Устройство для контроля рентгенограмм повышенной плотности

 

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а более конкретно к устройствам визуальной и фотометрической оценки рентгенограммы повьшенной плотности . Цель - увеличение точности и достоверности контроля путем выявления малоконтрастных протяженных дефектов изделия на рентгенограмме при оптических плотностях до ,0-4,0 и более. При рассматривании рентгенограммы на просвет на фоне ярко освещенного экрана, защищенного от теплового действия излучения, производится зондирзпощий поиск границ перепада плотности почернения смежных полей. Этот поиск производится путем дифференциального фотометрирования волоконно-оптическим микрозондом отдельных точек рентгенограммы и состоит в фотоэлектрическом измерении разности светопропускания равных по площади двух пар смежных микрополей рентгенограммы , расположенных ортогонально в двух противоположных квадрантах зоны вокруг контролируемой точки. Неравенство пропускания световых потоков у соответствующей пары микрополей позволяет судить о наличии скачка градиента оптической плотности в данной точке рентгенограммы. Предусмотрена возможность сканирования рентгенограммы с изменением масштаба и с одновременным определением координат, для чего используется сканирукяций механизм D виде пантографа. 2 ил о $ йь INO

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5у 4 G 01 N 21/88 с

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ ГЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4140311/24-25 (22) 17,07.86 (46) 30.08,88, Бюп. ¹ 32 (71) Научно-исследовательский институт интроскопии (72) Н.А.Валюс, А.А.Кеткович и Н.Ю,Иолодкина (53) 535.24 (088,8) (56) Патент США № 4004360, кл. 40-106, опублик ° 1977.

Патент ФРГ № 1088341, кл. 57а, 7/10, опублик, 1961. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ РЕНТГЕНОГРАММ ПОВЫШЕННОЙ ПЛОТНОСТИ (57) Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов

1 и изделий, а более конкретно к устройствам визуальной и фотометрической оценки рентгенограммы повышеннойплотности. Цель — увеличение точности и достоверности контроля путем выявления малоконтрастных протяженных дефектов изделия на рентгенограмме при оптических плотностях до Р=3,0-4,0

„„,SUÄÄ 1420489 д1 и более. При рассматривании рентгенограммы на просвет на фоне ярко освещенного экрана, защищенного от теплового действия излучения, производится зондирующий поиск границ перепада плотности почернения смежных полей.

Этот поиск производится путем дифференциального фотометрирования волоконно-оптическим микрозондом отдель ных точек рентгенограммы и состоит в фотоэлектрическом измерении разности светопропускания равных по площади двух пар смежных микрополей рентгенограммы, расположенных ортогонально в двух противоположных квадрантах зоны вокруг контролируемой точки. Неравенство пропускания световых потоков у соответствующей пары микрополей позволяет судить о напичии скачка градиента оптической плотности в данной точке рентгенограммы. Предусмотрена возможность сканирования рентгенограммы с изменением масштаба и с одновременным определением координат, для чего используется сканирующий механизм в виде пантографа. 2 ил..1420ч89

Изобретение относится к технике

НЕРаЗРУШатОЩЕГО 1:ОНтДОЛЯ МатЕРИаЛаВ И изделий радиационным методам, а более конкретна к устройствам визуальной и фотометрическай оценки рентгенограмм повышенной Оптической платнОсти (D >

> 3,0-4,0), полу :аемих, например,. при радиационном контрход= .-.верных и ттаяных издял1п"т авиационной пдамьшц1янна10 сти и в дядя,цдугих случаяв, Цел B из а бр ЯT (» 1лт1я — ъ.в Яттич Я ВВр "f Оч-= ности и достоверности контроля пу.— адей выявления малаконтдастных протяженных дефектов изделия на рентге=

МОГДаММЕ ПРИ OI!ТИЧЕСКНХ 1ттлатНОСТЯХ до D=3, 0-4,, 0 и б ал ее, На фиг.1 показана ..."тдайство, об-щин вид; на фиг„2 — схемь сканирующe= го механизма и измерительной системы,, Устройство для кангдалн рентгенограмм повышенной ллаi.Hac",-н., ряалиауЮщее предлагаемьпл способ,, Qaoòàèò (фиг.1) из осHQBB!I!Iя 1, .корпуса 2 с рассеивающим экраном 3 из матавога стекла,, служащего для прот матра рент=генограмм. устат1анлтлваямых перед ним. рубт1а1ыйл Bc Taчтн1лK и QBPтаттага BBJlучения служит для асвеще»зля экрана 3

Фасетнае интядфярят.ц. аннан зеркала 5 т

СОСТаВЛЯННОЯ ИЗ О 1 ДЯЛЬНЬтк ПЛНСТИН ИнтядфярянциОнных зеркал» зdEpBпленО неподвижно внутри тяплазашт-тнага цилиндра 6 B служ11т дт1я атд .KF 1ттл11 вттди-мого излучения на экран 3. Оно пра,т Г пускает тепловое инфракрасное излучение на внутренние стенкт.:: теплозащитнога ттилинрт»»а 6 с nalëa!шактщим па крытием. Внутри т=-пт1аза..цитнага цн.линдра установлЯH вент.-.-1пя., ар 7„слу-"жащий для 0>.лаждя:,ия в»утд =::них (..те.- иок цилиндра - и зеркала .:, цття диафраГМ1ЛДОВан»я l".Вета» тГО Натана т Лужит хтрямаугат.ьная птл фаагма„состоящая из горизонт;-ы:т- н;х 8: :..з= дт.-.:кальных 9 штсра«!»ОД:: Q.l- .T.--,л;,ньте Iт lверти=- 15 кальные шторк::-:: .1я.»я1.ящаются па напра = вляющим 10. В»е корпуса n.= ед экраном

3 располагается "= тлаканнс-:QnT::IBBQBBé микДQÇQBU 1 к .»т»тзклхау1.штлй с 13ЯI- Tгеногдаммай устанавленнм : -.;. экра =",0

BP 3.

Сканируюций "-:;" ;;..H. ç i (o»ò :, ) Bblполнея в виде патнт,,граба 2 с. полюсом 13 и подв1лжттт»тмн каьтцаттн 14 и 15.

На подвижтлом катит,е -т уК. 2lтлен ми1с1 „ :-" т;ч заид 1 I КО1ттат» )1т а Pl Он Ь TPÃßß I!O » I!:

Р

ШНЕй ПОВЕДХНОС f Д > НТ - "- » "тт i". тт»тЬт Ус-тановленнои на экране .,,"..тугай г.адI вижный конец (5 па»та1 Да(та сна,i;-::Ян щупом, соприкасающимся с поверхностью адресной панели 16, соединенной с адресной системой 17. Измерительная система включает в себя также блок

18 измерения разностного сигнала, блок 19 измерения суммарного сигнала и блок 20 обработки информации, соединенный с внешним устройством 21 индикации.

Устройство работает следующим образом.

Предназначенная для контроля рентгенограмма устанавливается перед матовым экраном 3. Источник 4 излучения освещает матовый экран 3 на просвет лучами предварительно отраженного от теплазащитного фасетного интерФерянционнога зеркала 5.В качестве источника излучения может применяться трубчатая галагенная лампа, которая излучает. видимое и инФракрасное излучение. Видимый (холодный) свет освещает матовый экран, а тепловое (инфракрасное) излучение отфильтровывается зеркалом 5 и поглощается покрытием цилиндра 6. Крепление теплозапплтного цилиндра к боковым стенкам корпуса 2 изолирует его от передней поверхности корпуса. Нагретый инфракрасным излучением цилиндр 6 отдает свое тепло воздуху, прогоняемому через него вентилятором 7.

С целью защиты глаза оператора от ослепляющей яркости малаплотныхучасткав рентгенограммы производится перекрывание этих участков защитными шторками 8 и 9. Для фотометрических измерений светового потока, проходящего через различные участки рентгенограммы, используется микрозонд 11.

Скользящим движением микрозонда 11па поверхности дентгенограьпты считываются разнастные сигналы об оптической плотности смежных участков рентгена" гркммы в зоне вокруг контролируемой точки, а по кабелю от микрозонда сигналы направляются в измерительную сис гяму.

Конструктивно микрозонд 11 выполнен в виде трубки малого диаметра, внутри которой расположены четыре волоконных световода, которые у открытога конца трубки (во входном зрачке) образуют четыре квадранта. Интенсивность световога излучения, проходящего через элементарные площадки рентгенограммы, измеряется четырьмя фото, риямтплкаьлл, распаложенньыл, соответственно, на противоположных концах

89 з 14204 волоконных световодов. В качестве фотоприеMHHKQH могут использоваться фотодиоды или фоторезисторы, чувствительные к излучению применяемого источника излучения. Каждый фотодиод преобразует принимаемое излучение в электрический сигнал, который поступает в электронную схему для регистрации, обработки и вь цачк сигнала о

10 наличии контролируемых дефектов.

Во время Фотометрированкя рентгенограммы микрозонд 11 перемещается по внешней поверхности рентгенограммы, контактируя с ней своим входным

15 отверстием.

Для выявления сверхтонких по контрасту дефектов с применением многократного фотометрирования этих участков устройство снабжено сканирующим механизмом (фиг.2), выполненным в виде пантографа с полюсом 13 и двумя подвижными чертящими концами 14 и 15.

На одном конце 14 пантографа укреплен микрозонд 11, контактно скользящий по 2

25 внешней поверхности рентгенограммы, просвечиваемой на экране. Другой чертящий конец 15 пантографа соединен со щупом, скользящим по позиционно-чувствительной адресной панели 1б осуЭ

30 ществляющей регистрацию координат местоположения микрозонда 11 в поле сканирования. Сигналы от адресной панели 16 передаются в адресную систему 17 и далее на блок 20 обработки информации, например микроЭВМ, Полу- З5 чаемая информация выводится на индикаторное устройство 21.

Применение пантографа в качестве сканирующего механизма позволяет путем переноса полюса выбрать для анализа различные участки рентгенограммы, а путем изменения плеч пантографа менять масштаб сканируемого поля.

Таким образом, устройство для контроля рентгенограмм повьппенной плот- 45 ности. позволяет измерять малые по контрасту дефекты изделий на рентгенограммах, которые не поддаются выявлению известными средствами.

Формула из обретения

Устройство для контроля рентгенограмм повьппенной плотности, содержащее корпус с установленными в нем вентилятором и источником светового излучения, оптически связанным с матовым рассеивающим экраном для установки контролируемой рентгенограммы, отличающееся тем, что, с целью увеличения точности и досто,верности контроля, оно дополнительно содержит теплозашктное фасетное интерференцконное зеркало, волоконнооптический микрозонд с четырьмя фотоприемниками, сканирующий механизм и измерительную систему, теплозащитное фасетное интерференционкое зеркало расположено по ходу излучения между источником излучения и экраном, вход- . ной зрачок волоконно-оптического микрозонда выполнен в виде четырех отдельных квацрантов, каждый из которых оптически связан световодом с одним из фотоприемников, кзмерительная система включает в себя блок измерения разностного сигнала, блок измерения суммарного сигнала, адресную панель, связанную с адресной системой, к блок обработки информации, сканкрующий механизм выполнен в виде пантографа, на одном из подвижных концов которого установлен волоконно-оптический мнкрозонд, а другой подвижный конец пантографа снабжен щупом, соприкасающимся с адресной панелью, прк этом волоконно-оптический микрозонд оптически связан с экраном для установки контролируемой рентгенограммы, блок измерения разностного сигнала соединен с двумя фотоприемниками, соответствующими противоположным квадрантам входного зрачка микрозонда, блок измерения суммарного сигнала соединен

1 с двумя другкмк фотоприемниками микрозонца, блоки измерения разностно1 о и суммарного сигналов, а также адрес« ная система соединены с блоком обработки информации, 1420489

Составитель В. Калечиц

Техред И. Ходанич Корректор Н. Король

Редактор А.Огар

Заказ 4323/48

"Тираж 847

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1l3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для контроля рентгенограмм повышенной плотности Устройство для контроля рентгенограмм повышенной плотности Устройство для контроля рентгенограмм повышенной плотности Устройство для контроля рентгенограмм повышенной плотности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическим методам контроля, в частности изменений объектов решетчатой структуры, например намотанной на решетку пряжи

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано в оптическом приборостроении при контроле качества оптического стекла

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при автоматизации визуального метода дефектоскопии

Изобретение относится к метрологии и предназначено для контроля дефектов деталей

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения углового распределения рассеянного света и косвенной бесконтактной оценки параметров рассеивающей поверхности

Изобретение относится к метрологии поверхностей оптического качества и может применяться в микроэлектронике для контроля поверхностных загрязиений полупроводниковых пластин, а также в оптическом производстве для определения класса обработки оптических поверхиостей

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при измерении уноса асбоштастиков, стеклопластиков и др

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх