Способ определения неоднородности отражающей поверхности

 

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для определения геометрии рельефа и неоднородности отражающей поверхности. Цель изобретения - повышение достоверности определения неоднородности отражающей поверхности путем измерения ее оптической характеристики при разных углах поля зрения. Отражающую поверхность освещают , отраженное излучение фильтруют блоком 5 спектральных фильтров, полевая диафрагма периодически изменяет угол поля зрения при приеме отраженного излучения, при каждом угле зрения п раз производится считывание электрического сигнала, в который преобразуется отраженный световой поток, фаза которого {KV}, {/(, KV+Jf соответствует минимальному, промежуточному и максимальному значениям угла поля зрения , где К- 1, 2,...,п, V - частота изменения угла поля зрения, данные операции выполняют на разных уровнях высоты над отражающей поверхностью и для каждого спектрального диапазона, производят статистическую обработку полученных данных и по известной зависимости определяют неоднородность отражающей поверхности. 2 ил. ю (Л JO М 1Г 9 1 i А в фиг. 2 СО Ю О 05 С5 Oi fpiya. /

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 G 01 В 21/30

ЙсгГ":)1- - 1Я

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 ю

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3985363/24-28 (22) 12.11.85 (46) 30.06.87. Бюл. № 24 (71) Научно-производственное объединение космических исследований при АН АЗССР (72) Г. А. Гусейнов (53) 531.7 (088.8) (56) Современная проблематика дистанционных исследований геосистем. M.: ИГ

АН СССР, с. 186 — 190. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТИ ОТРАЖАЮЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для определения геометрии рельефа и неоднородности отражающей поверхности.

Цель изобретения — повышение достоверности определения неоднородности отражающей поверхности путем измерения ее опти„„QQ„„1320666 А 1 ческой характеристики при разных углах поля зрения. Отражающую поверхность освещают, отраженное излучение фильтруют блоком 5 спектральных фильтров, полевая диафрагма периодически изменяет угол поля зрения при приеме отраженного излучения, при каждом угле зрения п раз производится считывание электрического сигнала, в который преобразуется отраженный световой поток, фаза которого (KV), (КГ+У/21, (KV+fii соответствует минимальному, промежуточному и максимальному значениям угла поля зрения, где К= 1, 2,...,п, V — частота изменения угла поля зрения, данные операции выполняют на разных уровнях высоты над отражающей поверхностью и для каждого спектрального диапазона, производят статистическую обработку полученных данных и по известной зависимости определяют неоднородность отражающей поверхности. 2 ил.

1320666

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть исполь зовано для определения геометрии рельефа и неоднородности отражающей поверхности.

Цель изобретения — повышение достоверности определения неоднородности отражающей поверхности путем измерения ее оптической характеристики при разных углах поля зрения.

На фиг. 1 приведена функциональная схема устройства для реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 — диаграмма трех параллельных процессов считывания электрического сигнала.

Устройство содержит полевую диафрагму

1, ограничивающую угол поля зрения спектрометра, генератор 2, связанный с диафрагмой 1, коллиматор 3, фокусирующий отраженный световой поток, светоделительную систему 4, последовательно соединенные блок

5 спектральных фильтров, приемник 6, считывающий блок 7, синхронизатор 8 с задержкой, соединенный с полевой диафрагмой 1, и вычислительный блок 9, соединенный со считывающим блоком 7.

Способ осуществляют следующим образом.

Отраженное излучение, восходящее от освещенной отражающей поверхности 10, проходит через зрачок полевой диафрагмы 1, диаметр которого меняется с частотой колебаний, источником которых служит генератор 2, затем излучение собирается коллиматором 3, разбивается на лучи равной интенсивности светоделительной системой 4, после чего лучи проходят через блок 5 спектральных фильтров, откуда отфильтрованное в соответствующих спектральных диапазонах излучение попадает на приемник 6, где преобразуется в электрические сигналы, считывание которых производится считывающим блоком 7, причем осуществляется как минимум три параллельных процесса считыу вания с фазами {К1 ), { +

Частота изменения диаметра зрачка полевой диафрагмы 1 выбрана на порядок ниже обратной величины постоянной времени приемника 6 для надежного различения двух последовательно считываемых с данной частотой значений сигнала и связана с постоянной времени приемника 6 соотношением 1у =(10хт)

Каждое из трех параллельных считываний зарегистрированного сигнала соответствует определенному углу поля зрения спектрометра и, следовательно, определенным фазам считывания сигнала для каждого угла.

Например, если измерения производятся при минимальном угле поля зрения, то считывание с фазами {KV), где К=1, 2,...,n, составляет объем выборки, получаемой при миФормула изобретения

Способ определения неоднородности отражающей поверхности, заключающийся в том, что освещают отражащую поверхность световым потоком, принимают с заданным углом поля зрения световой поток, отражен55 нимальном угле, а при максимальном угле объем выбопки ограничен считыванием с фазами {К1У+3/), где К=!, 2,...,n, и т. д. В каждом отдельном случае объем выборки состоит из и считанных значений сигнала, так как каждое значение угла, при котором производится измерение, повторяется периодически и раз, т. е. объект измеряется и раз при каждом данном значении угла поля зрения спектрометра вследствие того, что каждое из 3-х значений угла повторяется и раз.

Таким образом, выборка для каждого из трех углов поля зрения имеет объем и, но эти выборки отличаются последовательностями считывания y V), (К{У+-), (КУ+3), где

К=1, 2,...,n. Для каждой длины волны и для каждой из высот производится не менее трех последовательностей измерений, соответствующих отмеченным фазам, а следовательно, производится как минимум три выборки каждая объемом и. Затем находят среднее и среднеквадратичное отклонение для каждой из трех выборок объемом и. Далее по полученным трем средним значениям при каждом спектральном диапазоне получают одно средневзвешенное значение, весовые множители которого определяются по формуле усреднения неравноточных рядов измерений (R данном случае имеем три неравноточных ряда измерений, соответствующих трем значениям угла поля зрения).

По результатам считываний в устройстЗ0 ве 9 вычисляются среднеквадратичное отклонение о; и среднее значение 5; для каждого считывания, где =1, 2, 3. В результате вычисляютси взвешенная сумма Я=И(в ) g

3 в

X S; Xa,, и значение в=в (Хит З, затем

Сса i=f

З5 вычисляются коэффициенты вариации, равные =, для разных высот Н регистрации

S над поверхностью 10 во всех спектральных диапазонах.

Для каждой высоты съемки и спектра1bного диапазона в конечном итоге вычисляется одно значение коэффициента вариации.

Значения коэффициента вариации для каждой высоты усредняются по всем спектральным диапазонам, при которых он вычисляется. В результате получается таблица высотной изменчивости коэффициента вариации. Затем из максимального значения коэффициента вариации вычитается минимальное его значение. Полученное число и определяет степень неоднородности по -.ерхности объекта по известным таблица м.

1320666

Составитель О. Несова

Редактор А. Огар Техред И. Верес Корректор А. Ильин

Заказ 2649/44 Тираж 677 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

П3035, Москва. Ж вЂ” 35, Раушская наб, д. 15

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, i.л. Проектная, 4

3 ный от поверхности, фокусируют его в плоскости регистрации, производят фильтрацию отраженного светового потока в различных спектральных диапазонах, преобразуют световой поток каждого спектрального диапазона в электрический сигнал, регистрируют электрические сигналы каждого спектрального диапазона на различных уровнях высоты над отражающей поверхностью, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности определения неоднородности отражающей поверхности, производят периодическое изменение отраженного светового потока путем изменения угла поля зрения от максимального до минимального значения при приеме, для каждого спектрального диапазона и для каждого уровня «ысоты над отражающей поверхностью: ронзводят не менее трех последовательностей измерений электрических сигналов с фазами {KV}, {К17+и/2}, {KV+3)}, которые соответствуют минимальному, промежуточному и максимальному значениям углов поля зрения соответственно, где V — частота изменения угла поля зрения, К=1, 2,...,n затем повторяют указанные операции для каждого спектрального диапазона и для каждого уровня высоты над отражающей поверхностью, усредняют результаты измерений, и используя полученные величины; по известной зависимости определяют неоднородность отражающей поверхности.

Способ определения неоднородности отражающей поверхности Способ определения неоднородности отражающей поверхности Способ определения неоднородности отражающей поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий деталей

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам для измерения формы и перемещений поверхности объекта

Изобретение относится к способу и устройству для измерения плоскостности полосы в шахте моталки стана для горячей прокатки полос

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к измерению параметров движущихся поверхностей

Изобретение относится к области приборостроения и цифровых оптических устройств и может быть использовано для бесконтактного определения качества изделий, имеющих средние и низкие классы чистоты обрабатываемых поверхностей в пределах Ra=0,8÷100 мкм

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим способам измерения высоты микрорельефа поверхностей интерференционным методом

Изобретение относится к прецизионной измерительной технике, а именно к оптическим способам контроля шероховатости поверхности, и может быть использовано в различных отраслях науки и техники, в частности в ювелирной промышленности для оценки чистоты огранки алмазов
Наверх