Способ измерения параметров металлической сетки
Изобретение относится к измерительной технике, к оптике дифракционных решеток и может быть использовано для измерения параметров металлической сетки. Целью изобретения является повышение точности измерений параметров сетки за счет точного измерения ширины и периода расположения полосок сетки. Полоски сетки 1 в направлении, параллельном прямой КН, ориентируют перпендикулярно плоскости поляризации излучения 8. Пропускаемое сеткой 1 излучение попадает на приемник 5 и преобразуется в нем в электрический сигнал, регистрируемый-на самописце 7 в виде кривой линии. Последователь но изменяют длину волны излучения с помощью монохроматора 4 и записывают контур полосы пропускания сетки 1,Изменяя длину волны излучения и ,- (Л ю со С9: 00 00 00
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН (51)4 G 01 В 11/24
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3835804/24-28 (22) 29.12.84 (46) 15.03.87. Бюл. Р 10 (71) Институт радиотехники и электроники АН СССР (72) Э.П.Шлитерис (53) 535,8(088.8) (56) I.М.Lamarre, N.Corou, R.Courtin, G.Dambier, М.Charra. Metallic
mesh properties and desing of submillimeter filters, — International Journ, of Lufrared and Millimeter Maves, 1981, v. 2, У 2, р. 273-292.
P,Vowel, L.Lenzel. Transmission
and reflection of metallic mesh in
the-far infrared, — Infrared Phys., 1964, v. 4, 11 - 4, р. 257-262. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ
МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ СЕТКИ
„„Я0„„1296 3 (57) Изобретение относится к измерительной технике, к оптике дифракционных решеток и может быть использовано для измерения параметров металлической сетки. Целью изобретения является повышение точности измерений параметров сетки за счет точного измерения ширины и периода расположения полосок сетки, Полоски сетки 1 в направлении, параллельном прямой КН, ориентируют перпендикулярно плоскости поляризации излучения 8. Пропускаемое сеткой 1 излучение попадает на приемник 5 и преобразуется в нем в электрический сигнал, регистрируемый на самописце
7 в виде кривой линии. Последовательно изменяют длину волны излучения с помощью монохроматора 4 и записывают контур полосы пропускания сетки
1, Изменяя длину волны излучения в формула
Способ измер таллической сет в том, что перл направляют плоск лучение, послед его длину волны волны определяю кания сетки, на соответствую
6 пускания, и дли
Ф . ствующую минимуму пропускания, расположенному на вершине контура пропускания, и вычисляют параметры сет- 15 ки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения параметров сетки, после а=1,593Л -1 157h„;
g=Z,6433, — 1,340 где а — полуширина полоски сетки;
g " период сетки.
Составитель l0.Èèðîèîâ
Редактор С.Лисина Техред A. Кравчук Корректор А.Тяско
Заказ 764/41
Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 (g7
g6
Д1
РР
Щ
Р,Я
3 1296833 4 и э о б р е т е н и я определения 1, изменяют угол падения излучения так, чтобы он составо ения параметров ме- лял 65 с плоскостью сетки и плоски, заключающийся кость его поляризации была параллельендикулярно сетке
5 на плоскости падения и полоскам сетополяриэованное иэ- ки в одном направлении, непрерывно овательно изменяют изменяют длину волны излучения в и для каждой длины пределах от 0,43Л, до 1,11Л. и иэт величину пропус- меряют величину пропускания сетки, ходят длину волны fQ находят длину волны,, соответствущую максимуму про- ющую максимуму пропускания, а парану волны соответ- метры сетки вычисляют по формулам:
Тираж 678 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий!
13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
