Устройство для поверки измерителей паразитной амплитудной модуляции
Авторы патента:
Изобретение относится к приборостроению . Цель - расширение функциональных возможностей устройства для поверки измерителей паразитной амплитудной модуляции(АН). Она достигается тем. что в устройство, содержащее генератор (Г) 1 , управляемый делитель 2 напряжения и формирователь 9 сигнала управления, введены Г 6, регуляторы 5, 7 напряжения, амплитудный модулятор 4, вольтметр 8 и переключатель 3. Изобретение позволяет) расширить номенклатуру нормированных значений коэффициента AM и модулирующих частот при любом законе модуляции . 1 ил, (Л со о 4;
Похожие патенты:
Способ определения градуировочной характеристики магнитоэлектрического измерительного механизма // 1298701
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при производстве магнитоэлектрических шкальных приборов при их градуировке
Изобретение относится к измерительной технике
Изобретение относится к электри ческим измерениям и предназначено для поверки вольтметров, измеряющих пробивное напряжение вентильных разря дников, работающих на промышленной частоте
Изобретение относится к области электроизмерений
Изобретение относится к области измерительной техники
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике
Изобретение относится к электроизмерительной технике и предназначено для проверки измерительных трансформаторов тока при рабочем напряжении на месте их эксплуатации при реальной нагрузке
Изобретение относится к технике исследования материалов, в частности к технике обнаружения металлических включений в диэлектрических материалах, и может найти применение в химикофармацевтическом производстве, пищевой, микробиологической и химической промышленностях
Изобретение относится к области электроизмерительной техники, может быть использовано в производстве электромагнитных амперметров, при их градуировке
Изобретение относится к области метрологии
Изобретение относится к области метрологии
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования при коррекции статических характеристик измерительных преобразователей с несколькими измерительными каналами, обладающими нелинейными передаточными функциями
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения электрических и неэлектрических величин с помощью параметрических датчиков
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для калибровки стробоскопических преобразователей (осциллографов), предназначенных для высокоточных измерений сверхширокополосных электрических сигналов
