ия которого идентична деформации нагруженной детали, поскольку рифления жесткой накладки обеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. 1 ил. i (Л rsd 00 о i4;i ас

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИ К

РЕСПУБЛИН (50 4 G 01 N 1/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ С8ИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3836780/23-26 (22) 04.01.85 (46) 30.12.86. Бюл. М 48 (71) Институт механики АН УССР (72) В.К.Бондаренко, Д.А.Гаврилов, В.Ф.Жованик, А.А.Каминский иЛ.M.11карапута (53) 543.053(088.8) (56) Сборник статей Металловедение цветных металлов и сплавов. М.: Наука, 1972, с. 155.

Попилов П.Я., Зайцева Л.П. Электрополирование и электротравление металлографических шлифов. Гос. издво научно-технической литературы по черным и цветным металлам, М., 1963, с. 7-10. (54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ И ПОДГОТОВКИ

ОБРАЗЦА ДЛЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ

„,SU„„1280481 A1 (57) Изобретение относится к способу получения и подготовки образца для микроскопических исследований, может быть использовано в различных отраслях промышленности и позволяет обеспечить идентичность деформаций образца и нагруженной детали. Деталь 1 нагружают до заданной величины нагрузки. На исследуемую область поверхности детали 1 наносят клеевой слой и струбциной 2 к ней прижимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью. Материал накладки выбирают тверже материала детали. После снятия струбцины получают образец, де— формация которого идентична деформации нагруженной детали, поскольку рифления жесткой накладки обеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. 1 ил.

1280481

Составитель Л.Горяйнова

Редактор Н.Горват Техред А.Кравчук Корректор M.Ïoæo

Заказ 7059/47 Тираж 778

ВНИИПИ Государственного комитета СССР.по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4

11зобретение относится к исследованиям физических свойств, в частности к способам приготовления образца для микроскопических исследований, и может быть использовано для 5 изучения структуры материала детали.

Целью изобретения является обес печение идентичности деформаций образца и нагруженной детали.

На чертеже приведена схема осуществления предлагаемого способа.

Способ осуществляют следующим образом.

Деталь 1 нагружают до заданной величины нагрузки. На исследуемую область поверхности детали наносят клеевой слой и струбциной 2 к ней прижимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью. Иатериал накладки выбирают тверже материала детали.

После затвердевания клеевого слоя деталь 1 разгружают, снимают струбцину 2. Рифления жесткой прокладки обеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке иссле/ дуемой поверхности. Часть детали с закрепленной на ней накладкой 3 вырезают и получают образец, деформация которого идентичны деформациям нагруженной детали. Поверхность образца подготавливают для микроскопических исследований, например, полируют, обрабатывают реактивами и т.п.

Способ был апробирован при изучении структуры материала в области концентраторов в полимерном материале (были испытаны образцы иэ целлулоида, эпоксидной смолы, винилласта).

Испытывали пластины с центральным надрезом, нагруженные на машине ZST-3 до заданной величины нагрузки. Образец после вырезки шлифовали. Поверхность образца фотографировали при увеличении х340. В результате было обнаружено существование зоны предразрушения и определена величина раскрытия в вершине трещины (6„

0,07 мм).

Способ может быть осуществлен при наличии накладок, прижимов типа струбцин, средств нагружения детали и вырезки образцов.

Формула изобретения

Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований, включающий нагружение детали, разгрузку, вырезку образца, подготовку его поверхности к микроскопическим исследованиям, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью обеспечения и идентичности деформаций образца и нагруженной детали, после нагружения детали фиксируют деформированное состояние в каждой точке исследуемой. части ее поверхности, путем нанесения на нее клеевого слоя, прижатия рифленой поверхности жесткой накладки, причем материал накладки выбирают тверже материала. детали, выдержки детали под нагрузкой до отверждения клея, последующего снятия усилия прижима накладки.