Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний

 

Изобретение относится к измерительной технике для градуировки измерителей и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах. Цель изобретения - повьииение точности достигается тем, что нри градуировке измерителя используют имитатор вибрации. После настройки и юстировки оптической системы вибратору 4 и отражателю 3 придают колебания с требуе.мой а.мплитудой. На отражатели 3 и 12 направляют лучи света от .чазеров 1 и 8 соответственно. При колебаниях отражателя 3 тень от объекта 2 перемешается вдоль щелевой диафрагмы 5. .Амплитуду колебаний Аф отражателя 3 измеряют лазерным интерферометром ,. По измеренным параметрам решающий блок 13 подсчитывает граду ировочныи 1 ил. коэффициент Крр по формуле

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1404813 А 1 (5D 4 С1 01 В 11 16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

llO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4106437/24-28 (22) 12.06.86 (46) 23.06.88. Бюл. № 23 (71) Московский авиационный институт им. Серго Орджоникидзе (72) А. И. Ильянков и В. С. Васильев (53) 531.717 (088.8) (56) Иорш Ю. И. Виброметрия. — М.: Машгиз, 1963, с. 580 — 581. (54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ АМПЛИТУДЫ МЕХАНИЧЕСКИХ КОЛЕБАНИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике для градуировки измерителей и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодостуIIHblx местах. Цель изобретения — повышение точности достигается тем, что при градунровке измерителя используют имитатор вибрации. После настройки и юстировки оптической системы впбратору 4 и отражателю 3 придают колебания с требуемой амплитудой. На отражатели 3 и 12 направляют лучи света от лазеров 1 и 8 соответственно. При колебаниях отражателя 3 тень от объекта 2 перемешается вдоль щелевой диафрагмы 5. Амплитуду колебаний

А, отражателя 3 измеряют лазерным интерферометром 7. По изм pt.ííûì параметрам решающий блок 13 подсчитывает градуировочный коэффициент К„по формуле.

1 ил.

1404813

Формула изобретения

Составитель Б. Ти мофее в

Редактор Г. Волкова Техред H. Верес Корректор О. Кравнова

Заказ 3088/41 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах.

Цель изобретения — повышение точности градуировки при измерении колебаний в труднодоступных местах.

На чертеже приведено устройство, реализующее способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний.

Устройство содержит лазерный источник

I света, объект 2 исследования, отражатель

3, соединенный с маломощным вибратором 4, щелевую диафрагму 5, установленную перед фотоприемником 6, лазерный интерферометр 7, включающий лазер 8, отражатель

9, делитель 10 лазерного луча, фотоприемник 11 и измерительный отражатель 12, связанный с маломощным вибратором 4, решающий блок 13 и цифровой дисплей 14.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч света от источника 1 направляют на неподвижный объект 2 исследования вдоль его поверхности, которая частично 25 перекрывает луч. Часть луча света, не перекрытая поверхностью объекта 2, падает на отражатель 3 и после отражения — на фотоприемник 6, проходя при этом через щелевую диафрагму 5. Луч света, выходящий из лазерного интерферометра 7, падает на из- Ç0 мерительный отражатель 12, после отражения от которого луч падает на фотоприемник 11. На фотоприемник 11 падает также луч света, вышедший из лазера 8 и отраженный от отражателя 9. После настройки и юстировки оптической систем ы производят градуировку измерителя следующим образом. Придают колебания с требуемой амплитудой вибратору 4 и, следовательно, отражателю 3. На отражатели 3 и 12 направляют лучи света соответственно от лазеров 1 и 8.

Объект 2 исследования при этом не колеблется, но перекрывает часть падающего на него луча света от источника 1. При колебаниях отражателя 3 тень от объекта 2 перемещается (сканируется) вдоль щелевой диафрагмы 5. При этом фотоприемник выдает электрический сигнал, напряжение которого пропорционально амплитуде колебаний отражателя 3. Амплитуду А„колебаний отражателя измеряют лазерным интерферометром 7. По измеренным параметрам решающий блок 13 подсчитывает градуировочный коэффициент К, по формуле

К, =Ч,р/А„ .

Описанную процедуру при градуировке повторяют для всего диапазона амплитуд, при которых испытывают деталь. Результаты расчета высвечиваются на цифровом дисплее 14 или могут направляться на ЭВМ.

Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний, заключающийся в том, что освещают объект, задают ему калибровочные колебания, регистрируют показания измерителя и определяют градуировочный коэффициент как отношение показаний измерителя к амплитуде калибровочных колебаний, отличающийся тем, что, с целью повышения точности градуировки при измерении колебаний в труднодоступных местах, между объектом и измерителем устанавливают зеркало, а калибровочные колебания задают с помощью зеркала.

Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины покрытий оптическими методами

Изобретение относится к измерению деформаций конструкций оптическими методами Цель изобретения - повьшение точности определения динамических деформаций цилиндрических оболочек посредством регистрации спектрального распределения светового потока, выходящего из оболочки

Изобретение относится к определению напряжений в конструкциях поляризационно-оптическим методом

Изобретение относится к определению напряжений в прозрачных материалах поляризационно-оптическим методом

Изобретение относится к измерению деформаций конструкций оптическими методами

Изобретение относится к исследованию температурных напряжений поляризационно-оптическим методом на моделях из замораживаемого оптически-чз ствительного материала.Цель изобретения - повышение точности путем полного воспроизведения температурного нагружения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения различий формы поверхностей, в частности при криминалистических исследованиях деформаций объектов

Изобретение относится к определению деформаций конструкций оптическими методами

Изобретение относится к электроннооптическим средствам измерения деформации и может быть использовано для измерения линейных и угловых деформаций конструкций и деталей машин

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх