Способ определения плотности заряда в диэлектриках
Изобретение относится к электроизмерениям и предназначено для определения величины заряда диэлектрических образцов. Изобретение позволяет повысить точность измерения заряда в плоских диэлектриках в результате снижения величины постоянного напряжения на обкладках вибрационного измерительного конденсатора. Исследуемый образец помещают в зазор конденсатора с вибрирующим электродом, измеряют ток в цепи конденсатора, изменяют положение образца в перпендикулярном обкладкам конденсатора направлении, приложением постоянной разности потенциалов к обкладкам конденсатора добиваются первоначального значения тока в цепи конденсатора и по величине приложенного постоянного напряжения и по величине перемещения образца судят о величине заряда диэлектрика.
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧ ЕСНИХ
РЕСПУБЛИК
° ., Р ° I
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Ь=
U о 1 где Е =8, 85 10 Ф/м электрическая постоянная напряжение, необхоцимое для
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР
i (.21 ) 4302559/24-21 (22) 01 ° 07 ° 87 (46) 07.04.89. Бюл. У 13 (71) Воронежский государственный университет им. Ленинского комсомола (72) Н.M. Алейников (53) 621.317.318(088.8) (56) Электреты./Под ред. Г.Сесслера. — M.: Map, 1983, Авторское свидетельство СССР 11 - 1352411, кл. G 01 R 29/12, 27.03.86. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА В ДИЭЛЕКТРИКАХ (57) Изобретение относится к электроизмерениям.и предназначено для определения величины заряда . диэлектрических образцов. Изобретение позволяИзобретение относится к электроизмерениям и предназначено для определения величины заряда диэлектрических образцов °
Цель изобретения — повышение точности определения плотности заряда в плоских диэлектриках.
Поставленная цель достигается тем, что в известном вибрационном компенсационном способе измерения плотности заряда в диэлектрике, включающем помещение исследуемого плоского диэлектрического образца в зазор конденсатора с вибрирующим электродом, подключение к конденсатору, регулирование и измерение внешнего постоянного напряжения, измерение тока виб-, рационного конденсатора, измеряютток вибрационного конденсатора в ис„„SU„„1471152 А1 (51)4 G 01 R 29/12 ет повысить точность измерения заря.да в плоских диэлектриках в результате снижения величины постоянного напряжения на обкладках вибрационного измерительного конденсатора. Исследуемый образец помещают в зазор конденсатора с вибрирующим электродом, измеряют ток в цепи конденсатора, изменяют положение образца в перпендикулярном обкладкам конденсатора направлении, приложением постоянной разности потенциалов к обкладкам конденсатора добиваются первоначального значения тока в цепи конденсатора и по величине приложенного постоянного напряжения и по величине переме- а
® щения образца судят а величине заряда диэлектрика. ходном положении образца при отсутствии постоянной разности потенциалов на обкладках конденсатора, перемещают образец в зазоре конденсатора в на правлении, перпендикулярном обклад-, кам коиденсатора, в новом положении образца, регулируя напряжение на конденсаторе, добиваются первоначального значения тока, измеряют напряжение и расстояние между начальным и конечным положениями образца, а плотность заряда в диэлектрике вычисляют по формуле
14711 достижения пер.— воначального неизменной в процессе выполнения измерений. разца.
Составитель ..А. Межерицкий
Редактор Е. Папп Техред Л.Олийнык Корректор Ч. Самборская
Заказ 1605/48 Тираж 711 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 значения тока;
1 — расстояние меж5 ду начальным и кон ечным поло.жениями образца, Определение плотности заряда диэлектрика осуществляется следующим . образом.
В зазор плоского конденсатора параллельно его обкладкам помещают исследуемый плоский .диэлектрик. Один иэ электродов заставляют вибрировать.
Возникающий в цепи конденсатора пульсирующий ток измеряют, например, при помощи осциллографа. Изменяют положение диэлектрика в зазоре конденсатора. Подавая и регулируя внешнее на.-. пряжение,добиваются первоначального значения амплитуды тока. Измеряют . расстояние 1 между начальным и конечным положениями. образца, а также напряжение U, которое потребовалось для восстановления амплитуды тока до исходного значения. Величину плотности заряда определяют по формуле
Ь =Е,—
ЗО
Отсутствие необходимости в компенсации тока путем подачи высокого постоянного напряжения в начальном по-.: ложении .образца обеспечивает проведение измерений при относительно низком
3S постоянном напряжении, что уменьшает вероятность перераспределения заряда диэлектрика и сохраняет его величину
Формула изобретения
Способ .определения плотности заряда в диэлектриках, заключающийся в том, ч то размещают плоский ди элек трический образец в зазоре конденсатора с вибрирующим электродом, измеряют ток конденсатора, подают на конденсатор и изменяют постоянное напряжение, измеряют величины постоянного напряжения до и после изменения взаимного расположения электродов конденсатора и образца, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения точности, перед измерением тока подают на конденсатор нулевую разность потенциалов, перемещают образец в зазоре конденсатора перпендикулярно электродам, изменяют постоянное напряжение на конденсаторе до достижения первоначального значения тока, а плотность заряда в диэлектрике 6 вычисляют по формуле
Ь =E о где E 8,85
«10 Ф/м — электрическая по" стоянная;
U — напряжение, необходимое для достижения первоначального значения тока;
1 — расстояние между . начальным и конечным положениями об
