Способ определения фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел

 

Изобретение относится к испытатель- .ной технике и может быть использовано для исследования контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхностями. Цель изобретения - повышение информативности путем измерения зазора и давления по площади контакта. При осуществлении способа между контролируемыми поверхностями помещают находящиеся во взаимном контакте рельефографическую матрицу и термопластическую пленку, нагревают пленку до температуры, превышающей температуру стеклования на 10-15°С, прикладывают давление к телам, охлаждают пленку до окончания релаксационных процессов и после извлечения осуществляют планиметрирование полученного отпечатка, по которому судят о фактической площади контакта, глубину микрорельефа, по которой судят о зазоре по площади контакта, п изменение величины регулярной оптической плотности, по которой судят о распределении давления по площади контакта. со (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5й4 ОО! В526

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4106515/25-28 (22) 10.08.86 (46) 30.05.88. Бюл. № 20 (71) Тульский политехнический институт (72) А. С. Овчинников, А. М. Мелай и А. А. Липилин (53) 53! .717 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 846994, кл. G 01 В 5/26, 1979. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАКТИЧЕСКОЙ ПЛОЩАДИ КОНТАКТА ПОВЕРХНОСТЕЙ ВЗАИМОДЕЙСТВУЮЩИХ

ТЕЛ (57) Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхностями. Цель изоб„„SU„„1399643 А1 ретения — повышение информативности путем измерения зазора и давления ио площади контакта. При осуществлении способа между контролируемыми поверхностями помещают находящиеся во взаимном контакте рельефографическую матрицу и термопластическую пленку, нагревают пленку до температуры, превышающей температуру стеклования на !Π— 15 С, прикладывают давление к телам, охлаждают пленку до окончания релаксационных процессов и после извлечения осуществляют планиметрирование полученного отпечатка, ио которому судят о фактической площади контакта, глубину микрорельефа, ио которой судят о зазоре по плошади контакта, и изменение величины регулярной оптической плотности, ио которой судят о распределении давления ио площади контакта.

1399643

Формула изобретения

Составитель В Харитонов

Редактор М. Бандура Техред И. Верее Корректор Л. Пилипенко

Заказ 2325144 Тираж 680 Подписное

ВНИИГ1И Гocóäàðñòâå!!:!Ql.о комитета (.COP по делак1 изобретений и открытий

I 13035, Москва, Ж- -35, Раугвская наб., д. 4, 5

Производственно-полиграфическое предпр ятис, г. Ужгород, ул. Проектная. 4

И зобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхностями.

Целью изобретения является повышение

14нформативности путем измерения зазора

И давления по площади контакта.

Способ осуществляют следующим обра3ом.

Между контролируемыми поверхностями тел помещают находящиеся во взаимном контакте рельефографическую матрицу и термопластическую пленку таким образом, что

11ельефографическая поверхность матрицы сонтактирует с пленкой, нагревают пленку . о температуры, превышающей температуру е стеклования íà 10 — 15 С, прикладывают, авление к взаимодействующим телам и ох)аждают пленку до температуры íà 10 ——

15 С ниже температуры ее стеклова ния, Тле. до окончаниЯ Рел акса Ционных пРоцесг1ов. Затем композицию из матрицы и плен-! ки извлекают, разъединяют и осуществля11зт планиметрирование полученного на плен11е отпечатка, по которому судят о факти1еской площади контакта поверхностей взаимодействующих тел. Измеряют глубину микрорельефа отпечатка, по которой судят о величине зазора по площади контакта взаимодействующих тел, и, наконец, измеряют изменение величины регулярной оптической плотности, по которой судят о распределении давления по площади контакта взаимодействующих тел.

Способ является безотходным, так как пленку можно использовать до 200 раз, стирая микрорельеф за счет повторного нагревания.

Способ определения фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел, заключающийся в том, что помещают термопластическую пленку между этими поверхностями, нагревают ее до температуры, превышающей температуру стеклования на 10 — 15 С, прикладывают давление к взаимодействующим телам и охлаждают пленку до ее стеклования и после извлечения пленки осуществляют планиметрирование полученного отпечатка, отличающий20 ся тем, что, с целью повышения информативности путем измерения зазора и давления по площади контакта, используют рельефографическую матрицу, которую размешают между одним из взаимодействующих тел и пленкой так, что ее рельефографическая поверхность контактирует с пленкой, и измеряют глубину микрорельефа отпечатка и изменение величины репу лярной оптической плотности пленки, по которым судят соответственно о величине зазора и давления.