Свч-интерферометр

 

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения спектров импульсного излучения. Цель изобретения - упрощение конструкции за счет выполнения отражателя. Входной сигнал делится поровну между плечами интерферометра , поступает на диск 7 и через отверстие 8 - на элемент 10, выполненный с внутренней отражающей конической поверхностью. Отраженный сигнал через переход 5, фазовращатель . 4 попадает в плечо I интерферометра, а вторая половина отраженного сигнала - на вход интерферометра , что приводит к интерференции двух сигналов. Для уменьшения потерь сигнала расстояние между переходом 5, диском 7 и элементом 10 выбрано меньше минимальной длины волны исследуемого спектра. 1 ил. О 00

СОЮЗ СОВЕТСНИУ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3971472/24-28 (22) 29.07,85 (46) 07.06.87. Вюл. - ?I (72) Е.П. Иванова, A.Ô. Крамаренко и В.Ф, Итепенко (53) 531.715.1 (088.8 ) (56) Патент Англии 11 2113835, кл. G 01 В 7/00, 1983. (54) СВЧ-ИНТЕРФЕРОМЕТР (57) Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения спектров импульсного излучения. Цель изобретения — упрощение конструкции за счет выполнения отражателя. Входной сигнал де(51) 4 С 01 В 15/00 лится поровну между плечами интерферометра, поступает на диск 7 и через отверстие 8 — на элемент 10 выполненный с внутренней отражающей конической поверхностью. Отраженный сигнал через переход 5, фазовращатель 4 попадает в плечо I интерферометра, а вторая половина отраженного сигнала — на вход интерферометра, что приводит к интерференции двух сигналов. Для уменьшения потерь сигнала расстояние между переходом 5, диском 7 и элементом

10 выбрано меньше минимальной длины волны исследуемого спектра. 1 ил.

) 3 .) 1(),» ко)(Из т:-: р )Я .

-1«г(1; -;р с г гr-. с> с» 11

i .> Я!

, .:";. 13

Изобретение от; †.о:..-,:-с!(к ij р(п-ТЕЛЬНО(1 ТЕХНИКЕ И -сО;,;Ет бы

ПО)1ЬЗ013 (j)0 ЛЛ> i! :3., !;=>((.: С)

131(П>ЛЬСТ(ОГО Т(ЗТ(У-:-.:", .

jÒЕЛТ 11 зооро Гp"- с:»> — -:,. (! т»! гK0HCTP3rK)>, )И ИитЕРГ))СГ-.О»)Е ;>Тат")а H()Ð òp«!-(- 1(00 »Ã та";Т.; (».,И, Р:> «(с»0

11етр, разрез,, Т(НТЕр(1)ррО-..(Етл Cr:",; г-,-,,; —, -, -»иг О-зод)3ы)г т)30)п ."-)к,,- соc r,)ÿï!1 -.т и:: )! е1)е ".оДа 1 СОЕДИПЕПНОГО С У- . -;.!ÊIÃ,>с 2

)3ЫПОЛНЕН)ТО т. На ОС;;:Î.- ((33Е (. ВЕЛ,:Р, 3:!P3 И-НОГО ВОТТ)(ОБОД»а ) Пт Ииг-)) )(!Е 1., С

11(и 2, 5(H 15 ЯQI» 1(33.. 1;:;".!!! ((1 гтс )1):::li

Ра, cQB>J)(FIEF()) с пеРе оД .-: : - :l г(Р:- = Зт)а(:(атс)ТС).: - .. КОТО;->(3) т ..-.-. -; >; ((1:1

:ТЕрЕХОДу ) с ГСЕ Оти 1 Ос,—,-;,; - .;;.; с(рс(Ы 3(i«; I(i! ." с т(гт,, :j Q- );1;! О Г . Г от)3L»») Гг(; 6 П; З)Т ..;)-;)си1, Q (Т) атсп (P)3(3 („!;(,*)!(); ("., Г,.» .(. С;-;; (-Р

7 C ОД)))1 .>И,Утт: г(„сс; 3)i,rт(-, )тс -, ) i) . 5 li») (»ТИ »3 т К Q 1 !)О>11 ЗГ -(<т)ЕП,1>)Г " . ., i ». »И, —

Гат 3Л»Я» 3 )< .-.)Е! j(;ll-3:-П> )Гр >-; !(: И т:1

10 с п)»»сттРепи СЙ от)3(:;-;:,.; i )": -.(>-!11 ((Е 1(0;.;; О Гт р Г) К(т О (с;.,:

ЦЕСКИ 3:> К1-, 2 I (Е»> ;-..-: О С НО а "!i т тт. фЕРОМСТ- а CCQ» ПО Т О сн —,.

ДИСI" а . i.. I с)Е)асс(.. !!. . И) )::, ".); г

ШТ т< О ) (.

