Устройство для исследования композиций электроизоляционных материалов

 

Устройство для исследования композиций электроизоляционных материалов, содержащее металлический корпус, служащий первым измерительным электродом, размещенную в металлическом каркасе катушку, проводник обмотки которой служит вторым измерительным электродом, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и достоверности измерений, каркас выполнен секционированным, в каждой секции размещены образец исследуемого электроизоляционного материала, нанесенный на катушку, изолированную от других катушек, причем поверхности стенок каркасов, разделяющих соседние катушки, выполнены такой формы и размеров, которые обеспечивают однородное электрическое поле в месте размещения образца исследуемого электроизоляционного материала.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к системам автоматического контроля и позволяет повысить надежность устройства

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и служит для расширения функциональных возможностей устройства

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и позволяет расширить функциональные возможности устройства

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в устройствах измерения частотных разрядов, например трансформаторах

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть нспользовано для контроля обрывов и коротких замыканий в электрических цепях

Изобретение относится к технике автоматизированного контроля и может быть использовано в устройствах как модуль гибких ироизводственных систем

Изобретение относится к измерительной аппаратуре, применяемой в электротехнике, и, в частности, может быть использовано для контроля воздушного зазора синхронной электрической машины, например гидрогенератора

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электротехнике, в частности к контролю электрических параметров аккумуляторных источников питания как отдельных аккумуляторов, так и батарей

Изобретение относится к области высоковольтной техники, в частности к силовым конденсаторным батареям (СКБ) в энергосистемах

Изобретение относится к области высоковольтной техники, в частности к силовым конденсаторным батареям (ОКБ) в энергосистемах
Наверх