Поляриметр

 

Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано в технике измерений поляризационных характеристик оптического излучения. Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение удобства эксплуатации . Поляриметр содержит оптически связанные и установленные последовательно вдоль оптической оси поляризационный преобразователь 1, вьтолненный в виде электрооптического кристалла , анализатор 2, ось пропускания которого составляет с главным направлением поляризационного преобразователя 1 угол 22,5, систему регистрации 3. Анализатор 2 имеет два оптических выхода на фотоприемники 4 и 5 системы регистрации 3. Двухполярное напряжение подается на поляризационный преобразователь 1 источником питания 7. 1 ил. ip

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СО1.1ИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (5l)4 С 01 1 4/04

Всу 2 и ., ;у z

Г

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (2I) 4201477/31-25 (22) 02.03.87 (46) 15.11.88. Бюл. № 42 (71) Институт физики АН БССР (72) В,A.)Êäàíoâñõèé, Е.Ф,Золотовская и В.Н.Снопко (53) 535.8(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 989335, кл. G 01 J 4/04, 1981, Иошпа Б.А., Обридко В,Н. Фотоэлектрический анализ поляризованного света. — Оптика и спектроскопия, 1963, т.15, в.1 с.119-122. (54) ПОЛЯ РИИЕТР (57) Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано в технике измерений поляризационных

„„S0 1437690 А 1 характеристик оптического излучения, Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение удобства эксплуатации. Поляриметр содержит оптически связанные и установленные последовательно вдоль оптической оси поляризационный преобразователь 1, выполненный в виде электрооптического кристалла, анализатор 2, ось пропускания которого составляет с главным направлением поляризационного преобразователя I угол 22,5, систему регистрации

3. Анализатор 2 имеет два оптических выхода на фотоприемники 4 и 5 системы регистрации 3, Двухполярное напряжение подается на поляризационный преобразователь 1 источником питания 7, 1 ил.

1437690 (1- — ) 12

2(а, — а,) где U а о ь а

Х а +.Ь (а -Ьа.

Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано в технике измерений поляризационных характеристик оптического излучения, Цель изобретения " упрощение кон5 струкции и повышение удобства эксплуатации поляриметра, На чертеже представлена структурная схема предлагаемого поляриметра, Поляриметр содержит оптически связанные и установленные последовательно вдоль оптической оси поляризационный преобразователь 1, выполненный в

/ виде электрооптического кристалла, анализатор 2, ось пропускания которого составляет с главным направлением поляриэационного преобразователя 1 угол 22,5, и систему 3 регистрации. 20

Анализатор 2 имеет два оптических выхода на фотоприемники 4 и 5 системы

3 регистрации, которые соединены с регистрирующей аппаратурой 6 системы 3 регистрации. Двухполярное напряжение 25 подается на.поляризационный преобразователь 1 источником 7 питания.

Поляриметр работает следующим образом, 30

Исследуемое излучение поступает вдоль оптической оси на поляризационный преобразователь 1, обладающий линейным электрооптическим эффектом. Напряжение, поданное последовательно 35 на поляризационный преобразователь 1 источником 7 питания, приводит к появлению разности фаз с, равной !1/4; 0;

- /4, между ортогонально поляризованными компонентами излучения. Далее излучение анализируется линейным анализатором 2, установленным так,- .что

его ось пропускания составляет с главным направлением поляризационного преобразователя угол 22,5, Прошедшая че45 рез анализатор 2 доля излучения попадает на.фотоприемник 4 системы 3 регистрации, а отраженная анализатором

2 доля излучения попадает на фотоприемник 5 системы 3 регистрации. Сигналы, снимаемые с фотоприемников 4 и

5, характеризующие долю прошедшего через анализатор и отраженного от него излучения, связаны с параметрами

Стокса анализируемого излучения соот- 55 ношениями:

- 2 2

2(а +а )-(3+ — ) а — (1- -)Ь

-1 2 О 2 О третий параметр Стокса, отражающий преобладание в исследуемом излучении компоненты, линейно поляризованной под углом 45 или в направо ленин под углом -45 к оси Х; — первый параметр Стокса, представляющий собой полную интенсивность исследуемого излучения; — второй параметр Стокса, отражающий преобладание в исследуемом излучении компоненты, линейно поляризованной в направлении под углом

