Способ отстройки вихретоковых толщиномеров покрытий от влияния радиуса кривизны основания

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины покрытия на основаниях с криволинейной поверхностью. Повышение производительности контроля достигается путем использования шкалы толщиномера для непосредственного отсчета измеряемой толщины покрытия за счет настройки толщиномера. Вихретоковый преобразователь толщиномера устанавливают на образце с заданной кривизной поверхности и минимальной известной толщиной покрытия. С помощью регулировки компенсирующих блоков толщиномера устанавливают на его индикаторе величину, соответствующую минимальной толщине покрытия. Устанавливают вихретоковый преобразователь на образце с заданной кривизной и максимальной толщиной покрытия. Путем регулировки коэффициента усиления измерительного канала устанавливают на индикаторе толщиномера величину, соответствующую максимальной толщине покрытия. После этого толщиномер настроен на измерение толщины покрытия на основаниях с заданной кривизной. 1 з.п. ф-лы.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (su 4 С 01 В 7/06

8) E.ОИгв;;

Щ) „у . .1, Е ..,). „ (ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCKOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

IlQ ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР (21) 4336483/25-28 (22) 02.12.87 (46) 30.06.89. Бюл, М 24 (72) В.И.Негода, В.П.Пряник, А,С. Коваль и М.С.Глядчишина (53) 620.)79.)4 (088.8) (56) Приборы для неразрушающе го контроля материалов и изделий.

Справочник. Под ред. R.Â.Êëþåâà, M.: Машиностроение, 1986, с. 148, Неразрушающий контроль металлов и изделий. Справочник. Под ред.

Г.С.Самойловича. Н,: Нашиностроение, 1976, с. 249. (54) СПОСОБ ОТСТРОЙКИ ВИХРЕТОКОВНХ

ТОЛ)ПИНОМЕРОВ ПОКРЫТИЙ ОТ ВЛИЯНИЯ

РАДИУСА КРИВИЗНЫ ОСНОВАНИЯ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины покрытия на основаниях с криволинейной поверхностью. Повышение производительности контроля достигается путем

Изобретение относится к нераэрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины покрытия на основаниях с криволинейной поверхностью.

Цель изобретения — повышение производительности измерений достигается за счет определения толщины покрытия на криволинейном основании по шкале толщиномера, составленной для плоского основания, Предложенный способ реализуется следулцим образом.

„„SU,, 1490454 А 1 использования шкалы толщиномера для непосредственного отсчета измеряемой толщины покрытия за счет настройки толщиномера. Вихретоковый преобразователь толщиномера устанавливают на образце с заданной кривизной поверхности и минимальной известной толщиной поверхности. С помощью регулировки компенсирующих блоков толщиномера устанавливают на его индикаторе величину, соответствующую минимальной толщине покрытия, Устанавливают вихретоковый преобразователь на образце с заданной кривизной и максимальной толщиной покрытия. Путем регулировки коэффициента усиления измерительного канала устанавливают на индикаторе толщиномера величину, соответствующую максимальной толгжне покрытия, После этого толщиномер настроен на измерение толщины покрытия на основаниях с заданной кривизной. 1 з.п. ф-лы.

Подготавливается контрольный образец с заданной кривизной основания, имеющей минимальную и максимальную толщины покрытия, Если измерению подлежат диэлектрические покрытия, то изменение их толщины может быть получено изменением зазора между вихретоковым преобразователем толщиномера и поверхностью основания. Это удобно при измерениях с вогнутой стороны основания. Вихретоковый преобразователь толщиномера устанавливается на покрытие минимальной толщины

l490454 и с помощью регулирования компенсирующих блоков толщиномера устанавливают на его индикаторе величину, соответствующую минимальной толщине покрытия, Затем размещают вихретоковый преобразователь на покрытии максимальной толщины и путем регулирования коэффициента усиления устанавливают на индикаторе толщиномера величину, соответствующую максимапьной толщине покрытия, После этого толщиномер подготовлен для измерения толщины покрытия на основании с кривизной, равной кривизне использованного при настройке образца.

Достигаемый результат — отстройка от влияния кривизны основания объясняется линейным характером поправки на кривизну к градуировочной характеристиКе толщиномера для плоского основания. Это позволяет интерполировать поправку по двум точкам: для максимальной и минимальной толщин покрытия. 25

Дополнительно производительность контроля может быть увеличена, если требуемая величина поправки в начальной и конечной точках диапазона измерения определяется заранее. Тогда непосредственно перед измерением достаточно использовать плоский образец основания, Методика настройки при этом состоит в следующем. Предварительно проводят совокупность

35 измерений для образцов с различными радиусами кривизны основания и толщинами покрытий. Определяют разности между истинными значениями толщин покрытий и показаниями толщиномера.

Полученные зависимости удобно представить в виде графиков зависимости поправки от радиуса кривизны и толщины покрытия. Затем перед измерением устанавливают вихретоковый преобра45 зователь на плоский образец основания с минимальной толщиной покрытия, определяют требуемую величину поправки для заданных толщины покрытия и радиуса кривизны основания. С помощью регулирования компенсирующих блоков толщиномера изменяют на его индикаторе величину на значение поправки. Аналогичные операции проделывают для максимальной толщины

tloKpHTHH изменяя показания индикатора путем регулирования коэффициента усиления и эмерител ьно го канала, Формула изобретения

1. Способ отстройки вихретоковых толщиномеров покрытий от влияния радиуса кривизны основания, заключающийся в том, что с помощью контрольного образца с заданным радиусом кривизны основания определяют показания толщиномера для совокупности покрытий с известной толщиной, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности измерений, используют два покрытия с минимальной и максимальной толщинами, при взаимодействии толщиномера с образцом, имеющим покрытие минимальной толщины, с помощью регулирования компенсирукидих блоков толщиномера устанавливают на его индикаторе величину, соответствующую минимальной толщине покрытия, а при взаимодействии толц иномера с образцом, имеющим покрытие максимальной толщины, устанавливают на индикаторе толщиномера величину, соответствующую максимальной толщине покрытия, путем регулировки коэффициента усиления измерительного канала толщиномера, 2. Способ по п,), о т л и ч а ю— шийся тем, что предварительно проводят совокупность измерений для образцов с различными радиусами кривизны основания и толщинами покрытий, определяют разности истинных значений толщин покрытий и показаний толщиномера, а регулирование компенсирующих блоков толщиномера и коэффициента усиления измерительного канала в соответствии с радиусом кривизны контролируемоro объекта, максимальной и минимальной толщинами его покрытия выполняют с помощью полученных разностей при взаимодействии толщиномера с образцом, имеющим плоское основание при соответствующей толщине покрытия.

Способ отстройки вихретоковых толщиномеров покрытий от влияния радиуса кривизны основания Способ отстройки вихретоковых толщиномеров покрытий от влияния радиуса кривизны основания 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, например, в автоматизированных системах управления технологическими процессами для контроля толщины листового материала

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения зазоров между вращающимися частями

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения осевого положения ротора, разности тепловых расширений ротора и статора, абсолютных удлинений корпуса турбин электростанций, определения пространственного положения управляющих элементов, в системах очувствления роботов во всех отраслях машиностроения

Изобретение относится к области измерения линейных размеров

Изобретение относится к измери- ,тельной технике и имеет целью расширение диапазона контролируемь:х толщин диэлектрической пленки в процессе ее напыле1шя

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроительной, металлургической , химической и электронной пр01 1птенности

Изобретение относится к средствам электромагнитной толщинометрии и может быть использовано для измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных материалов и изделий

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в машиностроении

Изобретение относится к контрольно-измерительной техн ике

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх