Микроскоп для контроля соосности

 

Класс 421з, 14

Мв 145776

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Лг0 17(И. А. Григорьев и С. Д. Решетнев

МИКРОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ СООСНОСТИ

Заявлено 4 апреля 1961 г. за Хе 726148/26-10 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» . м 6 за 1962 г.

Известные (например, из руководства по юстировке прибора

ИАБ-451) микроскопы для контроля соосности, например соосности отверстий изделий типа карданного подвеса, обладают низкой чувствительностью, т. е. не обеспечивают получения необходимой точности.

Предложенный микроскоп лишен указанного недостатка. Сущность изобретения заключается в том, что в микроскопе в качестве центрирующих элементов применены зеркальные шаровые поверхности. При этом обычный микроскоп заменен автоколимационным MHкроскопом.

На чертеже схематично изображен предложенный микроскоп.

Микроскоп состоит из осветителя 1, пластины 2 с перекрытием, полупрозрачной пластины 8, окуляр-микрометра 4 и объектива 5.

Принцип измерения соосности отверстий изделия заключается в использовании отражательных свойств зеркальных сферических поверхностей и свойств специального микроскопа. Пластина 2 с перекрестием помещается в фокальной плоскости окуляр-микрометра 4.

При освещении пластины 2 осветителем 1 перекрытие пластины видно в объективе в виде светящегося креста. С помощью специальной призменной насадки 6, помещаемой перед объективом 5, пучок лучей, выходящий из объектива микроскопа, преломляется под углом 90 и разделяется на два пучка, образуя угол 180 между собой. При этом оба пучка лежат на одной линии.

На этой линии находятся два изображения светящегося креста. создаваемые объективом, В отверстия а контролируемого изделия 7 вставляются шарики 8. Перемещением изделия центр одного из шариков совмещают с первым изображением светящегося креста, что проверяется по совпадению автоколлимационного изображения этого креста с перекрестием окуляра. После этого перемещением изделия параллельно базовой плоскости совмещают центр шарика, установлен№ 145776 ного во втором отверстии, со вторым изображением креста. По расстоянию между автоколлимационным изображением креста и горизонтальной линие1 перекрестия окуляра измеряют расстояние между осями отверстий.

Возможно и последовательное совмещение центров двух шариков с одним изображением креста, если поворачивать изделие с помощью делительной головки.

Отличительной чертой предложенного микроскопа является повышение его чувствительности по сравнению с аналогичными известными микроскопами в два раза.

Предмет изобретения

Микроскоп для контроля соосности, например соосности отверстий изделий типа карданного подвеса, отличающийся тем, что в нем, с целью повышения чувствительности, применены зеркальные шаровые поверхности, играющие роль центрирующих элементов, а обычны" микроскоп заменен автоколлимационным микроскопом. б 7

Соегавитель A. П. Бидевкин

Редактор Л. М, Гридчии

Техред Т. П. Курилко Корректор С. Ю. Цверина

Типография ЦБТИ, Москва, Петровка, 14.

Поди. к печ. 20.111-62 г. Формат бум. 70)(108 /1е Объем 0,18 изд. л.

Зак. 2776 Тираж 550 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д, 2/6

Микроскоп для контроля соосности Микроскоп для контроля соосности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области строительства при осуществлении контроля смещения подвижного объекта при строительстве высотных зданий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к области измерительной техники и служит для определения пространственной геометрии технологических каналов, в т.ч
Наверх