Способ градуировки тензометрических измерительных систем

 

Изобретение относится к тензометрии и . 1Ожет быть использовано нри дистанционных измерениях с ио.мощью линий зи, пара.метры которых отличаются от параметров линий связи при градуировке датчика. Цель изобретения - повышение точности при подключении датчика к входным цепям измерительных систем с различными функциями преобразования за счет многопараметрического физического моде.)в;и1Ия электрической цепи датчика путем регу.1ирования каждого резистора, входип1ег() i-, схему имитатора. Тепзорезисторный датчик и его имитатор, собранный по Toii же схеме из резисторов тех же помина. loii, подключают поочередно к измерительной системе через имеюпгиеся в помещении для градуировки линии связи. Датчик |-радуируют эталонными уровнями. Заноминают значения сигналов на выходе системы от каждого тензорезистора датчика и по этим значениям регулируют значение сопротивле)ия каждого резистора имитатора так, чтобы достигалось совпадение получаемого при этом выходного сигнала с запомненным. Затем имитатор с устанавливаемыми на нем значениями сопротивления для каждого резисто1)а подключают к систе.ме через ли- ППК1 связи, используемую для измерения нараметров исследуемого объекта, и записывают на регистраторе уровни сигналов, соответствующие эталонным уровням физического параметра при градуировке датчика . I ил. (Л со СП ГчЭ 00 СО

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 (з 01 В 7 !8

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3816127/25-28 (22) 26.11.84 (46) 15.11.87. Бюл. № 42 (72) E. Г. Зубов, Ю. С. Ильин, И. А. Кодина и A. И. Лебедева (53) 531.781.2 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 571697, кл. G 01 В 7/18, 1975.

Эрлер В., Вальтер Л. Электрические измерения неэлектрических величин полупроводниковыми тензорезисторами. М.: Мир, 1974, с. 260- -264. (54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ТЕНЗОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ (.ИСТЕМ (57) Изобретение относится к тенз(>метрии и может быть использовано при HcTdllционных измерениях с помощью линий связи, параметры которых отличаются от параметров линий связи при градуировке датчика.

Цель изобретения — повышение точности прп подключении датчика к входным цепям измерительных систем с различными функциями преобразования за счет многопара„„SU„„1352189 А 1 метрического физического моделирования электрической цепи датчика путем регулирования каждого резистора, входящего н схему имитатора. Тснзорезисторный даигчик и его имитатор, собранный II(> т(>ll жс схеме из резисторов теx жс номиналов, подключают поочередно к измсритсл(июй системе через и мею щ иеся в помс ньен н и дл я градуировки линии связи. Датчик градуируют эталонными уровнями. Запоминают значения сигналов на выходе системы от каждого тензорезистора датчика и по этим значениям регулируют значение сопротивления каждого резистора имитатора так, чтобы достигалось совпадение получdåìого при этом выходного сигнала с запомненным.

Затем имитатор с устанавливаемыми на нем значениями сопротивления для каждого резистора подключают к системе через линпк> связи, используемую для измерения параметров исследуемого объекта, и записывают на регистраторе уровни сигналов, соответствующие эталонным уровням физического параметра при градуировке датчика. ил.

1352189

1.. !

ВНИИГ1И Закан.527(>>3-> > ираж 677 Подпчснос

Г!роизводственно-полиграфическое предприятие, !.. Ужгород. Ул Про! ктнаи, 4

Изобретение относится к тензометрии и может быть использовано при дистанционных измерениях с помощью линий связи, параметры которых отличаются от параметров линий связи при градуировке датчика.

Целью изобретения является повышение точности при подключении датчика к входным цепям измерительных систем с различными функциями преобразования за счет многопараметрического физического моделирования электрической цепи датчика.

На чертеже представлено устройство для осуществления способа градуировки тензометрических измерительных систем.

Устройство содержит узел 1 воспроизведения эталонных уровней измеряемого физического параметра, тензорезисторный датчик 2, переключатель 3, измерительное устройство 4, первое регистрирующее устройство 5, имитатор 6 датчика, тензометрическую измерительную систему 7, второе регистрирующее устройство 8.

Способ осуществляют следук>щим образом.

