Способ определения спектральной плотности энергетической яркости ик-излучения тепловых источников

 

Изобретение относится к спектрорадиометрии источников теплового ИК-излучения, например, для передачи размера единиц спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) в Государственной поверочной системе. Целью изобретения является повышение точности. Сущность изобретения заключается в регистрации разностных сигналов от исследуемого и эталонного излучения с предварительно выровненными интегральными потоками, причем потоки преобразуются в сигналы по идентичным трактам, попеременно оптически сопрягаемым фотоприемником с приемно-усилительной системой с частотой синхронного детектирования. Суждение об определяемой величине СПЭЯ по разностным сигналам выносится на основании двух измерений с эталонным излучением модели черного тела при двух температурах. Изобретение позволяет повысить точность определения СПЭЯ. 1 ил.

Изобретение относится к технической физике в части создания способов определения спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) теплового ИК-излучения и может быть использовано для спектрорадиометрии источников теплового ИК-излучения, например, для передачи размера единиц СПЭЯ в Государственной поверочной схеме. Целью изобретения является повышение точности. На чертеже представлена блок-схема установки для реализации способа. Установка для реализации способа содержит источник 1 теплового ИК-излучения, модель черного тела (МЧТ) 2, зеркало-модулятор 3 с приводом 4, проектор 5, спектрометр 6 с фотоприемником 7 на выходе и синхронный детектор 8 с усилительной системой, вход которого связан с фотоприемником 7, а синхронизирующий выход - с приводом 4 модулятора. Элементы: источник 1, зеркало-модулятор 3, проектор 5, спектрометр 6, образуют первый оптический тракт, который идентичен второму оптическому тракту, образованному МЧТ, зеркалом-модулятором 3, проектором 5, спектрометром 6. В фокусе проектора 5 расположена входная щель спектрометра 6, которая может быть перекрыта интегральным фотоприемником 9. Источник 1 и МЧТ 2 снабжены регулируемыми блоками питания соответственно 10 и 11. Способ осуществляют следующим образом. Предварительно осуществляют сравнение интегральных потоков исследуемого источника 1 и модели черного тела 2 путем попеременного оптического сопряжения излучения каждого из источников с фотоприемником 9 двум оптическим трактам с идентичными характеристиками, причем сопряжение производят с частотой синхронного детектирования и минимизирования выявленной разности указанных потоков путем регулирования выходной мощности блоков 10 и 11, затем осуществляют указанную операцию сравнения монохроматизированных при длине волны потоков, для чего также попеременно с частотой синхронного детектирования оптически сопрягают излучение от каждого из источников со спектрометром 6 по двум оптическим трактам с идентичными оптическими характеристиками, при этом измеряют разностный сигнал R1() от указанных монохроматизированных потоков источника излучения и МЧТ с температурой T1. Далее изменяют температуру МЧТ до значения T2, соответствующего соседней реперной точке температурной шкалы модели черного тела, вновь измеряют разностный сигнал R2() от источника и МЧТ с температурой T2 и с учетом значений указанных разностей сигналов находят значение СПЭЯ источника Lи(), решая следующую систему уравнений: где S - коэффициент преобразования лучистого потока в электрический сигнал оптическим трактом; - зависимость Планка для СПЭЯ МЧТ при температуре Ti; - длина волны. Решение системы для величины Lи() имеет вид Среднеквадратичное отклонение (СКО) S результата измерения величины СПЭЯ из выражения (2) определяется выражением где S2N - СКО спектрометра;
S2мчт - СКО МЧТ. Поскольку разностный сигнал получен как разность сигналов от источника и МЧТ по трактам с идентичными оптическими характеристиками, то все собственные излучения элементов тракта, включая излучение модулятора, вычитаются и на разностный сигнал не влияют. С другой стороны, поскольку вклад в сигнал от рассеянного света определяется главным образом величиной интегрального потока от источника или МЧТ, то выравнивание их приводит к равенству уровней рассеянного света в разных фазах модуляции и, следовательно, к вычитанию их в разностном сигнале. Наконец, при тех же, что и в известных решениях, величинах потока ИК-излучения источника в данном способе необходимо регистрировать значительно меньшие перепады сигнала, поскольку тепловые источники имеют гладкие спектры и выравнивание интегральных потоков приводит к тому, что сравниваемые монохроматизированные потоки являются величинами одного порядка. Поэтому в способе необходим значительно меньший динамический диапазон, что приводит к уменьшению погрешности из-за нелинейности приемно-усилительной системы. Таким образом, в предлагаемом способе уменьшено влияние на результат определения СПЭЯ основных источников погрешности, что повышает точность определения СПЭЯ источников теплового ИК-излучения.


Формула изобретения

Способ определения спектральной плотности энергетической яркости ИК-излучения тепловых источников, заключающийся в сравнении модулированных монохроматизированных потоков излучения от исследуемого источника и модели черного тела (МЧТ) с известной температурой, соответствующей реперной точке температурной шкалы МЧТ, путем синхронного с частотой модуляции детектирования сигналов приемника излучения и определения значения спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) по найденному в результате сравнения отношению, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно осуществляют сравнение потоков исследуемого источника и МЧТ путем попеременного оптического сопряжения излучения источника и МЧТ с интегральным приемником излучения по трактам с идентичными оптическими характеристиками, причем сопряжение производят с указанной частотой синхронного детектирования, уравнивают указанные потоки, затем сравнивают попеременно с частотой синхронного детектирования монохроматизированные при длине волны потоки излучения источника и МЧТ с температурой T1, оптически сопрягаемые со спектрометром по тем же, что и для интегрального приемника, трактам, измеряют сигнал R1(), пропорциональный разности указанных монохроматизированных потоков, измеряют температуру МЧТ до значения T2, соответствующего соседней реперной точке температурной шкалы МЧТ, измеряют сигнал R2(), пропорциональный разности потоков источника и МЧТ, и с учетом значений R1() и R2() находят значение спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) источника Lu() по зависимости

где L(,Ti) = C1[5i(exp C2/Ti-1)]-1 [Вм/стерм3] СПЭЯ МЧТ при температуре T1 по закону Планка;
C1, C2 - первая и вторая постоянные по закону Планка.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения энергетических параметров импульсного лазерjHoro излучения

Изобретение относится к фотометрии сред н может быть использовано при оценке оптических и радиационных свойств материала

Изобретение относится к радиационной пирометрии и может быть использовано в приборостроении и исследовательской практике

Изобретение относится к области технической физики, в частности к измерению геометрических параметров оптического излучеш я

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению энергетических параметров лазерного излучения

Изобретение относится к области пирометрии и может быть использовано для определения коэффициентов излучательной способности и температур тел

Изобретение относится к физике плазмы, а именно к способам измерения электронной температуры плазмы, создаваемой лазерным излучением на мишенях из проводников

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам и устройствам для определения коэффициентов излучательной способности внутренних поверхностей неоднородно нагретой полости, и может быть использовано в металлургической, химической, электронной, авиационной и других отраслях промышленности
Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению, в частности к ИК термографии (или тепловидению)

Пирометр // 2437068
Изобретение относится к технике измерения физической температуры объекта по его тепловому радиоизлучению

Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано в измерительной технике, автоматике и оптической электронике

Изобретение относится к технике измерений, в частности к измерению спектральных характеристик оптического излучения, например ширины спектральной линии лазерного излучения

Изобретение относится к технической физике, в частности к методам измерения временных параметров лазерных импульсов, например, в системах контроля особо точных дальномерных систем
Наверх