45 или в направлении под о углом -45 к оси Х; †.четвертый параметр Стокса,отражающий преобладание в исследуемом излучении левой или правой круговой поляризации; — доля излучения, прошедшая через анализатор 2 и регистрируемая приемником 4 системы 3 регистрации, при нулевой разности фаз между ортогонально поляризованными компонентами исследуемого излучения; доля излучения, отраженная анализатором 2 и регистрируемая приемником 5 системы

3 регистрации при нулевой разности фаз между ортогонально поляризованными компонентами исследуемого излучения; доля излучения, прошедшая через анализатор 2 и регистрируемая приемником 4 системы 3 регистрации при разности фаз величиной /4 между ортогонально поляризованными компонентами исследуемого излучения; доля излучения, прошедшая через анализатор 2 и регистрируемая приемником 4 системы 3 регистрации при разнос\ ти фаз величиной — и/4 между ортогонально поляриэован1437690

Сигналы с приемников усиливаются и регистрируются соответствующей аппаратурой.

При равной погрешности определения поляризационных характеристик исследуемого излучения предлагаемый поляриметр прост по конструкции и удобен в эксплуатации за счет уста-. новки оси пропускания анализатора относительно главного направления пбляриэационного преобразователя под углом 22,5

Ф о р м у л а и э о б р е т е н и я

2,5

Составитель В.Рандошкин

Редактор А,Лежнина Техред А.Кравчук Корректор Л.Пилипенко

Заказ 5882/40 Тираж 499 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r, Ужгород, ул. Проектная, 4 ными компонентами исследуемого излучения, по которым определяются параметры

Стокса, Пример. Разработан и изготовлен поляриметр для анализа излучения, поляризационные характеристики которого описываются параметрами

Стокса I, Q, U, V. Поляриметр установлен на площадке, которая имеет

Возможность вертикальной и Гориэон тальной юстировки. Поляризационным преобразователем служит монокристалл арсенида галлия, главное направление которого составляет с осью пропускао ния анализатора угол 22,5 . Анализатор выполнен из германия в виде плоскопараллельной пластины H установлен под углом Брюстера к оптической оси.

Технические характеристики устройства:

Рабочая длина волны, мкм 10,6

Диаметр светового 25 луча не более, мм

Рабочее напряжение, В 750

Максимально допустимая мощность иссле" 30 дуемого излучения, Вт

Приемник излучения, тип МГ-30

Поляриметр, содержащий оптически связанные и последовательно установленные вдоль оптической оси поляризационный преобразователь, выполненный в виде электрооптического кристалла, анализатор, ось пропускания которого составляет острый угол с главным направлением поляризационного преобразователя, и систему регистрации, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции и повьппения удобства эксплуатации, анализатор установлен так, что ось пропускания анализатора составляет с главньк направлением поляриза". ционного преобразователя угол 22,5,

Поляриметр Поляриметр Поляриметр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к об.части оптического ирибо)остр()ения, конк 1етиее к ойт и ко-а,те кт ройным ноляризаинони ьи у стройства.м, и .может Спл 1 исг о:1ьз()15аи() в ана- .титичеекой .химии, 1И1Н1ево1 1 микробиоло1 ичеекои нромыиь 1еиности, а также в медицине

Изобретение относится к области оптики, в частности к устройствам для диагностики плазмы, и мояет быть использовано дпя измерения переменного по времени угла поворота плоскости поляризации в плазме

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к оптико-электронным поляризационным устройствам, предназначенным для анализа состава и строения вещества, и может быть использовано в оптической технологии, аналитической химии, микроэлектронике, пищевой и микробиологической промышленности

Изобретение относится к области аналитического приборостроения и может быть использовано для контроля качества выпускаемой продукции, например, в оптико-механической, микроэлектронной, пищевой, химической, микробиологической промышленности, а также в медицине

Изобретение относится к поляризационной оптике и может использоваться в эллипсометрии

Изобретение относится к технике оптических измерений и может быть использовано в установках по диагностике физических объектов оптическими поляризационными методами

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к технике измерения оптического вращения плоскости поляризации света гироанизотропными средами

Изобретение относится к области пол |риметрии и оптоэлектроники

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх