Способ измерения неровностей поверхности

 

Изобретение касается технических измерений отклонения от плоскости и может быть применено также для проверки образцовых мер толщины покрытий . Целью является повьшение точности измерений за счет измерения от 6 7 / / J / 8 // / , / . / X ,,,i}.2. // . i 2 1 Фиг Л 4 единой базы и соблюдения компараторного принципа для измерения неровностей поверхности. На основании 1 устанавливают элемент 2 с контролируемой поверхностью 3 и элемент 4 с предварительно аттестованной поверхностью 5, причем размеры аттестованной поверхности 5 выбирают равными или большими размеров контролируемой поверхности 3, а сами поверхности выставляют компланарно. После выставки поверхностей устанавливают измерительное устройство 6 так, чтобы его измерительный наконечник 7 касался поверхности 3, а опорный наконечник 8 - аттестованной поверхности 5, и, перемещая измерительное устройство 6 по заданной траектории, измеряют неровности поверхности.3. 2 ил. | (Л J / 8 , / . / X .2. со с: О5 Фиг Л 4

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК д1) 4 G 01 В 5/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

K Д BTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

sllgAH(!Tii

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4014337/25-28 (22) 23.01,86 (46) 15. 09.87, Бюл, N - 34 (71) Таллинский политехнический институт (72) Р.А.Лаанеотс (53) 531.717.3 (088.8) (56) Григорьев И,А., Дворецкий Е.Р.

Контроль размеров в машиностроении, М.: Машгиз, 1959, с.274, фиг.336, (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕРОВНОСТЕЙ

ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение касается технических измерений отклонения от плоскости и может быть применено также для проверки образцовых мер толщины покрытий. Целью является повышение точности измерений за счет измерения от

ÄÄSUÄÄ 1337646 А 1 единой базы и соблюдения компараторного принципа для измерения неровностей поверхности. На основании 1 устанавливают элемент 2 с контролируемой поверхностью 3 и элемент 4 с предварительно аттестованной поверхностью

5, причем размеры аттестованной поверхности 5 выбирают равными или большими размеров контролируемой поверхности 3, а сами поверхности выставляют компланарно. После выставки поверхностей устанавливают измерительное устройство 6 так, чтобы его измерительный наконечник 7 касался поверхности 3, а опорный наконечник

8 — аттестованной поверхности 5, и, перемещая измерительное устройство

6 по заданной траектории, измеряют неровности поверхности.3. 2 ил.

1337646

Формула и э о б р е т е н и я

Способ измерения неровностей поверхности, заключающийся в том, что на основании устанавливают элемент с контролируемой поверхностью и дополнительный элемент с аттестованной

Составитель Н ° Бочаров

Техред М.Ходанич

Корректор Л.Бескид

Редактор H.Ãîðâàò

Заказ 4117/35 Тираж 676

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к техническим измерениям, а именно для измерения отклонения от плоскости. Способ может быть использован также и для поверки образцовых мер толщины покрытий.

Целью является повышение точности измерений, что обеспечивается измерением от одной базы и соблюдением компараторного принципа (принципа

Аббе) .

На фиг.1 показана схема измерения по предложенному способу; на фиг.2 элементы с контролируемой и аттестовацной поверхностью с траекторией перемещения измерительного и опорного наконечников, вид сверху.

Способ измерения неровности поверхности заключается в следующем.

На основании 1 устанавливают элемент 2, поверхность 3 которого необходимо контролировать. Таким элементом может быть и образцовая мера Р5 толщины покрытия. Рядом с элементом

3 устанавливают элемент 4 с аттестованной поверхностью 5. Поверхность 5 выставляют компланарно контролируемой поверхности 3. Далее устанавливают измерительное устройство 6 таким образом, чтобы измерительный наконечник 7 касался контролируемой поверхности 3, а опорный наконечник

8 — аттестованной поверхности 5 и

35 проводят измерения отклонения поверхности 3 относительно аттестованной поверхности 5. Траекторию 9 перемещения наконечников 7 и 8 измерительного устройства 6 выбирают такой, чтобы получить полную информацию о необходимом количестве точек контролируемой поверхности 3. Размеры аттестованной поверхности 5 выбирают равными (или большими) размерам контролируемой поверхности 3, чтобы в процессе измерения не пришлось проводить перестановку дополнительного элемента 4, что приведет к снижению точности. поверхностью, выставляют эти поверхности относительно друг друга и измеряют отклонения контролируемой поверхности от аттестованной; о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерения, размеры аттестованной поверхности выбирают равными или большими размерам контролируемой поверхности и выставляют ее компланарно контролируемой поверхности.