Тензорезисторный датчик 2 с помощью переключателя 3 подключают через имеющиеся в помещении для градуировки линии

1> связи к измерительному устройству 4 и подвергают воздействию эталонного уровня измеряемого физического параметра с помощью узла 1, измеряют выходной сигнал каждого тензорезистора датчика с помощью измерительного устройства 4 и результаты измерений регистрируют с помощью регистрируюгцего усройства 5. С помощьк> переключателя 3 на вход измерительного устройства 4 через те же линии li связи подключают имитатор 6, собранный по такой же схеме, как и датчик 2, и производят регулировку сопротивлений каждого из резисторов имитатора до совпадения результата измерения выходного сигнала имитатора с результатом измерения сигнала от соответствующего тензорезистора датчика. Регулировку сопротивлений резисторов имитатора осуществляют с помощью магазина сопротивлений или магазина проводимостей.

Значение этих сопротивлений запоминают.

Такие измерения осуществляют на каждой ступени эталонных уровней физического параметра. Имитатор 6 подключают через линии 1 связи к тензометрической измерительной системе 7, воспроизводят сопротивление резисторов имитатора соответственно их значениям на каждой ступени эталонных уровней физиче< кого параметра и

5 результаты измерений регистрируют с помощью регистрирующего устройства 8. Полученные результаты измерений используют при расшифровке измерений физического параметра с IIQMoLl>bK> датчика 2, соединенного через линии 12 связи с тензометрической измерительной сист мой 7.

Способ обеспечивает повышение точности измерения физического параметра с помощью датчика 2 совместно с линиями

l> связи и измерительной системой 7, функ15 ции преобразования которых отличаются от функций преобразования линии l i связи и измерительного устройства 4.

Форл> ула изобретения !

Способ градуировки тензометрических измерительных систем, заключающийся в том что тензометрический датчик подвергают градуировке на устройстве воспроизведения эталонных уровней измеряемого физического параметра, измеряют выходной сигнал датчика, устанавливают сигнал такой же величины на имитаторе датчика путем регулировки сопротивления резисторов схемы, подключают имитатор датчика к входу системы, регистрируют показания сис30 темы и используют их при расшифровке результатов измерений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при подключении датчика к входным цепям измерительных систем с различными функциями преобразования за счет многопара35 метрического физического моделирования электрической цепи датчика, в процессе градуировки измеряют зыходной сигнал QT каждого тензорезистор; тензометрического датчика для ка>кдого эталонного уровня измеряемого физического параметра, а регулировку сопротивления резисторов схемы имитатора датчика производят до получения совпадения выходных сигналов каждого резистора имитатора с сигналами от каждого тензорезистора тен=-,ометрического датчика при воздействии на датчик соответствующего эталонного уровня физического параметра.

Способ градуировки тензометрических измерительных систем Способ градуировки тензометрических измерительных систем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению деформации машиностроительных конструкций

Изобретение относится к тензометрии сложных инженерных конструкций, например самолетов, при статических испытаниях, когда исключена достоверность регистрации показании тензодатчиков при отсутствии воздействующей нагрузки в связи с необходимостью предварительной выборки люфтов в системе нагружения и в испытуемой конструкции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в строительстве и горно-добывающей промьшленности, в частности при наблюдениях за длительными смещениями грунтов и горных пород

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Тензометр // 1343239
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений линейных перемещений объекта

Изобретение относится к тензометрическим мостовым схемам, в том числе выполняемым по микроэлектронной технологии, в виде монолитных замкнутых четырехплечих мостов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях остаточных сварочных деформаций в плоских тонколистовых деталях конструкций

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа

Изобретение относится к испытательной технике и имеет целью повышение точности способа определения изгибной жесткости объектов, изготовленных из композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность

Изобретение относится к области автоматизации процессов взвешивания, дозирования и испытания материалов

Изобретение относится к средствам измерения динамической деформации, измеряющим динамическое деформируемое состояние инженерных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, контролирующим перемещение деталей машин, и может быть использовано в системах контроля машинами и оборудованием
Изобретение относится к электрорадиотехнике, а в частности к технологии изготовления прецизионных фольговых резисторов, а также может быть использовано при изготовлении резисторов широкого применения
Наверх