Пла)ЗНЫЕ Гст)Т - Х>(Т>:;,ÒI - .-." - -ОЕ

u:=1 3н и я (н (с о 0 т и 3 г (";:, кг 1 г, " .! I!,», г 1, 1 . ) г;:

Чс«СТОТ ". ." с .1(с»Д 3Е1" О);):; ..".)(Ñ, () и т р О 1> (3 ) Q 0 т ) 1 13 -, с;гт:

0б) (3Gз 01 .. инте1)(т>с;>О ..=»тпа,, г., е.

HK0Д)тОИ 0 11; ттат(r )i QГ:;1 „r .. 0 r.. .— «,«с ..

ТТ)тт« 2 с тгг П)) Т Fi ((ТТ(т»СЯ PF(CК; !i,.-;P(- тг . Р

8 H Д-.I С);"Е ("-.::=-1.:-)Л С::: ):

BDE!I!iCH!) ; ii-. ; «;- (1 -,ГТ) - .! r r) r ò .: кBK От плоскост . диcK". раЗ Птс »E)()«г рт)с»13иг, Я»ртс;с (11».)ХС)(апал.о(ОЭ.

ЗаМГ)К а ТЕЛ)т т) а О.ТI ((() :Q;>1: —:.. Г ) . ) ". !:. 1;1. li (.I;r l П(1(ИЦЯ »гррр 3 П»З)) р,Q(j "> 33, )((с) Т Гт)) О(Г„""-"Е.-((, -1 i(Qij »H-,ас-: СНО)3а Ца

Г>»1 Т) Ц..., —1,-1,: т Е-;... 1 r-, äF-.;» а

Пr! () Т Г П)трт((3 1 )IE) (P 0(|)ÅÃ)0) (ÅÒÃË

1:!>) (QF ()>) )1(3 07 Эсис((..! >О) О Сит на *

ДЕ) —,С))Ил У"-СР: (...) Л ?: —.OC» )(ПаЕТ

0Fj H): )-« ð(1)()13QF,(0 т g(- . )1) 100 ä)) ц(Cатг P )3 плече )(((цтер())рро тра т)озникает

;н -.:--)).."))е )"-jHHHH i;;;-;; с,...-íа3-;.—; — 0)00—

"(Г и от )<=).«Eлногn от;.е:",е )та, О, т.>с» .B(!1)р)Й QT ЛЛОСКОСТИ, (ИСКР 11 СИГ

L (C >,,1 Е (!3 (1 .)р))И .> Г))3 ант(тс т(Н Г Ер— (Г." Е )) Q ) 3) (F(Q )IF! Q r) К «r;0 т! 1 )ТЫ ° 0:-, Н с«К Р 0 Н Н Е

> 0,10,)) (1)." . ТТН (с» с)(1)Е»r — 1 !) (1.11а,т)3)11; (01 0

Тпг) ())()ЗСl! 5)а),ат ":г. - -. С . ТО))ОЗ>ТЫО

33(., 1(. с .-с 1:.i;ò" ср,)1; раме-.ра. )3(збор

--:>С-! т(1".;. (» )::Ттс СI, Е 73 «г:3-.- тг. --тии;ТЕТ

;:»»(T(();Hr с . т 1), l El T,: =,)«(«jp! т-, :.J .r ñ:i. Clif И )>ТН); г; ); >,»; ., .»,»т(аЕ ги(-гстнр> -(30 (С)ср одр,,»г р-г" ") р;«;". —, l i ")l - Q;- - .Г «1с P !1 -! 1(;, 1) =1рт ГТТО -

:c i (0c)13 тг)),)-() о -«:- 1:- (j-..- 3 -, (1. (" 0

Г )::: )с(О (Г C !! l !::,а((. Г (» т .1 и " Р П()) Е () Р FТ— ." Fl0)т .-(0) Г»».> !,Ã".);;)H,, I1, = 11«0 1(!-,j i(:. .;: . 1, (> (.; ()),, . Г т= г)1);, . r!j r)1 1(":; ; t(С, : ., ",,)H!r 1 . СР

1 г::. .-13 ион(1 О г а (>". :p с!1 .:(тт1 !(()(1!

Итр, 1)Р> 0) ЕТРя, а 0(.:: О:П-) (Епта

::-»)3 г:« . 11 (. » а с г ""... р:!ip !(; . )г i«)r

Свч-интерферометр Свч-интерферометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной области техники, в частности к устройствам контроля уровня раздела сред

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к средствам неразрушающего контроля

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины тонких слоев, нанесенных на подложки, отличающиеся по элементному составу от вещества слоя

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля внутреннего диаметра металлической трубы

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения тонкопленочных структур , где качество изделия определяется толщиной нанесенного слоя

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных перемещений объектов, находящихся в герметичных резервуарах со стенками из немагнитных материалов

Изобретение относится к исследованию напряжений и деформаций физическими методами

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины покрытий с помощью отраженного излучения

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате
Наверх